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    IEC 62230-2006 Electric cables - Spark-test method《电缆.火花试验方法》.pdf

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    IEC 62230-2006 Electric cables - Spark-test method《电缆.火花试验方法》.pdf

    1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62230Premire ditionFirst edition2006-05Cbles lectriques Mthode dessai au dfilement sec (sparker) Electric cables Spark-test method Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 62230:2006 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IH

    2、S under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions co

    3、nsolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2.

    4、Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des public

    5、ations de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par linterm

    6、diaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication.

    7、Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuill

    8、ez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 2

    9、2 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition nu

    10、mbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, t

    11、hus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work

    12、in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables yo

    13、u to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publicatio

    14、ns (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email:

    15、custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62230Premire diti

    16、onFirst edition2006-05Cbles lectriques Mthode dessai au dfilement sec (sparker) Electric cables Spark-test method Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tr

    17、e reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including phot

    18、ocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE R Commissio

    19、n Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 2 62230 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 INTRODUCTIO

    20、N.8 1 Domaine dapplication 10 2 Types des formes dondes de tension.10 3 Mthode .10 4 Equipement 12 4.1 Scurit.12 4.2 Source de haute tension12 4.3 Equipement de contrle de la tension16 4.4 Indicateur de dfaut 18 4.5 Electrodes .18 4.6 Construction des lectrodes 18 5 Tensions dessai.20 6 Sensibilit 2

    21、0 6.1 Tensions en courant alternatif, en courant continu et haute frquence20 6.2 Tensions avec impulsion .22 6.3 Mthode dvaluation 22 7 Calibrage24 7.1 Gnralits24 7.2 Frquence de la vrification 24 Annexe A (informative) Niveaux de tension minimaux recommands .26 Annexe B (informative) Exemple de dis

    22、positif de dfaut artificiel30 Annexe C (informative) Notes sur lutilisation des sparkers32 Bibliographie.36 Figure 1 Exigences pour les formes donde avec impulsion Temps de monte de limpulsion 14 Figure 2 Exigences pour les formes donde avec impulsion Fluctuation de la valeur de crte et vitesse de r

    23、ptition de limpulsion14 Figure 3 Exigences pour les formes donde avec impulsion Dure dimpulsion.16 Figure B.1 Aiguille utiliser dans le dispositif de dfaut artificiel .30 Tableau A.1 Tensions minimales dessai au sparker recommandes pour les cbles de tension nominale (U0) comprise entre 300 V et 3 00

    24、0 V26 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-62230 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 INTRODUCTION.9 1 Scope.11 2 Types of voltage waveform .11 3 Procedure 11 4 Equipment

    25、 13 4.1 Safety .13 4.2 High voltage source.13 4.3 Voltage monitoring equipment .17 4.4 Fault indicator .19 4.5 Electrodes .19 4.6 Design of electrodes19 5 Test voltages21 6 Sensitivity.21 6.1 AC, d.c. and h.f. voltages 21 6.2 Pulsed voltages.23 6.3 Method of assessment.23 7 Calibration25 7.1 General

    26、 .25 7.2 Verification frequency25 Annex A (informative) Recommended minimum voltage levels .27 Annex B (informative) Example of an artificial fault device .31 Annex C (informative) Notes on the use of spark testing machines 33 Bibliography37 Figure 1 Requirements for pulsed waveforms Rise time of wa

    27、vefront 15 Figure 2 Requirements for pulsed waveforms Fluctuation of peak value and pulse repetition rate .15 Figure 3 Requirements for pulsed waveforms Pulse duration 17 Figure B.1 Needle for use in the artificial fault device.31 Table A.1 Recommended minimum spark-test voltages for cables having r

    28、ated voltage (U0) between 300 V and 3 000 V.27 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 4 62230 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CBLES LECTRIQUES M

    29、THODE DESSAI AU DEFILEMENT SEC (SPARKER) AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internat

    30、ionale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-ap

    31、rs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux trav

    32、aux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord interna

    33、tional sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts rais

    34、onnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internatio

    35、nale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondan

    36、tes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession d

    37、e la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages

    38、corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au

    39、crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publi

    40、cation de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 62230 a t tablie par le comit dtudes

    41、 20 de la CEI: Cbles lectriques. La prsente norme, base sur la norme europenne EN 50356 (2002), a t prpare par le Comit technique 20 du CENELEC: Cbles lectriques. Elle a t soumise aux comits nationaux pour vote suivant la procdure par voie express. Le texte de cette norme est issu des documents suiv

    42、ants: FDIS Rapport de vote 20/810/FDIS 20/816/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2. Copyright International Electrotechnical Commission

    43、Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-62230 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ ELECTRIC CABLES SPARK-TEST METHOD FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organ

    44、ization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities,

    45、IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt w

    46、ith may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by

    47、agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in


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