1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62044-2Premire ditionFirst edition2005-03Noyaux en matriaux magntiques doux Mthodes de mesure Partie 2: Proprits magntiques niveau dexcitation faible Cores made of soft magnetic materials Measuring methods Part 2: Magnetic properties at low excitatio
2、n level Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 62044-2:2005 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI
3、 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publicat
4、ions de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus d
5、es nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) C
6、atalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disp
7、onibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (v
8、oir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1
9、January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively,
10、to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects curre
11、nt technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical comm
12、ittee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria includi
13、ng text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also
14、available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +4
15、1 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62044-2Premire ditionFirst edition2005-03Noyaux en matriaux magntiques doux Mthodes de mesure Partie 2: Proprits magntiques niveau dexcitation faible Cores made of soft magnetic materials Measuring methods Part 2: Magnetic properties
16、at low excitation level Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2005 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou
17、mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International El
18、ectrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE V Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 62044-2 CEI:2
19、005 SOMMAIRE AVANT-PROPOS6 1 Domaine dapplication et objet 10 2 Rfrences normatives .10 3 Dfinitions10 4 Symboles .12 5 Conditions denvironnement16 6 Prcautions gnrales pour les mthodes concernant les mesures de permabilit16 6.1 Paramtres concerns.16 6.2 Montage de noyaux constitus de plus dune part
20、ie16 7 Prcautions gnrales concernant la mesure des pertes faible induction.16 7.1 Pertes contributives.16 7.2 Montage18 8 Conditionnement magntique18 9 Mesure dinductance.20 9.1 Gnralits20 9.2 Dtermination du signal dessai .20 9.3 Dtermination de la bobine dessai.22 9.4 Considrations pour lalignemen
21、t de noyaux pendant lessai.26 9.5 Mesure dinductance sous linfluence du champ magntique courant continu .28 9.6 Paramtres lis la gomtrie du noyau30 9.7 Paramtres des matriaux magntiques.32 10 Dsaccommodation 36 11 Coefficient de temprature de permabilit .36 11.1 Eprouvettes.36 11.2 Procdure de mesur
22、e 38 12 Pertes faible induction .40 12.1 Objet.40 12.2 Bobine de mesure40 12.3 Mesure de la perte par courant de Foucault et courant diffrentiel 40 12.4 Mesure de la perte par hystrsis 42 13 Distorsion harmonique totale 44 13.1 prouvette.44 13.2 Instrument et circuit de mesure 44 13.3 Procdure de me
23、sure 44 13.4 Valeur ALet conditions denroulement pour la mesure de THDF46 13.5 Caractristiques de matriaux THDF.46 14 Point de Curie 48 15 Impdance normalise, conductivit parallle et affaiblissement dinsertion .48 15.1 Gnralits48 15.2 Procdure de mesure 48 15.3 Impdance normalise.50 15.4 Conductivit
24、 parallle 50 62044-2 IEC:2005 3 CONTENTS FOREWORD.7 1 Scope and object11 2 Normative references .11 3 Definitions11 4 Symbols .13 5 Environmental conditions17 6 General precautions for methods involving permeability measurements .17 6.1 Parameters involved 17 6.2 Mounting of cores consisting of more
25、 than one part 17 7 General precautions for loss measurement at low flux density .17 7.1 Contributory losses17 7.2 Mounting .19 8 Magnetic conditioning.19 9 Inductance measurement21 9.1 General .21 9.2 Determination of the test signal21 9.3 Determination of the test coil .23 9.4 Considerations for c
26、ore alignment during test.27 9.5 Measurement of inductance under the influence of d.c. magnetic field 29 9.6 Parameters related to core geometry .31 9.7 Magnetic material parameters33 10 Disaccommodation .37 11 Temperature coefficient of permeability.37 11.1 Specimens 37 11.2 Measuring procedure .39
27、 12 Losses at low flux density .41 12.1 Object .41 12.2 Measuring coil .41 12.3 Measurement of residual and eddy current loss41 12.4 Measurement of the hysteresis loss .43 13 Total harmonic distortion 45 13.1 Specimen 45 13.2 Measuring instrument and circuit45 13.3 Measuring procedure .45 13.4 ALval
28、ue and winding conditions for THDFmeasurement.47 13.5 Material characteristics THDF47 14 Curie temperature.49 15 Normalized impedance, parallel conductivity, and insertion loss.49 15.1 General .49 15.2 Measuring procedure .49 15.3 Normalized impedance 51 15.4 Parallel conductivity.51 4 62044-2 CEI:2
29、005 Annexe A (informative) Dsaccommodation52 Annexe B (informative) Conditions de mesure pour les essais de THD 56 Figure 1 Reprsentation par lillustration de leffet de la frquence de rsonance propre sur la valeur de linductance mesure.22 Figure 2 Circuit de mesure THDF44 Figure 3 Point de Curie 48
30、Figure B.1 Induction en fonction du nombre de spires.56 Figure B.2 Facteur de correction de circuit (CCF) en fonction du nombre de spires .60 Tableau 1 Relation des spires dessai la structure magntique, la frquence dessai et le facteur dinductance AL.24 Tableau 2 Spcimen de valeur ALet conditions de
31、nroulement pour la mesure de THDF46 62044-2 IEC:2005 5 Annex A (informative) Disaccommodation.53 Annex B (informative) Measurement conditions for THD testing 57 Figure 1 Pictorial representation of the effect of self-resonant frequency on the value of measured inductance.23 Figure 2 THDFmeasuring ci
32、rcuit 45 Figure 3 Curie temperature 49 Figure B.1 Flux density as a function of number of turns .57 Figure B.2 Circuit correction factor (CCF) as a function of number of turns61 Table 1 Relationship of test turns to magnetic structure, test frequency and inductance factor AL.25 Table 2 Specimen of A
33、Lvalue and winding conditions for THDFmeasurement 47 6 62044-2 CEI:2005 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ NOYAUX EN MATRIAUX MAGNTIQUES DOUX MTHODES DE MESURE Partie 2: Proprits magntiques niveau dexcitation faible AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une
34、 organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, l
35、a CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit
36、 national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixe
37、s par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit
38、dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne p
39、eut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Pu
40、blications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant in
41、dication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, em
42、ploys, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour support
43、er les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilis
44、ation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait
45、tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 62044-2 a t tablie par le comit dtudes 51 de la CEI: Composants magntiques et ferrites. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Ra
46、pport de vote51/804/FDIS 51/816/RVD Le rapport de vote indiqu dans le Tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. 62044-2 IEC:2005 7 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ CORES MADE OF SOFT MAGNETIC MATERIALS MEASURING METHODS Part 2: Magneti
47、c properties at low excitation level FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questi
48、ons concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interes
