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    ISO 13565-2-1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture Profile method Surfaces having stratified functional properties - Part 2 Height char.pdf

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    ISO 13565-2-1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture Profile method Surfaces having stratified functional properties - Part 2 Height char.pdf

    1、NORME INTERNATIONALE IS0 13565-2 Premih-e kdition 1996-12-01 Spbcification gkom surfaces ayant des proprietes fonctionnelles diffbrentes suivant les niveaux - Partie 2: Caract6risation des hauteurs par la courbe de taux de longueur portante Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture:

    2、 Profile method; Surfaces having stratified functional properties - Part 2: Height characteriza tjon using the linear material ratio curve Numkro de refitrence IS0 13565-2:1996(F) IS0 13565=2:1996(F) Avant-propos LISO (Organisation internationale de normalisation) est une federation mondiale dorgani

    3、smes nationaux de normalisation (comites membres de IISO). Lelaboration des Normes internationales est en general confiee aux comites techniques de IISO. Chaque comite membre interesse par une etude a le droit de faire partie du comite technique tree a cet effet. Les organisations internationales, g

    4、ouvernementales et non gouvernemen- tales, en liaison avec IISO participent egalement aux travaux. LISO colla- bore etroitement avec la Commission electrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation electrotechnique. Les projets de Normes internationales adopt surfaces ayant de

    5、s propri& fonctionnelles diff&entes suivan t /es niveaux: - Partie I: Filtrage et conditions g&ales de mesurage - Partie 2: Caract&isation des hauteurs par la courbe de taux de longueur portan te - Partie 3: Caractkisation des hauteurs par la courbe de probabilitk de ma t&e Les annexes A et B de la

    6、presente partie de IISO 13565 sont donnees uniquement a titre dinformation. 0 IS0 1996 Droits de reproduction reserves. Sauf prescription differente, aucune partie de cette publi- cation ne peut etre reproduite ni utilisee sous quelque forme que ce soit et par aucun pro- cede, electronique ou mecani

    7、que, y compris la photocopie et les microfilms, sans Iaccord ecrit de Iediteur. Organisation internationale de normalisation Case postale 56 l CH-1211 Geneve 20 l Suisse lmprime en Suisse ii 0 IS0 IS0 13565=2:1996(F) Introduction La presente partie de IISO 13565 qui traite de la specification geomet

    8、rique des produits (GPS) est consideree comme une norme GPS g&ale (voir llSO/rR 14638). Elle influence le maillon 2 de la chaine de normes relatives au profil de rugosite. Pour de plus amples informations sur la relation de la presente partie de IISO 13565 avec les autres normes et la matrice GPS, v

    9、oir Iannexe A. La presente partie de IISO 13565 definit un ensemble de parametres, bases sur la courbe de taux de longueur portante, utilisables pour levalua- tion du profil de rugosite a creux supprimes, tel que defini dans IISO 13565-l. Elle est basee sur un modele de surface a trois couches, eval

    10、uant separement les pits, le profil ecrete et les creux. . . . III NORME INTERNATIONALE 0 Iso IS0 13565-2: 1996(F) Spkification gbombtrique des produits (GPS) - surfaces ayant des propriMs fonctionnelles diffbrentes suivant les niveaux - Partie 2: CaracWisation des hauteurs par la courbe de taux de

    11、longueur portante 1 Domaine dapplication La presente partie de IISO 13565 etablit le procede devaluation permettant de determiner les parametres issus de la representation Iineaire de la courbe de taux de longueur portante (appelee aussi courbe d/Abbott) qui decrit Iaugmentation du taux de longueur

    12、portante de la surface en fonction de Iaugmentation de la profondeur du profil de rugosite. Ces parametres sont destines a faciliter Ievaluation du comportement fonctionnel des surfaces soumises a de fortes contraintes mecaniques. 2 Rbfhrences normatives Les normes suivantes contiennent des disposit

    13、ions qui, par suite de la reference qui en est faite, constituent des dispositions valables pour la presente partie de IISO 13565. Au moment de la publication, les editions indiquees etaient en vigueur. Toute norme est sujette a revision et les parties prenantes des accords fond surfaces ayant des p

    14、rop&t& fonctionnelles diff&-entes suivant /es niveaux - Partie 7: Filtrage et conditions g&ales de mesurage. IS0 13565=2:1996(F) IS0 3 Dbfinitions Pour les besoins de la prksente partie de IISO 13565, les dbfinitions donnbes dans IISO 4287:1996, 3.1, et les definitions suivantes sappliquent. 3.1 pro

    15、fil de rugositk 6crM: Profil de rugositk ne comportant pas les pits saillants ni les creux profonds (voir figure 1). 3.1.1 profondeur du profil 6cr9t6, Rk: Profondeur dbfinie sur le profil de rugositk kcr&i! (voir figure 1). 3.12 taux de longueur portante, /WI: Taux, en pourcentage, d&erminb sur la

    16、ligne de coupure qui &pare les pits saillants du profil &r&k 3.1.3 taux de longueur portante, MO: Taux, en pourcentage, d&ermine sur la ligne de coupure qui &pare les creux profonds du profil &r&k 3.2 hauteur des pits 6limin6s, Rpk: Hauteur moyenne des pits saillants, situ& au-dessus du profil &r&e

    17、NOTE - Le pro&d6 d&it a Iarticle 6 pour effectuer la moyenne rbduit leffet des valeurs isokes sur ce parametre. 3.3 profondeur des creux kliminbs, Rvk: Profondeur moyenne des creux, situ& au-dessous du profil kcr& NOTE - Le prockdi! dkrit A Iarticle 6 pour effectuer la moyenne rkduit leffet des vale

    18、urs isolees sur ce parametre. 4 Dbtermination des paramiktres 4.1 Profil de rugositb Le profil de rugositi! utilisb pour dbterminer les param&tres faisant Iobjet de la prksente partie de IISO 13565 doit &re calculi3 conformement a IISO 13565-l. 4.2 Calcul des paramhtres Rk, AM , M-2 La droite kquiva

    19、lente, calculbe conformi!ment 2 4.3, coupe les abscisses Mr - - 0 % et Mr = 100 % (voir figure I). A partir de ces points, deux paraII&les A Iaxe des x sont tracbes, qui determinent le profil de rugositb h-&k, duquel sont enlevgs les pits saillants et les creux profonds. La distance verticale entre

    20、ces droites reprbsente la profondeur du profil hr$tk Rk. Leurs intersections avec la courbe de taux de longueur portante dGfinissent les taux de longueur portante Mrl et MO. 4.3 Calcul de la droite bquivalente La droite kquivalente est calculke A partir de la (zone centrale) de la courbe de taux de

    21、longueur portante, incluant 40 % de tous les points du profil mesure. Cette (zone centrale) se situe 8 lendroit 00 la s&ante de la courbe de taux de longueur portante, qui intercepte un arc representant 40 % de la longueur portante, a la pente la plus faible (voir figure I). Elle est dbterminke en t

    22、raGant successivement le long de la courbe les s&antes dart AMr = 40 %, en partant de la position Mr= 0 % comme illustre sur la figure 1. La s&ante de larc AMr = 40 % qui a la pente la plus faible d&ermine la (zone centrale) de la courbe de taux de longueur portante, pour le calcul de la droite equi

    23、valente. Si plusieurs zones de la courbe prksentent une pente faible similaire, la premi&e zone rencontrbe est la zone retenue. La droite des moindres car& dans la direction des ordonnkes du profil est alors calcuke sur cette (zone centrale). 2 IS0 IS0 13565=2:1996(F) NOTE - Pour assurer la validite

    24、 de la courbe de taux de longueur portante, il convient que la largeur des classes des ordonnees du profil de rugosite ait une valeur suffisamment faible pour quau moins IO classes soient comprises dans la (zone centrale). Pour les surfaces ayant une tres faible rugosite, ou un plateau presque parfa

    25、it, des classes aussi faibles peuvent ne pas etre significatives, du fait de la resolution limitee du systeme de mesure. Dans ce cas, il est recommande que le nombre de classes utilise pour calculer la droite equivalente soit mentionne dans les resultats de mesure. la plus faible pente 0 20 40 60 80

    26、 % 100 i Droite 0 I 2o 40 60 801 % 100 1 Mrl Mr2 Pourcentage de matithe Mr- Figure 1 - Calcul du Rk, Mrl et Mr2 4.4 Calcul des paramhtres Rpk et Rvk Les surfaces sit&es au-dessus et au-dessous de la zone de la courbe de taux de longueur portante qui delimite la profondeur du profil &t-&h Rk sont hac

    27、hurkes sur la figure 1. Elles correspondent aux surfaces comportant les pits et les creux qui depassent du profil &r&e. Les parametres Rpk et Rvk sont egaux a la hauteur des triangles rectangles ayant respectivement la meme surface que la (zone des pits) ou la (zone des creux) (voir figure 2). Le tr

    28、iangle rectangle correspondant a la (surface des pits A 1) a pour base Mrl et celui correspondant a la (surface des creux A 2) a pour base 100 % - MO. NOTE - II convient que les parametres faisant Iobjet de la presente partie de IISO 13565 ne soient calcules que si la courbe de taux de longueur port

    29、ante a la forme dun (SH comme sur les figures 1 et 2, et done na quun seul point dinflexion. Lexperience a montre que cest toujours le cas pour des surfaces rodees, rectifiees ou pierrees. 3 IS0 13565-2: 1996(F) IS0 Conversion de la (zone des pits) et de la (zone des creux) en un triangle rectangle

    30、de surface 6quivalente 11 I I I I1 1 I 1 0 20 40 60 80 % 100 - _-_ 1. I I I I I I I 1 0 j 20 40 60 801 $4 100 Mrl Mr2 Pourcentage de matihe Mr- Figure 2 - Calcul de Rpk et Rvk 5 Spkification des paramlttres sur les dessins Les paramgtres faisant Iobjet de la prGsente partie de IISO 13565 doivent &re

    31、 spGcifi& sur les dessins techniques conformement a IISO 1302. 0 IS0 IS0 13565-2: 1996(F) Annexe A (informative) Relation avec la matrice GPS Pour de plus amples renseignements a propos de la matrice GPS, voir lISO/TR 14638. A.1 Information sur la prksente partie de IISO 13565 et son utilisation La

    32、presente partie de IISO 13565 definit un ensemble de parametres, bases sur la courbe de taux de longueur portante, utilisables pour Ievaluation du profil de rugosite a creux supprimes, tel que defini dans IISO 13565-l. Elle est basee sur un modele de surface a trois couches, evaluant separement les

    33、pits, le profil ecrete et les creux. Ces parametres sont destines a faciliter Ievaluation du comportement fonctionnel des surfaces soumises a de fortes contraintes mkaniques. Le profil de rugositk utilisb pour ditterminer ces paramktres doit &re calculi, conformement 8 IISO 13565-I. A.2 Situation da

    34、ns la matrice GPS La presente partie de IISO 13565 est une norme GPS g&Wale, qui influence le maillon 2 de la chaine de normes relative au profil de rugosite de la matrice GPS g&-&ale, comme illustre a la figure A.I. Normes GPS de base , Normes GPS globales Matrice GPS g&ale Maillon no 1 2 3 4 5 6 T

    35、aille Distance Rayon Angle Forme dune ligne indbpendante dune &f&ence Forme dune ligne dbpendante dune rGf&ence Forme dune surface indbpendante dune reference Forme dune surface dkpendante dune r6f&ence Orientation Position Battement circulaire Battement total Rbfbrences Profil de rugositk . Profil

    36、dondulation Profil primaire Dkfauts de surface Ar&es Figure A.1 A.3 Normes internationales assockes Les Normes internationales associees sont celles des chaines de normes indiquees a la figure A.1 5 IS0 13565=2:1996(F) IS0 II PI 31 41 151 El Annexe B (informative) Bibliographie IS0 3274: 1996, Speci

    37、fication geometrique des produits (GPS) - kat de surface: Methode du profil - Caracteristiques nominales des appareils a contact (palpeur). I SO 4288: 1996, Specification geometrique des produits (GPS) - &at de surface: Methode du profil - Regles et procedures pour Ievalua tion de Ieta t de surface.

    38、 IS0 1 1562: 1996, Specification geometrique des produits (GPS) - &at de surface: Methode du pro fil - Caracteristiques metrologiques des filtres a phase correcte. IS0 12085: 1996, Specification geometrique des produits (GPS) - &at de surface: Methode du pro fil - Parametres lies aux motifs. lSO/TR

    39、14638: 1995, Specification geometrique des produits (GPS) - Schema directeur. Vocabulaire international des termes fondamentaux et generaux de metrologie (VIM). BIPM, CEI, FICC, ISO, OIML, UICPA, UIPPA, 2Gdition, 1993. IS0 13565-2:1996(F) ICS l7.040.20 Descripteurs: propriM de surface, &at de surface, determination, caracthistique, profil de la texture, mesurage de rugosite, rhgle de calcul, spkification geombtrique des produits. Prix base sur 6 pages


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