GB T 23842-2009 无机化工产品中硅含量测定通用方法.还原硅钼酸盐分光光度法.pdf
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GB T 23842-2009 无机化工产品中硅含量测定通用方法.还原硅钼酸盐分光光度法.pdf
1、ICS 7 1. 060. 01 G 10 中华人民=H工GB 和国国家标准G/T 23842-2009 无机化工产品中硅含量测定通用方法还原硅铝酸盐分光光度法General method for the determination of silicon content of inorganic chemicals一Reduced molybdosilicate spectrophotometric method CISO 6382 : 1981 , MOD) 2009-05-18发布中华人民共和国国家质量监督检验检夜总局中国国家标准化管理委员会2010-02-01实施发布GB/T 23842
2、-2009 .比.r._._ 刷昌-EBEFKB酷FFE本标准修改采用ISO6382: 1981.1600 mg Na+ 300 mg 阴离子麦丽捂住剂不干扰K+ 250 mg 非离子表面活性剂干扰Fel+ 140 mg p- 40 mg Znl+ 300 mg Cl-600 mg uOaI+ 250 mg VOa- 2.5 mg AlH 70 mg g-600 mg FeH 140 mg PO.I- 15 mg S+ 0.05 mg 加入阴离子表面活性剂可抵消非离子表面活性剂的干扰.例如，加入5mL 5g/L的十二第基确醺销糟穰可抑制试液中存在量高达0.15g以NP10(圭基跚禀氧乙烯醺表示的非离子表面活性剂的干扰.
