1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61391-1Premire ditionFirst edition2006-07Ultrasons Scanners impulsion et cho Partie 1: Techniques pour ltalonnage des systmes de mesure spatiaux et des mesures de la rponse de la fonction de dispersion ponctuelle du systmeUltrasonics Pulse-echo scann
2、ers Part 1: Techniques for calibrating spatial measurement systems and measurement of system point-spread function response Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61391-1:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi,
3、 la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamen
4、dement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publicati
5、on, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que
6、 la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, compren
7、ant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/onl
8、ine_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec l
9、e Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publi
10、shing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical
11、 content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments a
12、nd corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The
13、 on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as c
14、orrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need
15、 further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61391-1Premire ditionFirst edition2006-07Ultrasons Scanners impulsion et cho Partie 1: Techniques pour ltalonnage des
16、systmes de mesure spatiaux et des mesures de la rponse de la fonction de dispersion ponctuelle du systmeUltrasonics Pulse-echo scanners Part 1: Techniques for calibrating spatial measurement systems and measurement of system point-spread function response Pour prix, voir catalogue en vigueur For pri
17、ce, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord cr
18、it de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Gen
19、eva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE X Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 61391-1 CEI:2006 I SOMMAIRE AVANT-PROPOS 4 INTRODUCTION.8 1 Domaine dapplication.
20、10 2 Rfrences normatives .10 3 Termes et dfinitions 10 4 Symboles22 5 Conditions gnrales 22 6 Techniques dtalonnage de systmes de mesure 2D26 6.1 Mthodes dessai.26 6.2 Instruments .26 6.3 Rglages dessai .28 6.4 Paramtres dessai30 7 Mthodes dtalonnage des systmes de mesure 3D.34 7.1 Gnralits34 7.2 Ty
21、pes de mthodes de reconstruction 3D.36 7.3 Paramtres dessai associs aux problmes de reconstruction.38 7.4 Mthodes dessai pour la mesure de la prcision de reconstruction 3D.40 8 Mesure des fonctions de dispersion ponctuelle et de dispersion linaire (dimensions de la zone de rsolution haut contraste)
22、.48 8.1 Gnralits48 8.2 Mthodes dessai.50 8.3 Instruments .50 8.4 Rglages dessai .50 8.5 Paramtres dessai56 Annexe A (normative) Objets dessai talonnage de systmes de mesure spatiaux 2D 66 Annexe B (normative) Objets dessai Mesure et talonnage de la prcision de reconstruction dimages 3D .72 Annexe C
23、(normative) Objets dessai Mesure de la rponse de la fonction de dispersion ponctuelle .78 Bibliographie.88 61391-1 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 INTRODUCTION.9 1 Scope.11 2 Normative references11 3 Terms and definitions .11 4 Symbols .23 5 General conditions23 6 Techniques for calibrating 2D-measur
24、ement systems27 6.1 Test methods 27 6.2 Instruments .27 6.3 Test settings29 6.4 Test parameters 31 7 Methods for calibrating 3D-measurement systems.35 7.1 General .35 7.2 Types of 3D-reconstruction methods37 7.3 Test parameters associated with reconstruction problems39 7.4 Test methods for measureme
25、nt of 3D-reconstruction accuracy.41 8 Measurement of point-spread and line-spread functions (high-contrast spot size) 49 8.1 General .49 8.2 Test methods 51 8.3 Instruments .51 8.4 Test settings51 8.5 Test parameters 57 Annex A (normative) Test objects Calibration of 2D-spatial measurement systems.6
26、7 Annex B (normative) Test objects Measurement and calibration of 3D-image reconstruction accuracy 73 Annex C (normative) Test objects Measurement of point-spread function response79 Bibliography89 4 61391-1 CEI:2006 I COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ ULTRASONS SCANNERS IMPULSION ET CHO P
27、artie 1: Techniques pour ltalonnage des systmes de mesure spatiaux et des mesures de la rponse de la fonction de dispersion ponctuelle du systme AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrote
28、chniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications
29、 techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internat
30、ionales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels
31、de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandati
32、ons internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtatio
33、n qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes div
34、ergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars
35、 conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les mem
36、bres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publi
37、cation ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de
38、la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et
39、 de ne pas avoir signal leur existence. La prsente Norme internationale CEI 61391-1 a t tablie par le comit dtudes 87 de la CEI: Ultrasons. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 87/336/FDIS 87/343/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne t
40、oute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2. 61391-1 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ ULTRASONICS PULSE-ECHO SCANNERS Part 1: Techniques for calibrating spatial measurement systems and
41、 measurement of system point-spread function response FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operat
42、ion on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “
43、IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this prepar
44、ation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consen
45、sus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts ar
46、e made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any misinterpretation by any end user. 4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications tr
47、ansparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter. 5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot
48、 be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with an IEC Publication. 6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication. 7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or other damage of any nature whatsoever, whether direct or indir
