欢迎来到麦多课文档分享! | 帮助中心 海量文档,免费浏览,给你所需,享你所想!
麦多课文档分享
全部分类
  • 标准规范>
  • 教学课件>
  • 考试资料>
  • 办公文档>
  • 学术论文>
  • 行业资料>
  • 易语言源码>
  • ImageVerifierCode 换一换
    首页 麦多课文档分享 > 资源分类 > PDF文档下载
    分享到微信 分享到微博 分享到QQ空间

    ISO 17514-2004 Time-measuring instruments - Photoluminescent deposits - Test methods and requirements《时间计量仪表 荧光覆层 试验方法和要求》.pdf

    • 资源ID:1251849       资源大小:255.50KB        全文页数:10页
    • 资源格式: PDF        下载积分:10000积分
    快捷下载 游客一键下载
    账号登录下载
    微信登录下载
    二维码
    微信扫一扫登录
    下载资源需要10000积分(如需开发票,请勿充值!)
    邮箱/手机:
    温馨提示:
    如需开发票,请勿充值!快捷下载时,用户名和密码都是您填写的邮箱或者手机号,方便查询和重复下载(系统自动生成)。
    如需开发票,请勿充值!如填写123,账号就是123,密码也是123。
    支付方式: 支付宝扫码支付    微信扫码支付   
    验证码:   换一换

    加入VIP,交流精品资源
     
    账号:
    密码:
    验证码:   换一换
      忘记密码?
        
    友情提示
    2、PDF文件下载后,可能会被浏览器默认打开,此种情况可以点击浏览器菜单,保存网页到桌面,就可以正常下载了。
    3、本站不支持迅雷下载,请使用电脑自带的IE浏览器,或者360浏览器、谷歌浏览器下载即可。
    4、本站资源下载后的文档和图纸-无水印,预览文档经过压缩,下载后原文更清晰。
    5、试题试卷类文档,如果标题没有明确说明有答案则都视为没有答案,请知晓。

    ISO 17514-2004 Time-measuring instruments - Photoluminescent deposits - Test methods and requirements《时间计量仪表 荧光覆层 试验方法和要求》.pdf

    1、NORME INTERNATIONALE ISO 17514 Premire dition 2004-12-01 Numro de rfrence ISO 17514:2004(F) ISO 2004 Instruments de mesure du temps Dpts photoluminescents Mthodes dessai et exigences Time-measuring instruments Photoluminescent deposits Test methods and requirementsISO 17514:2004(F) ii ISO 2004 Tous

    2、droits rservs PDF Exonration de responsabilit Le prsent fichier PDF peut contenir des polices de caractres intgres. Conformment aux conditions de licence dAdobe, ce fichier peut tre imprim ou visualis, mais ne doit pas tre modifi moins que lordinateur employ cet effet ne bnficie dune licence autoris

    3、ant lutilisation de ces polices et que celles-ci y soient installes. Lors du tlchargement de ce fichier, les parties concernes acceptent de fait la responsabilit de ne pas enfreindre les conditions de licence dAdobe. Le Secrtariat central de lISO dcline toute responsabilit en la matire. Adobe est un

    4、e marque dpose dAdobe Systems Incorporated. Les dtails relatifs aux produits logiciels utiliss pour la cration du prsent fichier PDF sont disponibles dans la rubrique General Info du fichier; les paramtres de cration PDF ont t optimiss pour limpression. Toutes les mesures ont t prises pour garantir

    5、lexploitation de ce fichier par les comits membres de lISO. Dans le cas peu probable o surviendrait un problme dutilisation, veuillez en informer le Secrtariat central ladresse donne ci-dessous. ISO 2004 Droits de reproduction rservs. Sauf prescription diffrente, aucune partie de cette publication n

    6、e peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lISO ladresse ci-aprs ou du comit membre de lISO dans le pays du demandeur. ISO copyright office Case postale 56 CH-1211 Geneva

    7、 20 Tel. + 41 22 749 01 11 Fax + 41 22 749 09 47 E-mail copyrightiso.org Web www.iso.org Publi en SuisseISO 17514:2004(F) ISO 2004 Tous droits rservs iii Avant-propos LISO (Organisation internationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisation (comits membres

    8、de lISO). Llaboration des Normes internationales est en gnral confie aux comits techniques de lISO. Chaque comit membre intress par une tude a le droit de faire partie du comit technique cr cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec lISO p

    9、articipent galement aux travaux. LISO collabore troitement avec la Commission lectrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation lectrotechnique. Les Normes internationales sont rdiges conformment aux rgles donnes dans les Directives ISO/CEI, Partie 2. La tche principale des co

    10、mits techniques est dlaborer les Normes internationales. Les projets de Normes internationales adopts par les comits techniques sont soumis aux comits membres pour vote. Leur publication comme Normes internationales requiert lapprobation de 75 % au moins des comits membres votants. Lattention est ap

    11、pele sur le fait que certains des lments du prsent document peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. LISO ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et averti de leur existence. LISO17514 a t labore par le comit te

    12、chnique ISO/TC114, Horlogerie, sous-comit SC5, Luminescence iv NORME INTERNATIONALE ISO 17514:2004(F) ISO 2004 Tous droits rservs 1 Instruments de mesure du temps Dpts photoluminescents Mthodes dessai et exigences 1 Domaine dapplication La prsente Norme internationale spcifie les mthodes dessai des

    13、dpts photoluminescents appliqus sur les instruments de mesure du temps ainsi que les exigences qui sy rapportent. 2R frences normatives Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du prsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences

    14、 non dates, la dernire dition du document de rfrence sapplique (y compris les ventuels amendements). ISO 3157:1991, Radioluminescence pour les instruments horaires Spcifications 3 Termes et dfinitions Pour les besoins du prsent document, les termes et dfinitions suivants sappliquent. 3.1 dpt photolu

    15、minescent substance non radioactive applique sur un support et capable daccumuler de lnergie et de la restituer sous forme de lumire 3.2 luminance rapport de lintensit de la lumire par unit de surface dmission pour un observateur loign NOTE La luminance est exprime en nanocandelas par centimtre carr

    16、 () . 3.3 coefficient de dgradation de la luminance diminution de la luminance en fonction du temps 3.4 lisibilit capacit de llment luminescent tre vu distinctement 3.5 limite de lisibilit intensit lumineuse minimale pour laquelle llment luminescent peut tre vu distinctement 3.6 intensit lumineuse i

    17、ntensit de la lumire pour un observateur loign NOTE Lintensit lumineuse est exprime en nanocandelas (ncd). ncd/cm 2ISO 17514:2004(F) 2 ISO 2004 Tous droits rservs 4M thode dessai et exigences 4.1 Essai sur chantillon 4.1.1 chantillonde dpt photoluminescent doivent tre appliqus de faon uniforme sur u

    18、ne surface de , lextrmit dun support mtallique recouvert de blanc. La couleur blanche doit tre le blanc de scurit N 9003 de la gamme de couleur RAL (Reichsausschuss fr Lieferbedingungen). 4.1.2 Couleurs Les couleurs normalises sont celles dfinies en 4.2.1 dans lISO 3157:1991. La vrification de la co

    19、uleur doit se faire par examen visuel la lumire du jour, sans exposition directe au soleil. Une autre solution possible est de faire des mesures conformment la CIE 1976 L*a*b*. 4.1.3 Intensit lumineuse et luminance Lintensit lumineuse de lchantillon doit tre vrifie selon les procdures suivantes: a)

    20、Conserver lchantillon, temprature ambiante dans lobscurit, pendant au moins . b) Irradier lchantillon en le soumettant une source lumineuse D65 pendant ou pendant , puis le conserver dans lobscurit. c) Mesurer lintensit lumineuse de lchantillon , et aprs conservation. Au cas o il faudrait indiquer l

    21、e temps ncessaire pour atteindre la limite de la lisibilit ou le coefficient de dgradation de la luminance, il est possible dextrapoler la courbe pour arriver la luminance de . La mesure doit tre ralise laide dun photomtre. La temprature ambiante doit tre et lhumidit relative au cours de la totalit

    22、des tapes b) et c) de lessai. 4.1.4 Rsistance au vieillissement La rsistance au vieillissement de lchantillon doit tre vrifie selon les procdures suivantes: a) Mesurer lintensit lumineuse de lchantillon selon 4.1.3. b) Exposer lchantillon la lumire UV, aux conditions de temprature et dhumidit d crit

    23、es en 4.4.2 de lISO 3157:1991. La dure de lexposition doit tre porte . c) Soumettre lchantillon un contrle visuel; aucune dcoloration, fissure, dtrioration, cassure ou exfoliation nest permise. d) Mesurer de nouveau lintensit lumineuse (selon 4.1.3) aprs de conservation dans lobscurit. La perte dint

    24、ensit lumineuse doit tre infrieure . 4.1.5 Rsistance aux tempratures leves ou basses La rsistance aux tempratures leves ou basses de lchantillon peut tre vrifie selon les procdures suivantes: a) Mesurer lintensit lumineuse de lchantillon selon 4.1.3. b) Conserver lchantillon dans lobscurit et dhumid

    25、it relative pendant . c) Conserver lchantillon dans lobscurit pendant ; la dure du passage de doit tre au minimum de . (30 1) mg (1 0,03) cm 2 8h 200 lx 30 min 400 lx 20 min 30 min 90 min 180 min 40 ncd/cm 2 (23 2) C (50 15) % 48 h 24 h 10 % (80 5) C (50 15)%1 h (20 5) C1 h (80 5) C (20 5) C 30 minI

    26、SO 17514:2004(F) ISO 2004 Tous droits rservs 3 d) Soumettre lchantillon une inspection visuelle; aucune dcoloration, fissure, dtrioration, cassure ou exfoliation nest permise. e) Mesurer de nouveau lintensit lumineuse (selon 4.1.3). La perte dintensit lumineuse doit tre infrieure . 4.2 Essais sur pi

    27、ces 4.2.1 Gnralits Bien que lessai soit prvu pour un ensemble de pices, il peut tre ralis sur une seule pice, sur un ensemble de pices ou sur un instrument de mesure du temps. 4.2.2 Lisibilit La lisibilit dune pice revtue dun dpt photoluminescent doit tre vrifie selon les procdures suivantes: a) Con

    28、server la pice revtue dun dpt photoluminescent pendant au moins dans lobscurit. b) Irradier lchantillon en le soumettant une source lumineuse D65 pendant ou pendant , puis le conserver dans lobscurit. c) Soumettre la pice revtue dun dpt photoluminescent une inspection visuelle pour vrifier sa lisibi

    29、lit dans une pice obscure aprs de conservation, puis toutes les heures. Les critres de lisibilit sont: 1) les aiguilles des heures et des minutes doivent tre clairement identifies (vues et distingues); 2) lindication de sur le cadran doit tre clairement identifie (vue et distingue). Aprs la dure pre

    30、scrite, la limite de lisibilit doit tre compatible avec lintensit mesure en ncd, spcifie dans lISO 3157:1991, 3.2.1 d), 3.2.1 e) et 3.2.1 f). La temprature ambiante doit tre et lhumidit relative au cours de la totalit des tapes b) et c) de lessai. La lisibilit peut dpendre de lacuit visuelle de la p

    31、ersonne charge de linspection. Dans ce cas, la mesure est effectue laide dun photomtre. Il est recommand que la personne charge de linspection entre dans la pice plonge dans lobscurit au moins avant de se livrer au contrle visuel. Les distances recommandes pour faire le contrle visuel sont pour les

    32、montres, pour les pendules poser etpour les pendules murales. 4.2.3 Adhrence Ladhrence du dpt photoluminescent sur les pices doit tre vrifie par des contrles visuels avant et aprs lessai raliser conformment lISO 3157:1991, 4.5.1 et 4.5.2. Le dpt photoluminescent doit tre exempt de toute fissure, dtr

    33、ioration, cassure ou exfoliation. NOTE Lessai au ruban adhsif tel que dcrit dans lASTMD3359-97 est souvent utilis comme essai pratique dadhrence. 4.2.4 Essais sur des espaces vids Les essais dfinis en 4.1.4 et en 4.1.5 peuvent tre utiliss dans certains cas particuliers, notamment lorsque les dpts ph

    34、otoluminescents remplissent des espaces vids. 10 % 8h 200 lx 30 min 400 lx 20 min 3h 12 h (23 2) C (50 15) % 10 min 25 cm 50 cm 150 cmISO 17514:2004(F) 4 ISO 2004 Tous droits rservs Annexe A (informative) Rapport dessai Il convient dinclure dans le rapport dessai, au moins, les informations suivante

    35、s: a) lidentification de lchantillon, y compris son origine, sa date de rception et sa forme; b) la mthode dchantillonnage; c) la rfrence la prsente Norme internationale; d) les valeurs de mesures et les observations sy rapportant; e) tout cart par rapport au mode opratoire, si besoin est; f) tout l

    36、ment inattendu observ au cours de la vrification; g) la date de lessai; h) la signature de loprateur.ISO 17514:2004(F) ISO 2004 Tous droits rservs 5 Bibliographie 1 ASTM D3359-97, Standard Test Methods for Measuring Adhesion by Tape TestISO 17514:2004(F) ICS 39.040.01 Prix bas sur 5 pages ISO 2004 Tous droits rservs


    注意事项

    本文(ISO 17514-2004 Time-measuring instruments - Photoluminescent deposits - Test methods and requirements《时间计量仪表 荧光覆层 试验方法和要求》.pdf)为本站会员(priceawful190)主动上传,麦多课文档分享仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文档分享(点击联系客服),我们立即给予删除!




    关于我们 - 网站声明 - 网站地图 - 资源地图 - 友情链接 - 网站客服 - 联系我们

    copyright@ 2008-2019 麦多课文库(www.mydoc123.com)网站版权所有
    备案/许可证编号:苏ICP备17064731号-1 

    收起
    展开