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    IEC 60477-2-1979 Laboratory resistors Part 2 Laboratory a c resistors《实验室用电阻器 第2部分 实验室用交流电阻器》.pdf

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    IEC 60477-2-1979 Laboratory resistors Part 2 Laboratory a c resistors《实验室用电阻器 第2部分 实验室用交流电阻器》.pdf

    1、t STD-IEC b0477-2-ENGL 1979 4844893 Obb2433 459 NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD Amendement 1 CE1 IEC 60477-2 1979 AMENDEMENT 1 AMENDMENT 1 1997-1 O Rsistance de laboratoire - Partie 2: Rsistance de laboratoire courant alternatif Amendment 1 Laboratory resistors - Part 2: Laboratory a.c.

    2、resistors O IEC 1997 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved International Electrotechnical Commission Telefax: +41 22 91 9 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland IEC web site http: /www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch B Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX Int

    3、ernational Electrotechnical Commission MetHAyHapoLIHaR 3nenpoextirecas1 HOMHCCHR e PRICE CODE Pour pru, voir catalogue en vigueur For pnce, see current catalogue Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking perm

    4、itted without license from IHS-,-,-STD.IEC b0477-2-ENGL 1979 4844892 Obb2434 395 8511 67lFDIS -2- 60477-2 amend. 1 O CEI:1997 8511 78lRVD AVANT-PROPOS Le prsent amendement a t tabli par le comit dtudes 85 de la CEI: Appareillage de mesure des grandeurs lectromagntiques. Le texte de cet amendement es

    5、t issu des documents suivants: f I Rapport de vote I FDIS I Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cet amendement. Page 18 Annexe A Remplacer dans les figures 1 et 2 le marquage toile, symbole de la tension dpreuve dilectr

    6、ique, par la catgorie de surtension selon la CE1 61010-1, amendement 2, paragraphe 5.1.5, par exemple: CAT II et le degr de pollution, par exemple: Degr de pollution 1. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networki

    7、ng permitted without license from IHS-,-,- STD-IEC b0477-2-ENGL 1777 m 4844871 Obb2Li35 221 m 8511671FDIS 60477-2 Amend. 1 O IEC:1997 -3- 8511 78iRVD FOREWORD This amendment has been prepared by IEC technical committee 85: Measuring equipment for electromagnetic quantities. The text of this amendmen

    8、t is based on the following documents: Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report on voting indicated in the above table. Page 19 Appendix A Replace, in figures 1 and 2, the “star“ symbol for the test voltage by the symbol of overvoltage category acc

    9、ording to IEC 61010-1, amendment 2, subclause 5.1.5, for instance: CAT II and the pollution degree, for instance: Pollution degree I. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from I

    10、HS-,-,-STD-IEC b0477-2-ENGL 1777 4844873 Obb243b 1bB Publications de la CE1 prpares par le Comit d?Etudes no 85 60051: - Appareils mesureurs lectriques indicateurs analogiques 60051-1 (1984) Pnmire partie: Dfinitions et prescriptions action directe et leurs accessoires. gnrales communes toutes les p

    11、arties. Amendement 1 (1994). Amendement 2 (1995). 60051-2 (1984) Deuxime partie: Prescriptions particulires pour les ampmtres et les voltmtres. 60051-3 (1984) Troisime partie: Prescriptions particuliks pour les wattmtres et les varmtm. Amendement 1 (1994). 60051-4 (1984) Quatrime partie: Prescriptio

    12、ns particulims pour les frquencemtres. 60051-5 (1984) Cinquime partie: Prescriptions particulire pour les phasemm, les indicateurs de facteur de puissance et les synchronoscopes. 600516 (1984) Sixime partie: Rescriptions particuli 31.040.10 Typeset and printed by the IEC Central Office GENEVA, SWITZ

    13、ERLAND Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-IEC 477 PT*2 79 IW 484LidL OOLi425L 8 Publication 477-2 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATI ON ALE NORME DE LA CE1 INTE

    14、RNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION IEC STANDARD Pu bl cat ion 477-2 1979 Premire dition - First edition Rsistances de laboratoire Deuxime partie : Rsistances de laboratoire courant alternatif laboratory resistors Part 2: Laboratory a.c. resistors Droits de reproduction rservs - Copyright - all ri

    15、ghts reserved Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 1, rue de Varemb Genve, Suisse Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-Rvision de la prse

    16、nte publication Le contenu technique des publications de la CEI. est constam- ment revu par la Commission afin dassurer quil reflte bien ltat actuel de la technique. Les renseignements relatifs ce travail de rvision, ltablis- sement des ditions rvises et aux mises jour peuvent tre obtenus auprs des

    17、Comits nationaux de la CE1 et en consultant les docu- ments ci-dessous: 0 Bulletin de la CE1 0 Rapport dactivit de la CE1 Publi annuellement Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement 0 Terminologie En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se re- portera ia Publication 50 d

    18、e la CEI: Vocabulaire Electro- technique International (V,E,I,), qui est tablie sous forme de chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini, lIndex gnral tant publi sparment. Des dtails complets sur le V.E.I. peuvent tre obtenus sur demande. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente public

    19、ation ont t soit repris du V.E,I., soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication, Symboles graphiques et littraux Pour les symboles graphiques, symboles littraux et signes dusage la Publication 27 de la CEI: Symboles littraux utiliser en lectrotechnique; la Publication 117 de la CEI: Sym

    20、boles graphiques recom- mands. Les symboles et signes contenus dans la prsente publication ont t soit repris des Publications 27 ou 117 de la CEI, soit spci- fiquement approuvs aux fins de cette publication. gnral approuvs par la C EI, le lecteur consultera: - - Revision of this publication The tech

    21、nical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information on the work of revision, the issue of revised editions and amendment sheets may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sour

    22、ces: O IEC Bulletln 0 Report on IEC Activities 0 Catalogue of IEC Publications Published yearly Published yearly Terminology For general terminology, readers are referred to IEC Pubii- cation 50: International Electroteclinical Vocabulary (I. E.V.), which is issued in the form of separate chapters e

    23、ach dealing with a specific field, the General Index being published as a separate booklet. Full details of the I.E.V. will be supplied on request. The terms and definitions contained in the present publication have either been taken from the I.E.V. or have been specifically approved for the purpose

    24、 of this publication. Graphical and letter symbols For graphical symbols, and letter symbols and signs approved IEC Publication 27: Letter symbols to be used in electrical technology; IEC Publication 117: Recommended graphical symbols. by the I BC for general use, readers are referred to: - - The sy

    25、mbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC Publications 27 or i 17, or have been specifically approved for the purpose of this publication. Autres publications de la CE1 tablies par le mme Comit dEtudes Lattention du lecteur est attire sur la page 3 de la co

    26、uverture, qui numre les autres publications de la CE1 prpares par le Comit #Etudes qui a tabli la prsente publication. Other I E C publications prepared by the same Technical Committee The attention of readers is drawn to the inside of the back cover, which lists other IEC publications issued by the

    27、 Technical Committee which has prepared the present publication. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-IEC Y77 PT*2 77 m 44487l 0044253 L m C. D. U./U. D. C. 621.31

    28、7.2: :621.317.732.025-I 87.3- 777.001.2.001.33 (083.71 ) COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE NORME DE LA CE1 INTER NATI O NA1 E LECTR OTE CH RI I CAL CO M M ISS I O N IEC STANDARD Publication 471-2 1979 Premire dition - First edition Rsistances de laboratoire Deuxime partie : Rsistances de lab

    29、oratoire courant alternatif laboratory resistors Part 2: Laboratory a.c. resistors Mots cls: rsistances de laboratoire courant alternatif, exigences, dfinitions. Key words: laboratory alternating-current resistors, requirements, definitions. Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights res

    30、erved Aucune partie de cette publication ne peut Qtre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procbdb, lectronique ou mcenique. y compris la photocopie et les microfilms, sens laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or

    31、by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 1, rue de Varemb Genve, Suisse . Prix Fr. s. 33 .- Price Copyright International Electrotechnical Commission

    32、 Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-SOMMAIRE Pages PREAMBULE 4 PREFACE . 4 Articles 1 . Domainedapplication 6 2 . Dfinitions., 6 3 . Caractrisation dune rsistance 10 4 . Prescriptionsgnrales 10 5 . Variations admis

    33、sibles 12 6 . Autres prescriptions lectriques et mcaniques 14 7 . Inscriptions etsymboles . 16 ANNEXE A - Exemples de marquage 18 22 ANNEXE B - Considrations gnrales sur les rsistances de laboratoire courant alternatif . ANNEXE C . Circuits quivalents dune rsistance en courant alternatif . 26 Copyri

    34、ght International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-3- CONTENTS Page FOREWORD 5 PREFACE . 5 Clause 1 . Scope 7 2 . Definitions., 7 3 . Resistor characterization 11 4 . General requireme

    35、nts. 11 5 . Permissible variations . 13 6 . Further electrical and mechanical requirements . 15 7 . Markings and symbols 17 APPENDIX A . Examples of markings . 19 APPENDIX B . Geniral considerations regarding laboratory a.c. resistors . 23 APPENDIX C . Equivalent circuits of an a.c. resistor . 27 Co

    36、pyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-LEC 477 PT*2 79 4BYY89L 0Y425b 7 m -4- COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE mSISTANCES DE LABORATOIRE Deuxime partie: Rsist

    37、ances de laboratoire Ii courant alternatif PRIAMBULE 1) Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comitb #Etudes OU sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accor

    38、d international sur les sujets examins. 2) Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres conime telles par les Comits nationaux. 3) Dans le but dencourager Yunification internationale, la CE1 exprime le vceu que tous les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationa

    39、les le texte de ia recommandation de la CE1 dans la mesure O les conditions nationales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, c. properties of a resistor The a. c. characteristics of a resistor are given

    40、 by: * The a.c. properties of an unscreened resistor are dependent on the stray capacitances which exist, in effect, across the resistor. Testing conditions can thus considerably affect the a.c. properties. Sub-clause 4.5.6 therefore lays down the testing conditions concerning electric screening. Co

    41、pyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-IEC 477 PT*Z 79 U 4844891 0044Zb0 9 9 -8- 2.1.1 soit une rsistance quivalente en courant alternatif, As, en srie avec une inducta

    42、nce quiva- lente, Ls, 2.1.2 soit une rsistance quivalente en courant alternatif, R, en parallle avec une capacit quiva- lente, C,. 2.2 Rsistance quivalente en courant alternatif Valeur de la rsistance (R, ou R,) qui est la composante rsistive de la rsistance (voir para- graphe 2. i). 2.3 Constante d

    43、e temps La constante de temps, dsigne par z*, est dfinie par: 2.3.1 LJR, ou 2.3.2 R, C, en utilisant lexpression qui donne une valeur positive (voir annexe C). Notes 1. - Lunit de constante de temps est la seconde, quand on exprime L, en henrys, R, et R, en ohms et C, en farads. 2. -Pour dterminer l

    44、a constante de temps, on peut utiliser la rsistance en courant continu il la place de la rsistance quivalente en courant alternatif. 3. - Le dphasage du courant qui parcourt ia rsistance par rapport ii la tension AUX bornes de celte rsistance est tel que, pour une constante de temps de la forme Ls/R

    45、s, il est en retard et que, pour une constante de temps de la formeRP C, il est en avance, si, dans les deux cas, L, et C, ont des valeurs positives. 4. -Dans les cas O ia reprsentation simple conduirait il une constante de temps apparemment ngative (voir article C2 de iannexe C), on nutilise pas la

    46、 constante de temps et on indique, ;1 sa place, la composante ractive. 2.4 Indice de constante de temps Nombre qui dfinit la limite suprieure admissible de la constante de temps dun groupe de rsistances qui peuvent toutes tre dsignes par le mme nombre si elles satisfont toutes les pres- criptions de

    47、 la prsente norme concernant la constante de temps, I1 sexprime en secondes en utili- sant le prfixe SI appropri. 2.5 Variation due la frquence Diffrence entre la rsistance quivalente en courant alternatif une frequence donne et la rsistance en courant continu, Elle est exprime en pourcentage (%) ou

    48、 en parties par million (ppm) de la rsistance en courant continu. 2.6 Limite suprieure du domaine nominal dutilisation en flquence Frquence spcifie jusqu laquelle la variation due la frquence ne dpasse pas la limite admissible de lerreur intrinsque en courant continu correspondant A lindice de classe de la rsis- tance (en courant continu) (voir Publication 477 de la CEI). 2.7 Indic


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