1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 6051214 Premiredition Firstedition 199708 Composantslectromcaniquespour quipementslectroniques Procduresdessaidebaseet mthodesdemesure Partie1: Gnralits Section4:Essai1d:Efficacitdelaprotection descontacts(scoopproof) Electromechanicalcomponentsfor
2、 electronicequipment Basictestingproceduresandmeasuring methods Part1: General Section4:Test1d:Contactprotection effectiveness(scoopproof) Numroderfrence Referencenumber CEI/IEC6051214:1997Numrosdespublications LespublicationsdelaCEIsontnumrotespartirde 60000dsle1erjanvier1997. Publicationsconsolide
3、s Lesversionsconsolidesdecertainespublicationsde laCEIincorporantamendementssontdisponibles.Par exemple,lesnumrosddition1.0,1.1et1.2 indiquentrespectivementlapublicationdebase,la publicationdebaseincorporantlamendement1,etla publicationdebaseincorporantlesamendements1 et2. Validitdelaprsentepublicat
4、ion LecontenutechniquedespublicationsdelaCEIest constammentrevuparlaCEIafinquilreflteltat actueldelatechnique. Desrenseignementsrelatifsladatede reconfirmationdelapublicationsontdisponiblesdans leCataloguedelaCEI. Lesrenseignementsrelatifscesrvisions,ltablis sementdesditionsrvisesetauxamendements pe
5、uventtreobtenusauprsdesComitsnationauxde laCEIetdanslesdocumentscidessous: BulletindelaCEI AnnuairedelaCEI Accsenligne* CataloguedespublicationsdelaCEI Publiannuellementetmisjourrgulirement (Accsenligne)* Terminologie,symbolesgraphiques etlittraux Encequiconcernelaterminologiegnrale,lelecteur serepo
6、rteralaCEI60050: VocabulaireElectro techniqueInternational (VEI). Pourlessymbolesgraphiques,lessymboleslittraux etlessignesdusagegnralapprouvsparlaCEI,le lecteurconsulteralaCEI60027: Symboleslittraux utiliserenlectrotechnique,laCEI60417:Symboles graphiquesutilisablessurlematriel.Index,relevet compil
7、ationdesfeuillesindividuelles, etlaCEI60617: Symbolesgraphiquespourschmas. PublicationsdelaCEItabliespar lemmecomitdtudes Lattentiondulecteurestattiresurleslistesfigurant lafindecettepublication,quinumrentles publicationsdelaCEIprparesparlecomit dtudesquiatablilaprsentepublication. * Voiradressesite
8、websurlapagedetitre. Numbering Asfromthe1stJanuary1997allIECpublicationsare issuedwithadesignationinthe60000series. Consolidatedpublications ConsolidatedversionsofsomeIECpublications includingamendmentsareavailable.Forexample, editionnumbers1.0,1.1and1.2refer,respectively,to thebasepublication,theba
9、sepublication incorporatingamendment1andthebasepublication incorporatingamendments1and2. Validityofthispublication ThetechnicalcontentofIECpublicationsiskeptunder constantreviewbytheIEC,thusensuringthatthe contentreflectscurrenttechnology. Informationrelatingtothedateofthereconfirmationof thepublica
10、tionisavailableintheIECcatalogue. Informationontherevisionwork,theissueofrevised editionsandamendmentsmaybeobtainedfrom IEC NationalCommitteesandfromthefollowing IECsources: IECBulletin IECYearbook Onlineaccess* CatalogueofIECpublications Publishedyearlywithregularupdates (Onlineaccess)* Terminology
11、,graphicalandletter symbols Forgeneralterminology,readersarereferredto IEC60050:InternationalElectrotechnicalVocabulary (IEV). Forgraphicalsymbols,andlettersymbolsandsigns approvedbytheIECforgeneraluse,readersare referredtopublicationsIEC60027: Lettersymbolsto beusedinelectricaltechnology ,IEC60417:
12、 Graphical symbolsforuseonequipment.Index,surveyand compilationofthesinglesheets andIEC60617: Graphicalsymbolsfordiagrams. IECpublicationspreparedbythesame technicalcommittee Theattentionofreadersisdrawntotheendpagesof thispublicationwhichlisttheIECpublicationsissued bythetechnicalcommitteewhichhasp
13、reparedthe presentpublication. * Seewebsiteaddressontitlepage.NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 6051214 Premiredition Firstedition 199708 Composantslectromcaniquespour quipementslectroniques Procduresdessaidebaseet mthodesdemesure Partie1: Gnralits Section4:Essai1d:Efficacitdelapro
14、tection descontacts(scoopproof) Electromechanicalcomponentsfor electronicequipment Basictestingproceduresandmeasuring methods Part1: General Section4:Test1d:Contactprotection effectiveness(scoopproof) CommissionElectrotechniqueInternationale InternationalElectrotechnicalCommission Pourprix,voircatal
15、ogueenvigueur Forprice,seecurrentcatalogue IEC1997Droitsdereproductionrservs Copyrightallrightsreserved Aucunepartiedecettepublicationnepeuttrereproduiteni utilisesous quelqueformequecesoitetparaucun procd,lectroniqueoumcanique,ycomprislaphoto copieetlesmicrofilms,sanslaccordcritdelditeur. Nopartoft
16、hispublicationmaybereproducedorut ilizedin anyformorbyanymeans,electronicormechanical, includingphotocopyingandmicrofilm,withoutpermissionin writingfromthepublisher. InternationalElectrotechnicalCommission 3,ruedeVarembGeneva,Switzerland Telefax:+41229190300 email:inmailiec.ch IECwebsitehttp:/www.ie
17、c.ch CODEPRIX PRICECODE E 2 60512-1-4 CEI:1997 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ COMPOSANTS LECTROMCANIQUES POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES PROCDURES DESSAI DE BASE ET MTHODES DE MESURE Partie 1: Gnralits Section 4: Essai 1d: Efficacit de la protection des contacts (scoop-proof) AVANT-PROPOS
18、1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans
19、 les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvern
20、ementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concer
21、nant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont p
22、ublis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leu
23、rs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engag
24、e quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir iden
25、tifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 60512-1-4 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. La norme complte comprendra dau
26、tres essais qui paratront au fur et mesure de leur mise au point. Le texte de la prsente norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 48B/598/FDIS 48B/644/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette nor
27、me. Le contenu du corrigendum de novembre 2000 a t pris en considration dans cet exemplaire.60512-1-4 IEC:1997 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ ELECTROMECHANICAL COMPONENTS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT BASIC TESTING PROCEDURES AND MEASURING METHODS Part 1: General Section 4: Test 1d: Contac
28、t protection effectiveness (scoop-proof) FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on al
29、l questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may part
30、icipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreemen
31、t between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3) The docu
32、ments produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply I
33、EC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate
34、 its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for
35、identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 60512-1-4 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for electronic equipment. The complete standard will include other tests which will
36、 be issued as they become available. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 48B/598/FDIS 48B/644/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. The contents of the c
37、orrigendum of November 2000 have been included in this copy.4 6051214CEI:1997 COMPOSANTSLECTROMCANIQUES POURQUIPEMENTSLECTRONIQUES PROCDURESDESSAIDEBASEETMTHODESDEMESURE Partie1:Gnralits Section4:Essai1d:Efficacitdelaprotectiondescontacts (scoopproof) 1 Domainedapplicationetobjet Laprsentesectiondel
38、aCEI605121estutilise,lorsquelaspcificationparticulirele prescrit,pouressayerlescomposantslectromcaniquesdudomainedactivitdusous comit48BdelaCEI.Cetessaipeutaussitreeffectusurdesdispositifssimilaires lorsquunespcificationparticulireleprescrit. Lobjetdecetessaiestdedfinirunemthodenormalisepourvrifierl
39、aptitudedun connecteurdeprvenirletoucheraccidenteldesescontacts,parlavantduconnecteurauquel ilestaccoupl.Lintentionpremireestlapplicationdecettemthodeauxconnecteurs circulairesmultiplesquincessitentdtrescoopproof. 2Rfrence normative Ledocumentnormatifsuivantcontientdesdispositionsqui,parsuitedelarfr
40、encequiy estfaite,constituentdesdispositionsvalablespourlaprsentesectiondelaCEI605121. Aumomentdelapublication,lditionindiquetaitenvigueur.Toutdocumentnormatifest sujetrvisionetlespartiesprenantesauxaccordsfondssurlaprsentesectiondela CEI605121sontinvitesrechercherlapossibilitdappliquerlditionlaplus
41、rcentedu documentnormatifindiquciaprs.LesmembresdelaCEIetdelISOpossdentleregistre desNormesinternationalesenvigueur. CEI605122:1985, Composantslectromcaniquespourquipementslectroniques ProcduresdessaidebaseetmthodesdemesurePartie2:Examengnral,essaisde continuitlectriqueetdersistancedecontact,essaisd
42、isolementetessaisdecontrainte dilectrique 3 Prparationduspcimen Lesconnecteursdoiventtrequipsdetousleurscontacts. Ilsdoiventtrecblesenaccordaveclaspcificationparticulire. 4Mthodes dessai 4.1Procdure Undispositifpermettantdecontrlerlacontinuitlectrique,telquunohmmtre,doittre branchentrelebotier(coqui
43、llemtallique)delaficheettouslescontactsdelembaserelis ensemble. 4.2 MthodeA Onessaiedengager,demanireanormale,lafichequipedecontactsfemelleslembase quipedecontactsmles,sousdiversanglesetrotationscommeillustrlafigure1ettoute preuvedecontinuitlectriquedoittrenote.6051214IEC:1997 5 ELECTROMECHANICALCOM
44、PONENTSFORELECTRONICEQUIPMENT BASICTESTINGPROCEDURESANDMEASURINGMETHODS Part1:General Section4:Test1d:Contactprotectioneffectiveness (scoopproof) 1 Scopeandobject ThissectionofIEC605121istobeusedwhenreferencedbythedetailspecificationtotest mechanicalcomponentsoverseenbytheIECsubcommittee48B.Thistestcanalsobedoneon similardeviceswhenthedetailspecificationsoprescribes. Theobjectofthistestistodefineastandardtestmethodtoverifytheabilityofaconnectorto preventtheaccidentaltouchingofitscontactbythefrontofthematingconnector.Itis
