1、SPECIFICATIONTECHNIQUECEIIECTECHNICALSPECIFICATIONTS 62098Premire ditionFirst edition2000-11Mthodes dvaluation pour instruments microprocesseurEvaluation methods for microprocessor-based instrumentsNumro de rfrenceReference numberCEI/IEC/TS 62098:2001Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier
2、 1997, les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editions consolidesLes versions consolides de certaines publications de laCEI incorporant les amendements sont disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquentrespectivement
3、la publication de base, la publication debase incorporant lamendement 1, et la publication debase incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les publications de la CEILe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de
4、la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions,amendements et corrigenda. Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le
5、comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues, sontgalement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEILe catalogue en ligne sur le site web de la CEI(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire desre
6、cherches en utilisant de nombreux critres,comprenant des recherches textuelles, par comitdtudes ou date de publication. Des informationsen ligne sont galement disponibles sur lesnouvelles publications, les publications rempla-ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just PublishedCe rsum de
7、s dernires publications parues(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible parcourrier lectronique. Veuillez prendre contactavec le Service client (voir ci-dessous) pour plusdinformations. Service clientsSi vous avez des questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentair
8、es, prenez contact avec le Serviceclients:Email: custserviec.chTl: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 January 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 series. Forexample, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe I
9、EC is now publishing consolidated versions of itspublications. For example, edition numbers 1.0, 1.1and 1.2 refer, respectively, to the base publication,the base publication incorporating amendment 1 andthe base publication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe t
10、echnical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC, thus ensuring thatthe content reflects current technology. Informationrelating to this publication, including its validity, isavailable in the IEC Catalogue of publications(see below) in addition to new editions, amendment
11、sand corrigenda. Information on the subjects underconsideration and work in progress undertaken by thetechnical committee which has prepared thispublication, as well as the list of publications issued,is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publicationsThe on
12、-line catalogue on the IEC web site(www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to searchby a variety of criteria including text searches,technical committees and date of publication. On-line information is also available on recentlyissued publications, withdrawn and replacedpublications, as well as corrige
13、nda. IEC Just PublishedThis summary of recently issued publications(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.Please contact the Customer Service Centre (seebelow) for further information. Customer Service CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance, plea
14、secontact the Customer Service Centre:Email: custserviec.chTel: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00.SPECIFICATIONTECHNIQUECEIIECTECHNICALSPECIFICATIONTS 62098Premire ditionFirst edition2000-11Mthodes dvaluation pour instruments microprocesseurEvaluation methods for microprocessor-based instruments
15、Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical CommissionPour prix, voir catalogue en vigueurFor price, see current catalogue IEC 2001 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelq
16、ue forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et lesmicrofilms, sans laccord crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized inany form or by any means, electronic or mechanical,including photocopying and microfilm, without permiss
17、ion inwriting from the publisher.International Electrotechnical Commission 3, rue de Varemb Geneva, SwitzerlandTelefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.chCODE PRIXPRICE CODE W 2 TS 62098 CEI:2001SOMMAIREAVANT-PROPOS4INTRODUCTION.81 Gnralits.101.1 Domaine dapplication
18、.101.2 Rfrences normatives101.3 Dfinitions .102 Dveloppements en instrumentation.123 Considrations concernant lvaluation.143.1 Approche systme.143.2 Matrice dvaluation 163.3 Zone limite (interfaces)204 Technologie dvaluation204.1 Analyse de linstrument .204.2 Instruments sur une liaison de communica
19、tion numrique .304.3 Identification des proprits des instruments.324.4 Conditions dinfluence et essais 42Annexe A (normative) Considrations pour mesurer la prcision62Annexe B (informative) Mesures de lcart permanent dune boucle de rgulation64Annexe C (informative) Rsolution et perte de laction intgr
20、ale.66Annexe D (informative) Mise zro de lintgrateur par la protection anti-saturation68Annexe E (informative) Exemple pratique de matrice dvaluation72Bibliographie.76Figure 1 Modle de systme gnrique16Figure 2 Modle de matrice dvaluation18Figure 3 Flux des donnes fonctionnelles en E/S de linstrument
21、 .20Figure 4 Modle dinstrument gnrique 22Figure 5 Modle gnrique de systme avec une liaison de communication numrique .32Figure 6 Essai de vrification du fonctionnement .32Figure 7 Essai de vrification du fonctionnement .34Figure B.1 Sous-systmes Consigne entre64Figure D.1 Effets de la mise zro de li
22、ntgrateur par la protection anti-saturation 70Tableau 1 Fonctions des instruments analogiques et microprocesseur14TS 62098 IEC:2001 3 CONTENTSFOREWORD.5INTRODUCTION.91 General 111.1 Scope111.2 Normative references 111.3 Definitions .112 Developments in instrumentation 133 Evaluation considerations .
23、153.1 System approach.153.2 Evaluation matrix.173.3 Boundary area (interfaces).214 Evaluation technology.214.1 Instrument analysis214.2 Instruments on a digital communication link .314.3 Identification of instrument properties 334.4 Influencing conditions and related tests43Annex A (normative) Consi
24、derations on measuring accuracy 63Annex B (informative) Offset measurements of controllers65Annex C (informative) Resolution and loss of integral action .67Annex D (informative) Reset wind-up protection .69Annex E (informative) Practical example of evaluation matrix .73Bibliography77Figure 1 Generic
25、 system model 17Figure 2 Model of an evaluation matrix .19Figure 3 Functional information flows entering and exiting an instrument.21Figure 4 Generic instrument model.23Figure 5 Generic model of a system with a digital communication link .33Figure 6 Test for verifying functional operation33Figure 7
26、Test for verifying functional operation35Figure B.1 Setpoint/input subsystems .65Figure D.1 Reset wind-up effects71Table 1 Analog and microprocessor-based instrument functions .15 4 TS 62098 CEI:2001COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE_MTHODES DVALUATIONPOUR INSTRUMENTS MICROPROCESSEURAVANT-PRO
27、POS1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisationcompose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI apour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans
28、 lesdomaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normesinternationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit nationalintress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouverneme
29、ntales et nongouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitementavec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre lesdeux organisations.2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant le
30、s questions techniques reprsentent, dans la mesuredu possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intressssont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiscomm
31、e normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par lesComits nationaux.4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer defaon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la
32、 CEI dans leurs normesnationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionalecorrespondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire.5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilitnest
33、pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes.6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente spcification technique peuvent fairelobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pourresponsable de ne pas av
34、oir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence.La tche principale des comits dtudes de la CEI est llaboration des Normesinternationales. Exceptionnellement, un comit dtudes peut proposer la publication dunespcification technique lorsquen dpit de maints efforts, lacco
35、rd requis ne peut tre ralis en faveur de lapublication dune Norme internationale, ou lorsque le sujet en question est encore en cours de dveloppement technique ou quand,pour une raison quelconque, la possibilit dun accord pour la publication dune Normeinternationale peut tre envisage pour lavenir ma
36、is pas dans limmdiat.La CEI 62098, qui est une spcification technique, a t tablie par le sous-comit 65B:Dispositifs, du comit dtudes 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processusindustriels.Cette version bilingue (2001-05) remplace la version monolingue anglaise.Le texte anglais de cette spcif
37、ication technique est bas sur les documents 65B/388/CDV et65B/401/RVC. Le rapport de vote 65B/401/RVC donne toute information sur le vote ayantabouti lapprobation de cette spcification technique.La version franaise de cette spcification technique na pas t soumise au vote.Cette publication a t rdige
38、selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.TS 62098 IEC:2001 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION_EVALUATION METHODSFOR MICROPROCESSOR-BASED INSTRUMENTSFOREWORD1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprisingall national electrotech
39、nical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation
40、isentrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with mayparticipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaisingwith the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with th
41、e International Organizationfor Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the twoorganizations.2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, aninternational consensus of opinion on the relevant subjects
42、 since each technical committee has representationfrom all interested National Committees.3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the formof standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the Nat
43、ionalCommittees in that sense.4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC InternationalStandards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Anydivergence between the IEC Standard and the corresponding na
44、tional or regional standard shall be clearlyindicated in the latter.5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for anyequipment declared to be in conformity with one of its standards.6) Attention is drawn to the possibility that some of the e
45、lements of this technical specification may be the subjectof patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.The main task of IEC technical committees is to prepare International Standards. Inexceptional circumstances, a technical committee may prop
46、ose the publication of a technicalspecification when the required support cannot be obtained for the publication of an International Standard,despite repeated efforts, or The subject is still under technical development or where, for any other reason, there is thefuture but no immediate possibility
47、of an agreement on an International Standard.IEC 62098, which is a technical specification, has been prepared by subcommittee 65B:Devices, of IEC technical committee 65: Industrial-process measurement and control.This bilingual version (2001-05) replaces the English version.The text of this technica
48、l specification is based on the following documents:Enquiry draft Report on voting65B/388/CDV 65B/401/RVCFull information on the voting for the approval of this technical specification can be found in thereport on voting indicated in the above table.This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3. 6 TS 62098 CEI:2001Lannexe A fait partie intgrante de cette spcification technique.Les annexes B, C, D et E sont donnes uniquement pour information.Le comit a dcid que
