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    JJG 44-1986 测微仪检定器试行检定规程.pdf

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    JJG 44-1986 测微仪检定器试行检定规程.pdf

    1、中华人民共和国家计量检寇规程仪检定器JJG 44-86 试行国家计量局北京、微仪Verification ReguJation of Cabrator for Minimeter .呻呻呻呻啼啼啼呻、t im44-SB Y L J 本检定规程经国家计量局于1986年12月15日批准,并自1987年10:j1日起施行.归口单位军四川省标准计量局但草单位s暴龙江省计量检测试所本规程技术条文EI1起草单位负责解释.本规程主要起草人,未海毒t(黑龙江省计量检定测试旦时叫一一一一-一一-四五自录概述. . . . (1) 技术要求.检定项目和检定条件. . . (3 ) 检定方法.0. (3) 检定结果

    2、纯理和检定周期. .,. .,. .(7) 第1页共8页JlG 44-M 本规程1琶用于新制造、使用中和修理后的分度值为0.OOIm,测量范因为:t0;1mm的测微仪检定器的检定.述概 测微仪检定器主要用于捡定分度值为0.001mm,示值范围不大于士0.1mm的各种测微仪(扭簧比较仪、杠杆齿轮式测微表、测微计等的示值误差和回程误差.它是借助于螺旋副一杠杆的传动,将螺梓的角位移转变为测杆的直线位移的一种高猪皮机械式仪祷。其传动原理如图1所示., 一古二、才/ 图11一微分鼓轮;2.-微分螺杆,3-螺母,4-杠籽,5 杠杆支点,6 平行片策,7-测抨,8-被检测微表技术要求由-A诅1 外观1 1测

    3、微仪检定糠的各部位不应有碰伤、锈蚀、划痕和涂层脱落等缺陷e微分头上的刻线应清晰、平直和均匀.1.2测微仪检定器上应标有制造厂名(或厂标)、出厂编号、分度值和测量范围.1.3使用中和修理后的测微仪检Jl不允许有影响使用准确庭的;飞共8m在2页jjG 44町-86外)!ll缺陷.2 各部分的相互作用2,1微分鼓轮的转动必须匀滑平稳,不应有阻滞和手感配合松弛现象.2,2狈l杆的升降应自如,不得有摩擦和晃动现象.2.3臂架的。28田n或8mm孔,应易于装夹训l微表,紧固螺丝的作用必须切实可靠.3 微分头的固定套管纵刻线和鼓轮上的刻线宽度应为0.150,20mm,各刻线宽度差应不大于0,03mm, 4

    4、当微分鼓轮上的零刻线与固定套管的纵刻线对准时,鼓轮锥部的端困与固定套管上相应的横刻线的距离,允许压线不大于5个分度,离线不大于10个分皮.5 微分头的固定套管刻线表面至微分或轮锥部棱边外边缘的B离应不太于0.4皿毡,如图2所示.a 2 6 测杆测量面的平面度应不大于0,3阳(不允许凹边缘。.2mm范网内允许有塌边a7 测杆受lN轴向力肘,其位置的变化不应超过0.02m,8 测微仪检定器在工作行程内任意一点的回程误差不应大于0.1m, 9 测微仪陇定器在工作行程内任意点对军事点的示值误差不应大于士0,1m.jJG 44-88 共8页第3页三检定项目和检定条件10 测徽仪检定器的检定项目和主要检定

    5、工具列于表1.襄1 检定类别序惶|使检定项目主要检定工具新号制理用造i后中1 外观+ + + 各部舟的相互作用+ i + + s 到线宽度及刻线宽度差工具显微镜+ 做卦鼓轮锥部端面与固定4伊+ + 套管横刻线的匮离固定套管刻线表面歪微分工具显微镜或塞尺+ + - 鼓轮维部楼边外边缘的距离6 测量面的平面度二级平面卒品十+ + 7 测杆受力时的位置变化接触式干涉仪、加力工具+ + + 8 目程提差接触式干涉仪+ + + 示值误差接触式干曲仪、专用工作+ + + 吉、二等量捺撞s表中+麦示应检定J_表示可不检定.11 检定测微仪检定器的室内温度应在20土5C范围内,温度的变化每小时不超过O.5C.

    6、12 受检仪器在t&定室内平衡混度的时间应不少于24h,标准器具在检寇室内平衡温皮的时间应不少于6h. 13 外观目力观察.凶检定方法共8页第4页14 各部分相互作用试验与日力观察.15 刻线宽度及刻线宽度差JJG 44-8S 在主具!ir.微撞上进行检定.应在微分鼓轮E军少选取主条刻线和固定套管上的纵身l线来检寇,16 微分鼓轮锥部端困与固定套管上楼刻线的距离转动微分鼓轮,当鼓轮上的零刻线与固定套管上的纵刻线重合时,鼓轮锥部的端面应与固定套管上横刻线的上边缘相切.如不相切时转动极分鼓轮.使其相切.从鼓轮I二读出其零刻线相对于固定套管上纵刻线创偏移量.比偏移量即为离线或底线的数值.如图3Jj厅

    7、示.(a)离钱a个分度(b) j五线2个分.1l!:图317 固定套管刻线表面至微分鼓轮锥部棱边外边缘的距离在工具显微镜上检定.也可以用。.4Iiltn的皇军尺紧靠在固定套管刻线表丽上以比较法检定.用比较法检定时微分鼓轮锥部棱边的抖边缘不应高于塞尺表团.这一检定应在微分鼓轮转动的任意一圈内不少于三个位置上进行.18 ff!tl杆测量丽的平面度用三级平品以技术光波干涉法进行检定.19 测杆受力时的位置变化将接触式干涉仪安装在测微仪检定器的128四卫臂架孔内,使干涉仪的球面测l阳与测抨平面相接触,并使黑色干涉带对在某一刻度上.对测微仪检定器均测杆力n1 N的轴l司力,按自虫式干涉仪示值的变号-.T

    8、JG 44 86 共8页第5页化步即为被检仪器测杆的位置变化.这一检定应分别在微分载轮的-0,1mm、以+O.lmm三个位置上进行.20 回程误差用接触式干涉仪进行检定.将装有球形测帽的接触式干涉仪装夹在测微仪检定器的128 mm 的臂衷孔内,并使球商测帽的测量头与受检仪器的测杆测量而相接触.转动微分鼓轮,使干涉仪的黑色干涉带由负向正(或由亚向负)方向移动鸣当移到某4位置时,从微分鼓轮上读得一数19继续按原方向转动微分鼓轮,当黑色干涉带移动了50至60格时,反方向地旋转微分鼓轮,使黑色干涉带回到第一次读数时的位置,此时,再次从微分鼓轮上读数得a,.两次读数之差值,即为仪器该点的回程误差.此项检

    9、定至少应在+0.1mm、0、-0.1mm三点上进行,以读数差值最大的一点作为该仪器的回程误差.21 示值误差用接触式干涉仪和二等量块以配对法(配三对)进行检定.检定前把专用的球珠工作台(见图4)安装在测杆上,将装有球形测帽的接触式干涉仪装夹在测微仪检定器的式中II:L. r,一用各对量块检定时,受检点读得值与该点标称徨之代数差的总和(m),Ll.L,-一第一对中用来对零位用的量块尺寸偏差(11m),L.L佛一一最后一块量块的只寸俯差m),n.一一每一组所用量块的块数.注2拥1微叹检定器的做升鼓轮按顺时纤方向旋转为iE值方向,皮之舟负值方向.例如检定一台测微仪检定器的+0.1 mm点的示信误差,

    10、所使用的景块尺寸为1、1.10、L70和1.30mm 检定+O 1 mm点时,用1.30mm最块(尺寸俯差为一队的m)第7页共8页JJG 44 88 对准零位(使干涉仪与受检仪器的微分鼓轮同时为零)用1.20mm最块检定受检点的示值,转动微分鼓轮使干涉仪对零,从微分鼓轮上读得该点与其标称值的差镜为-0.25m;再用1.20mm量块对准零位,用1.10mm量块检定受检点的示倍,读得该点与其标称值的差值为+0.1m,然后用1.10mm量块对准零位,用lmm量块(尺寸偏差为+0,01!Ull)捡定受检点的示值,读得该点与其标称值的差值为-0.05m,则+0,1mm点的示倍误差为g。-E(-0.25)

    11、+ (+0,1)+ (-0.05)-(-0.02)-( +0.01)+(I.llUlIl. -2 - -0.06 (m) 在检定-0.1mm点时,用1mm量块尺寸偏差为+0.01 11m) 对准零位使干涉仪与受检仪器的微分鼓轮同时为零),用1.10mm量块检定受检点的示值,转动微分鼓轮使干涉仪对零,从微分鼓轮上读得该点与其标称值的差值为-0.1 叫再用1.10 mm 量块对准零位,用1,20mm量块检定受检点的示值,i卖得该点与其标称值的差值为-0,08阳,然后用1,20mm量块对准零位,用1.30mm量块(尺寸偏差为一0,02闷。检定受检点的示值,读得该点与其标称值的差值为自0.05m,1U

    12、-O.lmm点的示值误差为s。也Imm:a:旦兰兰i土豆巴些坐土立生豆豆)- ( +0.01) - (-0.02) 町-4-1 -0.23) - ( + 0.03) 3 E -0.09 (m) 检定结果处理和检定周期五22 经检定b符合本规程各项要求的测微仪检定器填发检定证书,不符合本规程要求的发给检定结果通知书翘共8页第吕京lJG44-8G 23 测微仪检定器的检定周期,可根据具体的使用情况而寇,般不应超过一年.附加说明s本检寇规程由国家计量检定规程审寇委员会长度专业委员会带寇.中华人民笑和回国家计量检定规程到微仪检定器IJG44-S6 f试行国家计量局愤布. 中回计量出版班出版贺和军里山区7号中国it量出破性印刷广印刷新华书店北京发行所发行开本850X 1168/32 1987年9月第1版印数1-15。4海m印骤。375字数干茸1981年9月第1我印刷统-书号15210-805标准新书目:07S-044(1)


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