QJ 1246-1987 石墨材料和制品的X射线探伤方法.pdf

1、Q.J 中华人民共和国航天工业部部标准QJ1246-87 右墨材料和制晶的x射线探伤方法1987-07-09发布1988-02-01实施中华人民共和国航天工业部批准中华人民共和国航天工业部部标准右墨材料和制品的X射线探伤方法本标准适用于厚度为300mm以下的石I!l材料和制品的无损探伤。1 -但要求QJ1246-87 1. 1 探伤li率、探伤部L及质最评定标准均按产:自技术条件或设计要求进行。1.2 石材料或工忖麦丽须仔细清坷，不应有商密度的粘附物。1.3 石理工件若与其它E件组装，用:在组装前进行探伤。1. 4 探伤评吁人民h:具有时线I级资情证，探伤操作人员应具有E级(最低级)资格证。2

2、 擦伤要求2.1 方法采用高灵敏I!，X射线照相法.2.2 探伤帆芷射线探伤机的性能应满足表l的要求，表1X射线探伤机性能要求透照厚度;7 H:l. n 饵电讪焦点尺寸窗口材料事考型号mm KV mA mm T之60UeOmm800-1000 1000-1200 2.9 胶片处理胶片处理应采用胶Ii厂推荐的眼影液和L:l!影液配方，并按配方规定的温度和时间进行2.10 评片评片用可调强光观片灯，应在光线暗吉克的电闯进行，可用5-10倩放大镜分析耕认细小缺陷.3 QJ1 246-87 3 影.质量底片影象质量应满足以下要求，否则应重新透照23.1 底片黑度范围为1.5-3.0。3.2 透度计灵敏

3、度不低于表5的规定，当透照总厚度(;苦透度计厚度)小于或等于12mm时，可清晰地辨认v.25mm的横孔即口f，表5透度计灵敏度要求透照时i | l i i 121 ( I 20 T 1刊0J 4刊OT运q8mo| 8剧OT白14山40川i140T 正斗2臼50i 肌T ;3凹o皿mI 时伪2.O!:;:;1. 5 I1.0 i ;:;0.90 I O剧IO.90 3.3 底片上不允许有影响质量评定的各种伪缺陷。4 探伤报告及资料保存4.1 探伤报告应包括以下内容.a. 工件名称、材料牌号&.密度、批川、编号、探伤报告单编号及日期，b. 透照厚度和透度计灵敏度，c. 缺陷种类、部位、大小、数量、质贵评定标准号和评定结论，d. 探伤报告的各级(操作、评片、校对和审核)在署应完整。4.2 探伤记录、报告单副页11底片等资料应妥善保存5-10年，以备核查。4 附加说明:本标准由航天工业部七O八所提出.本标准由航天工业部七O三所起草。