GB T 7508-1987 半导体集成微型计算机电路cμ6821型外围接口转接器功能验证方法.pdf

1、中华人民共和国国家标准半导体集成微型计算机电路CJl6821型外围接口转接器功能验证方法Metbod of functlon verlflcatlon of CII回到perlpheralInterface adapter for semiconductor Integrated clrcult mlcrocomputer UDC 62 1. 38 .049.714 GB 7508-87 本标准规定了半导体集成微型计算机电路C附821型外围接口转接器(以下简称器件)功能验证的方法。1 总的要求1. 1 若无特殊说明，验证期间，电源电压应在规定值的:t1 %以内。1. 2 若无特殊说明，被验器件

2、的环境温度应在规定值的士2C以内。1. 3 计算机辅助测试系统应满足下列基本要求ta. 工作频率不低于10MHz，b. 可测的器件引出端数等于或大于40个，c. 驱动器电平等于或大于士5V，d. 比较器电平等于或大于士SV，e. 时钟相数多于6相$f. 选通等于或多于2个Fg. 数据缓存容量等于或大于2K位。2 应规定的条件验证期间，下列条件应符合器件详细规范的规定za. 环境温度zb. 电源电压的数值及顺序，c. 基本的输入时序关系Fd. 输人电平数值，e. 输人向量模式，f. 其它引出端的条件，g. 基本的输出时序关系。S 验证步骤3. 1 在规定的环境温度下，将被验器件接人测试系统中。国

3、家标准局1987- 03 -25发布1987-11-01试行3.2 GB 7508-87 (起始)检测复位(RESET)功能检测控制寄存器A(CRA)读写功能检测数据方向寄存器A(DDRA)读写功能检测输出寄存器A(ORA)读写功能检测如A(po川崎告人础数据传输功能1检测控制寄存器B(CRB)读写功能1 检测数据方向寄存器B(DDRB)读写功能l 检测输出寄存器B(0酌读写功能寸检测端口B(port B)的输入/输出数据传输功能检测CA.，CA2作输入时的中断功能检测CB.，CB2作输入时的中断功能检测6CAz作输出时的信号交换方式检测CA2作输出时的脉冲选通方式检测CA2作输出时的程序控制方式附加说明EGB 7508-87 检测叫作输出时的信号交换方式检测CB2作输出时的脉冲选通方式检测CB2作输出时的程序控制方式检测CACB，打扰检测端口A作输入，端口B作输出时的数据传输打扰检测CA，作输入，CB2作输出时的打扰检测非片送打扰(结束)本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会微机工作组起草。