1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62008Premire ditionFirst edition2005-07Caractristiques de performance et mthodes dtalonnage pour les systmes dacquisition de donnes numriques et logiciels appropris Performance characteristics and calibration methods for digital data acquisition syst
2、ems and relevant software Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 62008:2005 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines public
3、ations de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires
4、sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-de
5、ssous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CE
6、I (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne so
7、nt galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le S
8、ervice client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numb
9、ering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer
10、, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the conten
11、t reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by th
12、e technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of
13、criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/j
14、ustpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 9
15、19 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62008Premire ditionFirst edition2005-07Caractristiques de performance et mthodes dtalonnage pour les systmes dacquisition de donnes numriques et logiciels appropris Performance characteristics and calibration methods f
16、or digital data acquisition systems and relevant software Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2005 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit e
17、t par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing fr
18、om the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE X Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrote
19、chnical Commission 2 62008 CEI:2005 SOMMAIRE AVANT PROPOS 6 INTRODUCTION.10 1 Domaine dapplication 12 2 Rfrences normatives.12 3 Termes, dfinitions, abrviations et symboles.14 3.1 Termes et dfinitions.14 3.2 Abrviations et symboles.16 4 Exigences gnrales 16 4.1 Procdures dessai et estimation de linc
20、ertitude de mesure 16 4.2 Exigences gnrales relatives aux MAN18 4.3 Description des paramtres.18 4.4 Mthodes dessai des paramtres mesurables 26 5 Fonctionnalit matrielle pour ltalonnage.50 5.1 Information sur ltalonnage embarqu50 5.2 Matriel gnral dajustement de mesure 50 5.3 Matriel dauto-talonnage
21、 52 6 Mthodes de calibrage logicielles .52 6.1 Interface de programmation associe dtalonnage (API) 52 6.2 Mthodes dauto-talonnage .52 6.3 Mthodes dtalonnage lextrieur 54 7 Procdures relatives ltalonnage54 Annexe A (informative) Exemples de calcul de lincertitude systme dacquisition de donnes (DAQ) m
22、odulaire.56 Annexe B (normative) Pseudo-code pour raliser lessai statique par la mthode B (voir 4.4.1.2) et un exemple numrique.62 Annexe C (informative) Caractristiques du module analogique numrique .82 Bibliographie.92 Figure 1 Signal dessai appliqu au MAN .30 Figure 2 Procdure dessai 34 Figure 3
23、Reprsentation dans diffrentes chelles de gris des histogrammes cumulatifs calculs chaque pas dans le cas dun MAN 5-bits et dun essai avec 4 pas.34 Figure 4 Dispositions dessai pour les mesures de bruit sur les Modules analogiques numriques (MAN)42 Figure C.1 MAN bipolaire avec rel zro84 Figure C.2 M
24、AN bipolaire sans rel zro86 Figure C.3 Erreur de dcalage (spcifi au pas 000)88 Figure C.4 Erreur de gain (aprs la correction de lerreur de dcalage) (spcifi au pas 011) .90 62008 IEC:2005 3 CONTENTS FOREWORD.7 INTRODUCTION.11 1 Scope.13 2 Normative references .13 3 Terms, definitions, abbreviations a
25、nd symbols15 3.1 Terms and definitions 15 3.2 Abbreviations and symbols17 4 General requirements.17 4.1 Test procedures and measurement uncertainty estimation 17 4.2 General requirements for ADMs 19 4.3 Descriptions of parameters19 4.4 Testing methods of measurable parameters 27 5 Hardware functiona
26、lity for calibration51 5.1 Onboard calibration information.51 5.2 General measurement adjustment hardware51 5.3 Self-adjustment hardware53 6 Software calibration methods53 6.1 Calibration application programming interface (API) 53 6.2 Self-calibration methods53 6.3 External calibration methods .55 7
27、 Calibration procedures .55 Annex A (informative) Examples of calculation of modular DAQ system uncertainty.57 Annex B (normative) Pseudo-code to perform static test by method B (see 4.4.1.2) and a numerical example 63 Annex C (informative) ADM characteristics 83 Bibliography93 Figure 1 Test signals
28、 applied to the ADM.31 Figure 2 Test procedure.35 Figure 3 Representation in different grey tones of the cumulative histograms computed in each step in the case of a 5-bit ADM and a test with 4 steps.35 Figure 4 Test arrangement for noise measurements on ADMs .43 Figure C.1 Bipolar ADM with true zer
29、o .85 Figure C.2 Bipolar ADM with no true zero 87 Figure C.3 Offset (specified at step 000)89 Figure C.4 Gain component of uncertainty (after correction of offset) (specified at step 011) 91 4 62008 CEI:2005 Tableau 1 Prcision des estimations du niveau de transition de code pour diffrentes longueurs
30、 denregistrement.28 Tableau 2 Exemple de spcification des paramtres du module analogique numrique pour lvaluation de lincertitude de mesure du dispositif dacquisition de donnes (DAQ).48 Tableau B.1 Drivation de lamplitude (A) et de lerreur de dcalage (Cj) des petites ondes triangulaires, du nombre d
31、chantillons par archive (M) et du nombre darchives (R)72 Tableau B.2 Rsultats de lessai dhistogramme et des tensions de passage correspondantes pour un MAN 5-bits test par la mthode B en 4 pas74 Tableau B.3 Drivation non-linarit intgrale et Non-Linarit Diffrentielle partir des tensions de passage me
32、sures 78 62008 IEC:2005 5 Table 1 Precision of estimates of code transition level for different record lengths 29 Table 2 Example of parameters specification of ADM for measurement uncertainty estimation of DAQ device49 Table B.1 Derivation of the amplitude (A) and offset (Cj) of the small triangula
33、r waves, the number of samples per record (M) and the number of records (R). 73 Table B.2 Results of the histogram test and corresponding transition voltages for a 5-bit ADM tested by method B in 4 steps 75 Table B.3 Deriving INL and DNL from the measured transition voltages.79 6 62008 CEI:2005 COMM
34、ISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ CARACTRISTIQUES DE PERFORMANCE ET MTHODES DTALONNAGE POUR LES SYSTMES DACQUISITION DE DONNES NUMRIQUES ET LOGICIELS APPROPRIS AVANT PROPOS1) La Commission lectrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble
35、des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales
36、, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les org
37、anisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou
38、 accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les publications de la CEI se prsentent sous la forme de rec
39、ommandations Internationales et sont agres comme tels par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou inter
40、prtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Tout
41、e divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme l
42、une de ses normes. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comit
43、s dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de luti
44、lisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est indispensable pour une application correcte de la prsente publ
45、ication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoi
46、r signal leur existence. La norme internationale CEI 62008 a t tablie par le Comit dtudes 85: Equipement de mesure des grandeurs lectriques et lectromagntiques. Le texte de la prsente norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote85/267/FDIS 85/268/RVD Le rapport de vote indiqu dans le
47、tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de la prsente Norme. La version franaise de cette norme na pas t soumise au vote. Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.62008 IEC:2005 7 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ PERFORMANC
48、E CHARACTERISTICS AND CALIBRATION METHODS FOR DIGITAL DATA ACQUISITION SYSTEMS AND RELEVANT SOFTWARE FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on
