GB T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法.pdf
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GB T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法.pdf
1、-中华人民共和家标准一陶JC Test methods for proper ties of structure ceramlc used in electronic components Test method for mean coefficient of linear expansion UDC 621.315.612 :621.382 /.387: 620.1 GB 5594.3 85 本标准适用于测量室温至800.C各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。1 定义在指定温度范围内，陶瓷在单位温度下相对伸长量的平均值叫平均线膨胀系数。A L = . . . . . . . . .
2、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ( 1 ) T xLo 式中:L T Lo 2测试设备平均线膨胀系数，-13温度的伸长量，mm , 室温至所测温度的温度差，.C , 试样在室温下的长度，mm。2. 1 线膨胀系数测试仪，具有:t0.15 x 10-6 /C的精确度。2.2通用热电偶，具有:t1 .C的精确度。热端应放在试样中部，冷端应放在保温瓶中。S试样制备3. 1 根据膨胀仪的类型，确定两种试样尺寸，见GB5593 85 (电子元器件结构陶在材料。3.2试样不应有影响测试结果的缺陷，如裂纹、挠曲和气孔亏。4测试方法4. 1 用精确
3、度为0.05mm的卡尺测量i式样长度Lo。4.2试样装人石英套管中，应保持平直和稳定，并和石英传递杆接触良好。4.3接通电源，加热并均匀升温。直径3.5 :t O.lmm的试样升温速度不大于5.C/min;7 :t 1mm的i式样升温速度不大于3.C/min。4.4记录各点温度和伸长值L，直至测试到所需温度为止。4.5测量结果按下列公式计算f直式中zLOL =KL XAT+石英试样在室温下的长度，mm , 标准局1985-11-27发布( 2 ) 1986-12-01实GB 5594.3 85 一一平均线膨胀系数，-IS.L一一室泪军所濒iI温度试样的伸长量，mm; .T一一窒泪军)iJf泪iI温度的温度差，OC; K一一测量系统的放大倍数;石英一一石英玻璃的平均线脏胀系数，一般取0.54X 10-6 ;OC。5结果评定系数以10-6rc数量级表示，报告数据准确到小数点后两位。试样平行误差不大于0.1x 1O-6/0C，最后结果为两个试样的平附加说明:本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由电子工业部12研究所负责起平。本标准主要起草人李蓝瑞。
