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    GB T 5729-2003 电子设备用固定电阻器 第1部分;总规范.pdf

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    GB T 5729-2003 电子设备用固定电阻器 第1部分;总规范.pdf

    1、GB/T 5729-2003/IEC 60115-1 ,2001 . 国目IJ-R 本规范等同采用IEC60115-1(: 400000) ,200(电子设备用固定电阻器第1部分2总规范)(英文版)。固定电阻器系列国家标准的预计结构及其对应的IEC标准由下列规范组成第1部分z总规范(GB/T5729-2003 , IEC 60115-1 , 2001 , IDT) , 第2部分=分规范低功率非线绕固定电阻器(GB/T5730-1985 , idt IEC 60115-2 ,1 982) , 空白详细规范低功率非线绕固定电阻器评定水平E(GB/T5731-1985 , idt IEC 60115

    2、-2-1 ,1 982) , 空白详细规范低功率非线绕固定电阻器评定水平F(GB/T 17034-1997 , idt IEC 60115-2-2 ,1 992) , 第4部分分规范功率型固定电阻器(GB/T5732-1985 , idt IEC 60115-4 ,1 982) , 空白详细规范功率型固定电阻器评定水平E(GB/T 5733-1985 , idt IEC 60115-4-1 ,1 983) , 空白详细规范功率型固定电阻器评定水平F(GB/T 15885-1995 , idt IEC 60115-4-2 ,1992) , 空白详细规范带散热器的功率型固定电阻器评定水平H(GB/

    3、T17035-1997 , idt IEC 60115-4-3 ,1 993) , 第5部分z分规范精密固定电阻器(GB/T5734-1985/IEC 60115-5 , 1982) , 空白详细规范精密固定电阻器评定水平E(GB/T5735-1985 , idt IEC 60115 5-1, 1983) , 空白详细规范精密固定电阻器评定水平F(GB/T15884-1995 , idt IEC 60115 5-2 ,1992) , 第6部分分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络(GB/T7338-1996 , idt IEC 60115 6 ,1 987) , 空白详细规范阻值和功耗相同,各

    4、电阻器可单独测量的固定电阻网络评定水平E(GB/T 7339一1987, idt IEC 60115-6-1 ,1983) , 空白详细规范阻值和功耗不同,各电阻器可单独测量的固定电阻网络评定水平E(GB/T 7340 1987 ,idt IEC 60115-6-2 ,1 983) , 一一第7部分z分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(GB/T12276-1990, idt IEC 60115-7,1984) , 空白详细规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平ECGB/T12277一1990,eqv IEC 60115-7-1 ,1984) , 一第8部分分规范片式固定电阻器(G

    5、B/T9546 1995 , idt IEC 60115-8 , 1989) , 空白详细规范片式固定电阻器评定水平E(GB/T9547-1994 , idt IEC 60115 8-1, 1989) , -一一第9部分z分规范各电阻器可单独测量的表面安装固定电阻网络g空白详细规范各电阻器可单独测量的表面安装固定电阻网络评定水平EZ。本规范与GB/T5729-1994相比,主要变化如下:规范性引用文件中更多地引用了相应的国家标准g定义中增加了额定温度、电阻电压系数和表面安装电阻器;皿GB/T 5729-2003/IEC 60115-1 :2001 H 一一标志内容中增加了电阻温度系数一一质量评

    6、定程序中增加了能力批准程序、返工和返修等内容s试验和自由l量程序中对表面安装电阻器的绝缘电阻和耐电压试验夹具、可焊性试验和耐焊接热试验等试验内容进行了更改;一一试验和测量程序中寒冷、干热分别改为低温和高温;试验和测量程序中的标准大气条件的相对湿度由45%-75%改为25%.75%;增加了附录D的内容。为便于使用,本规范作了如下编辑性修改z一-删除了IEC60115-1: 2001的前言,本标准一词改为本规范。本规范的附录A、附录B和附录D是规范性附录;附录C是资料性附录。本规范由中华人民共和国信息产业部提出。本规范由全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会归口。本规范起草单位z中国电子技术标准化

    7、研究所(CESD。本规范主要起草人:彭伟、陈兵惠。本规范所代替规范的历次版本发布情况为2一-GB/T5729-1985(电子设备用固定电阻器第1部分总规范h一-GB/T5729-1994(电子设备用固定电阻器第1部分z总规范。GB/T 5729-2003/IEC 60115-1 ,2001 电子设备用固定电阻器第1部分:总规范1 总则1.1 范围本规范适用于电子设备用固定电阻器。本规范规定了适用于电子元器件质量评定或其他用途的分规范及详细规范中使用的标准术语、检验程序和试验方法。1. 2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单

    8、(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本规范,然而,鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本规范。注IEC60068采用指定版本。GB/T 2421一1999电工电子产品环境试验第1部分=总贝U(idt IEC 60068-1 ,1 988) GB/T 2423. 1-2001 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验A,低温。dtIEC 60068-2-1 ,1990) GB/T 2423. 2-2001 电工电子产品环境试验第2部分.试验方法试验B,高温(油IEC60068-2-2 ,1974) GB/T 2423. 3一19

    9、93电工电子产品基本环境试验规程试验Ca恒定湿热试验方法(eqvIEC 60068-2-3 ,1984) GB/T 2423. 4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db,交变湿热试验方法(eqvIEC 60068-2-30 ,1980) GB/T 2423. 5-1995 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Ea和导则z冲击(idtIEC 60068 2 27 ,1 987) GB/T 2423. 6-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Eb和导则=碰撞(idtIEC 60068-2-29 ,1 987) GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验

    10、第2部分=试验方法试验N,温度变化(IEC60068-2-14 ,1984. !DTl GB/T 2423. 29-1999 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验U,引出端及整体安装件强度(idtIEC 60068-2-21 ,1992) GB/T 2423. 30-1999 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验XA和导则在清洗剂中浸渍(idtIEC 60068-2-45 ,1993) GB/T 2471 1995 电阻器和电容器优先数系。dtIEC 60063 , 1963) GB/T 2691-1994 电阻器和电容器的标志代码。dtIEC 60062 ,1 992) GB/T

    11、 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量(idtIEC 60294 ,1 969) GB/T 7016 1986 固定电阻器电流噪声测量方法。dtIEC 60195 ,1 965) GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法(idtIEC 60440 ,1 973) IEC 60027(所有部分)电工技术用文字符号IEC 60050(所有部分)国际电工技术词汇(IEV)G/T 5729-2003/IEC 60115-1 ,2001 IEC 60060-1 .1 989 高压试验技术第1部分般定义和试验要求IEC 60060-2,1994高压试验技术第2部分z测量体

    12、系IEC 60068-2-6 ,1995 电子电工产品环境试验第2部分试验方法试验Fc,振动(正弦)IEC 60068-2-20 .1 979 电子电工产品环境试验第2部分2试验方法试验T,锡焊第1次修改单(1987)IEC 60068-2-21 ,1983 电子电工产品基本环境试验第2部分z试验方法试验M,低气压IEC 60068-2-58 .1 989 电子电工产品环境试验第2部分:试验方法试验Td,可焊性,金属化层耐熔性及表面安装元器件。MD)耐焊接热IEC 60249-2-4 .1 987 印制电路用材料第2部分规范第4章:通用的环氧玻璃纤维覆铜层压板IEC 60410 ,1 973

    13、计数检查拍样方案和程序IEC QC 001002-3 , 1998 IEC电子元器件质量评定体系(ECQ)程序规则第3部分g批准程序IEC QC 001003 .1 998 lEC电子元器件质量评定体系(ECQ)导则文件lEC QC 001005 ,1 998 按IECQ体系(包括IS09000)批准的制造商、产品及服务的注册表IS0 1000 ,1 992 国际单位制及其倍数单位和某些其他单位用法的建议2 技术信息2.1 单位和符号本规范采用下列定义。此外,单位、图形符号、文字符号和术语应尽可能从下列标准中选取zIEC 60027, IEC 60050, 一二IS01000 需要更多的项目时

    14、,应按上述文件的原则导出。2.2 定义本规范采用下列定义。2.2.1 型号type 具有相似的设计特征和制造工艺,在鉴定批准或质量一致性检验中可以将它们组合在一起的-组电子元件。这些元件通常用一个单独的详细规范来覆盖。注1,在某些情况下,儿个详细规范中的元件可以认为是属于同一型号的;因此,可以将它们组合在一起,以便进行质量评定。注2只要安装配件对试验结果无太大影响,则可忽略安装配件。注3额定值包括下列组合.电气额定值3尺寸s环境类别。额定值的范围应在详细规范中规定。2.2.2 晶种style 通常根据尺寸因素对某型号元件的再划分。个品种可以包括几个派生品种,通常是机械方面的。2.2.3 等级g

    15、rade 根据预定用途所表示的一般特性的附加术语,例如,长寿命用。GB/T 5729-2003/IEC 60115-1 ,2001 等级这个术语只能与一个或几个词组合起来使用(如长寿命用).而不能单独用字母或数字来表示。加在等级这个术语后面的数字应是阿拉伯数字。2.2.4 门类(电子元器件的)family(of electronic components) 突出地表现某一特定的物理特性和(或)完成某一规定功能的组电子元件。2.2.5 分门类(电子元器件的)subfamily(of electronic components) 在一个门类内用相似的工艺方法制造的一组电子元件。2.2.6 标称阻值

    16、rated resstance 电阻器设计所确定的、通常在电阻器上标出的阻值。2.2.7 l民界阻值critcal resistance 额定电压等于元件极限电压时的阻值(见2.2.15和2.2.16)。注.在70C的环境温度下,允许加在电阻器两个引出端上的最大电压,当阻值小于临界阻值时是计算出的额定电压,当阻值大于或等于临界阻值时则是元件极限电压.当温度不是70C时,计算施加的电压应考虑降功起曲线和元件极限电压,2.2.8 类别温度范围category temperature range 电阻器设计所确定的能够连续工作的环境温度范围,该范围取决于它的相应类别的温度极限值。2.2.9 上限类别

    17、温度upper category temperature 电阻器设计所确定的、用类别功耗标出的那部分额定功耗下能够连续工作的最高环境温度。2.2.10 下限类别温度lower category temperature 电阻器设计所确定的能够连续工作的最低环境温度,2.2.11 表面最高温度maximum surface temperature 当电阻器在70.C环境温度和额定功耗下连续工作日才,该型号中任何一个电阻器的表面所允许的最高温度。2.2.12 额定温度rated temperature 在该温度的耐久性试验条件下,可连续施加额定功耗的最高环境温度。除非详细规范另有规定,额定温度为70

    18、.C。2.2.13 额定功耗rated dissipation 在70.C环境温度下进行70.C耐久性试验.而且阻值变化不超过该试验的允许值时所允许的最大功耗。2.2.14 类别功耗category dissipation 考虑到详细规范规定的降功耗曲线,由详细规范明确规定的在上限类别温度下施加的那一小部分额定功耗。注:类别功耗可以为零。GB/T 5729-2003/IEC 60115-1 : 200 1 2.2.15 额定电压(UN或U.)rated voltage 用标称阻值和额定功耗乘积的平方根计算出来的直流电压或交流电压有效值。注.由于电阻器的尺寸和结构上的原因,在高阻值时不允许施加额

    19、定电压(见2.2.16)。2.2.16 元件怨限电压Iimiting element voltage 可以连续施加在电阻器两个引出端上的最大直流电压或交流电压有效值(元件极限电压通常取决于电阻器的尺寸和制造工艺)。本规范使用交流电压有效值这个术语时,峰值电压不超过其电压有效值的1.42倍。注,当阻值大于或等于临界阻值时,只对电阻器施加元件极限电压。2.2.17 绝缘电压(仅适用于绝缘型电阻器)insulation voltage 在连续工作的条件下,在电阻器的各个引出端与任何导电安装面之间可以施加的最大峰值电压。2.2.18 绝缘型电阻器insulated r四istor是一种满足耐电压和绝缘

    20、电阻测试要求的、且安装在金属板上进行稳态湿热试验时加有极化电压的电阻器。2.2.19 绝缘电阻insulation resistance 在考虑中。2.2.20 阻值随温度变化variation of resistance with temperature 阻值随温度变化按照下述定义可以表示为电阻温度特性或电阻温度系数。2.2.20.1 电阻温度特性temperature characteristic of r田istance相对于基准温度20C,在类别温度之间规定的温度范围内产生的阻值最大可逆变化。2.2.20.2 电阻温度系数temperature coefficient of resis

    21、tance 两个规定温度之间的阻值相对变化除以产生这个变化的温度之差。注:应该说明,采用该术语并不意味着这个函数的线性程度如何,也不作任何假设.2.2.21 电阻电压系戴voltage coefficient of resistance 施加电压而产生的阻值可逆变化,用每施加一伏电压阻值变化的百分数表示。2.2.22 可见损伤visible damage 对于电阻器的预定用途来说,降低了其使用性的可看得见的损伤。2.2.23 表面安装电阻器surface mount resistor 是一种尺寸小、引出端形状和特征适用于混合电路和印制电路板的固定电阻器。2.2.24 带散热榻的电阻器heat-

    22、sink resistor 是一种设计成安装在独立散热器上的电阻器。GB/T 5729-2003/IEC 60115-1 : 200 1 2.2.25 额定功耗(仅对带散热器的电阻器)rated dissipation 对于带散热器的电阻器,在25C环境温度下当安装在标准散热器上进行室温耐久性试验引起的阻值变化不大于该项耐久性试验规定值时所允许的最大功耗。2.2.26 元件最高温度maximum element temperature 在允许工作的任一条件下,电阻器表面或其内部任一点上的最高温度。2.3 优先值2.3.1 概述每个分规范应规定适用于该分门类的优先值,对于标称阻值还应见2.3.2

    23、,2.3.2 标称阻值的优先值标称阻值的优先值应从GB/T2471-1995规定的数系中选取。2.4标志2.4.1 概述2.4. 1. 1 标志中给出的内容通常从下述项目中选取,每项的相对重要性由它在项目顺序中的位置来表示:a) 标称阻值gb) 标称阻值允许偏差gc) 电阻温度系数(适用时),d) 制造年、月(或周),e) 详细规范号和品种标记;f) 制造厂的名称或商标。2. 4. 1. 2 电阻器上应清楚地标出2.4.1.1中a)和b),并应尽量标出其余各项。电阻器上的标志内容应避免重复。2.4. 1. 3 电阻器的包装件上应清楚地标出2.4. 1. 1全部内容。2.4. 1. 4 增加任何

    24、标志应不致引起混淆。2.5 代码当阻值、允许偏差或制造日期采用代码时,其方法应从GB/T2691一1994中选取。3 质量评定程序3.1 概述当本规范和相关规范用于完整的质量评定体系时,如IEC电子元器件质量评定体系(IECQ),应遵守3.5和3.6的要求。当本规范和相关规范不用于IECQ这类质量评定体系时,如设计验证或定型试验时,可以采用3.5.1和3.5.3切的程序和要求,但各项试验和试验的各个部分应按试验一览表给出的顺序进行。在电阻器能按本条程序鉴定之前,制造厂应按IECQC 001002-3的规定获得鉴定机构批准。对电阻器质量评定的批准可采用两种方法,一种是按IECQC 001002-

    25、3的第3章进行鉴定批准;一种是按IECQC 001002-3的第4章进行能力批准。对于电阻器的一个分门类,鉴定批准和能力批准必须有独立的分规范,并且,只有已经颁布了有关分规范时才能使用能力批准。3. 1. 1 鉴定批准的范围鉴定批准适用于同一详细规范中采用相似设计和工艺制造的一个规定范围的电阻器。按3.5和相关分规范规定,详细规范针对相应的评定水平和性能水平规定的试验程序直接用于被鉴定的电阻器。GB/T 5729一2003/IEC60115-1 :2001 3. 1. 2 能力批准的鉴定范围能力批准适用于基于同一设计规则,采用同一工艺制造的电阻器。当按用户:制的要求生产电阻器时,能力批准特别适

    26、用在能力批准条件下,详细规范应分为下列三类。3. 1. 2. 1 能力鉴定元器件(CQCs),包括过程确认的试验装置国家监督检查机构(NIS)认可的每个能力批准元器件应编制-份详细规范。详细规范应规定CQC的用途,并包括所有的相关试验严酷等级和范围。3. 1. 2. 2 标准目录元器件当制造厂要求按能力批准程序获得批准的电阻器列入lECQ注册目录时,应编写与空白详细规范相一致的能力批准详细规范。这种规范应由IECQ注册,且电阻器应列入IECQC 001005中。3.1.2.3 用户定制元器件详细规范(一般称为定制详细规范(CDS)的内容应按IECQC 0010023中4.4.3规定,由制造厂与

    27、用户协商。详细规范中较详细内容由相关分规范给出。能力批准是在确认设计规范、工艺和质量控制程序、以及能力批准元器件的试验结果,包括所有过程确认的试验装置的基础上,对制造设施绘予批准。详细内容见3.5和相关分规范。3.2 初始制造阶段对于固定电阻器的规范而言,初始制造阶段是:一一膜型电阻器z在基体上淀积电阻膜3一碳合成型电阻器:粘合剂在聚合过程中产生最大变化的工序;线绕型电阻器z电阻线(或带)在骨架上的绕ffiiJ;一二金属销电阻器:电阻1在基体上的固定。3.3 分承包如果初始制造阶段和(或)后续阶段是采用分承包方式,则应符合lECQC 001002-3中4.2.2的规定。分规范可按lECQC 0

    28、01002-3中4.2.2.2要求限制分承包。3.4 结构类似元件对于鉴定批准或能力批准的鉴定批准试验或质量一致性检验的结构相似元器件的分组,应在相关分规范中规定。3.5 鉴定批准程序3.5.1 鉴定批准的资格制造厂应符合IECQC 001002-3的3.1.1的要求。3.5.2 鉴定批准的申请制造厂应执行lECQC 001002-3的3.1.3的规定。3.5.3 鉴定批准的试验程序应采用下列两种程序中的一种za) 制造厂应在尽可能短的时间内进行三个批次的逐批检验和一个批次的周期检验,以证实符合规范的要求。在组成检验批的周期之内,制造工艺应无重大改变。样本应按IEC50410的规定从批中抽取(

    29、见附录A)。样本中应包括该批中具有代表性的最高阻值和最低阻值及临界阻值(当临界阻值处于最高值和最低值之间时)的样本单位。最低值和最高值的选取GB/T 5729-2003/IEC 60115-1 ,2001 决定了授予鉴定批准的阻值范围。应使用正常检查,但当样本大小是按零个不合格品予以接收,应增加样本单位以满足一个不合格品予以接收所需要的样本大小。b) 制造厂应按分规范中给出的固定样本大小试验一览表进行试验,以证实符合规范要求。构成样本的样本单位应从现行生产的产品中随机抽取或按NSI批准的方式抽取。3.5.4 鉴定批准的授予当IECQC 001002-3的3.1. 4的程序已圆满完成时,应授予鉴

    30、定批准。3.5.5 鉴定批准的维持应用质量一致性(见3.5.6)的常规试验来维持鉴定批准。3.5.6 质量一敖性检验与分规范相关的空白详细规范应规定质量一致性检验的试验一览表。此表应规定逐批和周期检验的分组、抽样和周期。除耐久性试验之外,在C组检验的所有分组中,允许采用转换程序以减少C组检验的频度。若需要,可规定多个一览表。3.6 能力批准程序3.6.1 概述固定电阻器技术的能力批准包括2完整的设计、材料制备和制造技术(包括控制程序和检验h一一-对过程和产品所阐明的性能范围,也就是对能力鉴定元器件(CQCs)和过程控制参数(PCPs)的性能范围;获得批准的机械结构范围。3.6.2 能力批准的资

    31、格制造厂应符合IECQC 001002-3的4.2.1的要求。3.6.3 能力批准的申请制造厂应执行IECQC 001002-3的4.2.4及相关分规范的要求。3.6.4 能力描述应按IECQC 001002-3的4.2.5的能力手册及相关分规范的要求描述能力。NSI应将能力手册视为保密文件。制造厂若愿意,可以对第三方公开手册的部分或全部内容。3.6.5 能力证实和验证为证实和验证能力,制造厂应按IECQC 001002-3的4.2.6及相关分规范的要求,以及下列细则进行。3.6.5.1 证实能力用的CQCs根据能力手册规定的需证实的能力范围,制造厂与NSI应协商过程控制参数和能力鉴定元件的范

    32、围。通过试验来证实按照能力手册设计、生产和过程控制参数所确定CQCs的范围。CQCs应满足下列要求:a) 采用的CQCs的范围应代表申请能力的全范围,所选择的CQCs应能证实各种获取范围的组合。b) CQCs应属下列情况一种.按证实的能力范围组合而特殊设计的电阻器;采用常规生产设计的电阻器;一一上述两种情况组合,但应满足a)的要求。当专门为能力批准设计和生产CQCs时,制造厂应采用与放行产品相同的设计规范、材料和生产工艺。应对每一CQC制定一份详细规范,并应按附录D的格式进行编写。详细规范应表明CQC的目的,并应包括所有相关严酷等级和试验范围,这些可参照内部控制文件。内部控制文件所规定的生产试

    33、GB/T 5729-2003/IEC 60115-1 ,2001 验和记录用以证实对过程的控制和维持及能力的范围。3.6.5.2 能力范围相关分规范中应规定能力范围。3.6.6 能力批准的程序按IECQC 001002-3的4.2.6的规定,制造厂应对申请能力的评定编写一份程序,该程序的设计应使得用一个相关的CQC来验证每一申请能力范围。程序应包括下列内容3表明批准活动的计划时间表的直方图或其他方式g一一所有CQCs参照其各自详细规范所采用的细节;一由每一CQC证实的直方图所示的特性g一一涉及到对工艺控制所采用的控制方案。3.6.7 能力批准的试验报告按照IECQC 001002-3的4.2.6.3的规定,能力报告应为正式出版物。报告应符合本规范的要求并应包括下列内容:能力手册的版本号和日期;一一按3.6.6规定的能力批准的程序;一一在执行程序期间获得的所有试验结果;一一一采用的试验方法;失效(见3.6.10.1)时采取措施的报告。报告应由指定的管理者代表U;O.l固C.2脉冲波形允许偏差36 GB/T 5729-2003/IEC 60115-1.2001 附录D(规范性附录过程控制参擞(PCP)规范/能力鉴定元樱件(CQC)规范曾页格式制造厂名称地址能力批准号PCP/CQC规范号版本能力手册号日期PCP/CQC的说明PCP/CQC的目的图号零件号


    注意事项

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