1、 Reference numberNumro de rfrenceISO/TS 18173:2005(E/F)ISO 2005TECHNICAL SPECIFICATION SPCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS18173First editionPremire dition2005-01-15Non-destructive testing General terms and definitions Essais non destructifs Termes gnraux et dfinitions ISO/TS 18173:2005(E/F) ISO 2005 The r
2、eproduction of the terms and definitions contained in this Technical Specification is permitted in teaching manuals, instruction booklets, technical publications and journals for strictly educational or implementation purposes. The conditions for such reproduction are: that no modifications are made
3、 to the terms and definitions; that such reproduction is not permitted for dictionaries or similar publications offered for sale; and that this Technical Specification is referenced as the source document. With the sole exceptions noted above, no other part of this publication may be reproduced or u
4、tilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either ISO at the address below or ISOs member body in the country of the requester. La reproduction des termes et des dfinitions contenus dans la prsente Spcificat
5、ion technique est autorise dans les manuels denseignement, les modes demploi, les publications et revues techniques destins exclusivement lenseignement ou la mise en application. Les conditions dune telle reproduction sont les suivantes: aucune modification nest apporte aux termes et dfinitions; la
6、reproduction nest pas autorise dans des dictionnaires ou publications similaires destins la vente; la prsente Spcification technique est cite comme document source. la seule exception mentionne ci-dessus, aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce
7、soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lISO ladresse ci-aprs ou du comit membre de lISO dans le pays du demandeur. ISO copyright office Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Tel. + 41 22 749 01 11 Fax + 41 22 749 09 47 E-mail cop
8、yrightiso.org Web www.iso.org Published in Switzerland/Publi en Suisse ii ISO 2005 All rights reserved/Tous droits rservsPDF disclaimer This PDF file may contain embedded typefaces. In accordance with Adobes licensing policy, this file may be printed or viewed but shall not be edited unless the type
9、faces which are embedded are licensed to and installed on the computer performing the editing. In downloading this file, parties accept therein the responsibility of not infringing Adobes licensing policy. The ISO Central Secretariat accepts no liability in this area. Adobe is a trademark of Adobe S
10、ystems Incorporated. Details of the software products used to create this PDF file can be found in the General Info relative to the file; the PDF-creation parameters were optimized for printing. Every care has been taken to ensure that the file is suitable for use by ISO member bodies. In the unlike
11、ly event that a problem relating to it is found, please inform the Central Secretariat at the address given below. PDF Exonration de responsabilit Le prsent fichier PDF peut contenir des polices de caractres intgres. Conformment aux conditions de licence dAdobe, ce fichier peut tre imprim ou visuali
12、s, mais ne doit pas tre modifi moins que lordinateur employ cet effet ne bnficie dune licence autorisant lutilisation de ces polices et que celles-ci y soient installes. Lors du tlchargement de ce fichier, les parties concernes acceptent de fait la responsabilit de ne pas enfreindre les conditions d
13、e licence dAdobe. Le Secrtariat central de lISO dcline toute responsabilit en la matire. Adobe est une marque dpose dAdobe Systems Incorporated. Les dtails relatifs aux produits logiciels utiliss pour la cration du prsent fichier PDF sont disponibles dans la rubrique General Info du fichier; les par
14、amtres de cration PDF ont t optimiss pour limpression. Toutes les mesures ont t prises pour garantir lexploitation de ce fichier par les comits membres de lISO. Dans le cas peu probable o surviendrait un problme dutilisation, veuillez en informer le Secrtariat central ladresse donne ci-dessous. ISO/
15、TS 18173:2005(E/F) ISO 2005 All rights reserved/Tous droits rservs iiiForeword ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO techni
16、cal committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely w
17、ith the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization. International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, Part 2. The main task of technical committees is to prepare International Standards. Draft Int
18、ernational Standards adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote. In other circumstances, particularly when there is an urgent market requirement fo
19、r such documents, a technical committee may decide to publish other types of normative document: an ISO Publicly Available Specification (ISO/PAS) represents an agreement between technical experts in an ISO working group and is accepted for publication if it is approved by more than 50 % of the memb
20、ers of the parent committee casting a vote; an ISO Technical Specification (ISO/TS) represents an agreement between the members of a technical committee and is accepted for publication if it is approved by 2/3 of the members of the committee casting a vote. An ISO/PAS or ISO/TS is reviewed after thr
21、ee years in order to decide whether it will be confirmed for a further three years, revised to become an International Standard, or withdrawn. If the ISO/PAS or ISO/TS is confirmed, it is reviewed again after a further three years, at which time it must either be transformed into an International St
22、andard or be withdrawn. Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. ISO/TS 18173 was prepared by Technical Committee ISO/TC 135, Non-destructive
23、testing. ISO/TS 18173:2005(E/F) iv ISO 2005 All rights reserved/Tous droits rservsAvant-propos LISO (Organisation internationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisation (comits membres de lISO). Llaboration des Normes internationales est en gnral confie aux
24、 comits techniques de lISO. Chaque comit membre intress par une tude a le droit de faire partie du comit technique cr cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec lISO participent galement aux travaux. LISO collabore troitement avec la Commi
25、ssion lectrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation lectrotechnique. Les Normes internationales sont rdiges conformment aux rgles donnes dans les Directives ISO/CEI, Partie 2. La tche principale des comits techniques est dlaborer les Normes internationales. Les projets de
26、Normes internationales adopts par les comits techniques sont soumis aux comits membres pour vote. Leur publication comme Normes internationales requiert lapprobation de 75 % au moins des comits membres votants. Dans dautres circonstances, en particulier lorsquil existe une demande urgente du march,
27、un comit technique peut dcider de publier dautres types de documents normatifs: une Spcification publiquement disponible ISO (ISO/PAS) reprsente un accord entre les experts dans un groupe de travail ISO et est accepte pour publication si elle est approuve par plus de 50 % des membres votants du comi
28、t dont relve le groupe de travail; une Spcification technique ISO (ISO/TS) reprsente un accord entre les membres dun comit technique et est accepte pour publication si elle est approuve par 2/3 des membres votants du comit. Une ISO/PAS ou ISO/TS fait lobjet dun examen aprs trois ans afin de dcider s
29、i elle est confirme pour trois nouvelles annes, rvise pour devenir une Norme internationale, ou annule. Lorsquune ISO/PAS ou ISO/TS a t confirme, elle fait lobjet dun nouvel examen aprs trois ans qui dcidera soit de sa transformation en Norme internationale soit de son annulation. Lattention est app
30、ele sur le fait que certains des lments du prsent document peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. LISO ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et averti de leur existence. LISO/TS 18173 a t labore par le comit
31、 technique ISO/TC 135, Essais non destructifs. ISO/TS 18173:2005(E/F) ISO 2005 All rights reserved/Tous droits rservs vIntroduction This Technical Specification defines the general technical terms that are used in many non-destructive testing disciplines. These terms are not usually defined in the s
32、tandards pertaining to individual non-destructive test methods. Thus, the terms and definitions in this Technical Specification serve to establish a common basis for further standardization and general use in the field of non-destructive testing and thereby provide for enhanced understanding in comm
33、erce and industry. ISO/TS 18173:2005(E/F) vi ISO 2005 All rights reserved/Tous droits rservsIntroduction La prsente Spcification technique dfinit les termes techniques gnraux utiliss dans de nombreuses disciplines dessais non destructifs. Ces termes ne sont gnralement pas dfinis dans les normes spci
34、fiques une mthode dessais non destructifs. Ainsi, les termes et dfinitions de la prsente Spcification technique permettent dtablir une base commune pour la normalisation future et lusage gnral dans le domaine des essais non destructifs et de ce fait permettent une meilleure comprhension dans le comm
35、erce et lindustrie. TECHNICAL SPECIFICATION SPCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS 18173:2005(E/F) ISO 2005 All rights reserved/Tous droits rservs 1Non-destructive testing General terms and definitions Essais non destructifs Termes gnraux et dfinitions 1 Scope This Technical Specification defines the general
36、technical terms that are used in many non-destructive testing disciplines. 1 Domaine dapplication La prsente Spcification technique dfinit les termes techniques gnraux qui sont utiliss dans de nombreuses disciplines dessais non destructifs. 2 Terms and definitions 2 Termes et dfinitions 2.1 acceptab
37、le quality level maximum percent defective or the maximum numberof units defective per hundred units which, for thepurpose of a sampling test, can be consideredsatisfactory as a process average 2.1 niveau de qualit acceptable dans le cadre dun contrle par chantillonnage, pourcentage maximal de dfect
38、ueux ou nombre maximal dunits dfectueuses par centaine dunits qui peut tre considr satisfaisant comme moyenne du processus 2.2 acceptance criteria criteria against which the specimen is examined inorder to determine its acceptability 2.2 critres dacceptation critres en fonction desquels lchantillon
39、estexamin de faon dterminer son acceptabilit 2.3 acceptance level set of prescribed parameters setting the threshold foracceptance or rejection 2.3 niveau dacceptation jeu de paramtres prescrits pour le rglage du seuil dacceptation ou de rejet 2.4 artificial discontinuity discontinuities such as hol
40、es, grooves or notchesthat are introduced into a piece by machining or any process 2.4 discontinuit artificielle discontinuits telles que trous, rayures ou entailles introduites par usinage ou tout autre procd dans une pice 2.5 calibration, instrument comparison of an instrument with, or the adjustm
41、entof an instrument to, known reference(s) 2.5 talonnage, appareillage comparaison dun appareil avec une (des) rfrence(s) connue(s) ou rglage dun instrument par rapport celles-ci ISO/TS 18173:2005(E/F) 2 ISO 2005 All rights reserved/Tous droits rservs2.6 defect one or more flaws whose aggregate size
42、, shape,oriention, location or properties do not meet specifiedacceptance criteria and are rejectable 2.6 dfaut une ou plusieurs anomalies dont la taille globalise, la forme, lorientation, la localisation ou les caractristiques ne satisfont pas aux critres dacceptation spcifis et sont cause de rejet
43、 2.7 detection sensitivity capacity of an NDT technique to detectdiscontinuities NOTE The higher the detection sensitivity, the greater itscapability of detecting a small discontinuity (see detectionthreshold). 2.7 sensibilit de dtection aptitude dune technique END dtecter des discontinuits NOTE Lap
44、titude dtecter une petite discontinuit augmente avec la sensibilit la dtection (voir seuil de dtection). 2.8 detection threshold lowest limit of detection of indications 2.8 seuil de dtection limite infrieure de dtection des indications 2.9 discontinuity lack of continuity or cohesion by way of anin
45、tentional or unintentional interruption in thephysical structure or configuration of a material orcomponent 2.9 discontinuit manque de continuit ou de cohsion, par interruption intentionnelle ou non intentionnelle de la structure physique ou de la configuration dun matriau ou dun composant 2.10 fals
46、e indication representation or signal, in the format allowed by thenon-destructive testing method used, which isinterpreted to be caused by a condition other than adiscontinuity or imperfection 2.10 indication fallacieuse reprsentation ou signal, dans le format permis par la mthode dessai non destru
47、ctif utilise, qui est interprt comme tant le rsultat dune cause autre qune discontinuit ou une imperfection 2.11 flaw imperfection or discontinuity that may be detectableby NDT and is not necessarily rejectable 2.11 anomalie imperfection ou discontinuit qui peut tre dtecte par un END et nest pas nce
48、ssairement une cause de rejet 2.12 flaw characterization process of quantifying the size, shape, orientation,location, growth or other properties of a flaw, based on NDT response 2.12 caractrisation de lanomalie procd de quantification de la taille, de la forme, de lorientation, de la localisation, de la croissance ou dune autre proprit dune anomalie sur la base dune rponse un END ISO/TS 18173:2005(E/F) ISO 2005 All rights reserved/Tous droits rservs 32.13 imperfection
