1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61788-1Deuxime ditionSecond edition2006-11Supraconductivit Partie 1: Mesure du courant critique Courant critique continu de supraconducteurs en composite Nb-Ti Superconductivity Part 1: Critical current measurement DC critical current of Nb-Ti compos
2、ite superconductors Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61788-1:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publicatio
3、ns de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur
4、les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessou
5、s) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (w
6、ww.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont g
7、alement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Servi
8、ce client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numberin
9、g As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, re
10、spectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content re
11、flects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the te
12、chnical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of crit
13、eria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justp
14、ub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 0
15、2 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61788-1Deuxime ditionSecond edition2006-11Supraconductivit Partie 1: Mesure du courant critique Courant critique continu de supraconducteurs en composite Nb-Ti Superconductivity Part 1: Critical current measurement DC crit
16、ical current of Nb-Ti composite superconductors Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucu
17、n procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the pub
18、lisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE U Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Co
19、mmission 2 61788-1 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS4 INTRODUCTION.8 1 Domaine dapplication 10 2 Rfrences normatives.10 3 Termes et dfinitions 10 4 Principe14 5 Exigences 14 6 Appareillage .16 6.1 Matriau du mandrin de mesurage 16 6.2 Construction du mandrin .16 7 Prparation du spcimen18 7.1 Fixation d
20、u spcimen 18 7.2 Montage du spcimen .18 8 Procdure de mesure .20 9 Incertitude de la mthode dessai .22 9.1 Courant critique.22 9.2 Temprature22 9.3 Champ magntique .22 9.4 Structure de support du spcimen et du mandrin.24 9.5 Protection du spcimen .24 10 Calcul des rsultats 24 10.1 Critres de courant
21、 critique .24 10.2 Valeur n (calcul facultatif, se reporter A.7.2).26 11 Compte rendu dessai.28 11.1 Identification du spcimen dessai .28 11.2 Compte rendu des valeurs Ic.28 11.3 Compte rendu des conditions dessai 28 Annexe A (informative) Informations supplmentaires relatives la norme 30 Annexe B (
22、informative) Effet de champ induit.46 Annexe C (normative) Mthode dessai pour les supraconducteurs composites Cu/Cu-Ni/Nb-Ti .50 Annexe D (informative) Guide pour lestimation de la force de traction denroulement52 Bibliographie.56 Figure 1 Caractristique U-I intrinsque.26 Figure 2 Caractristique U-I
23、 avec une composante de transfert de courant26 Figure A.1 Instrumentation du spcimen avec une paire de prises de tension nulle44 Tableau D.1 Valeurs typiques de E temprature ambiante pour divers matriaux54 61788-1 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.5 INTRODUCTION.9 1 Scope.11 2 Normative references .11 3
24、Terms and definitions .11 4 Principle .15 5 Requirements .15 6 Apparatus.17 6.1 Measurement mandrel material .17 6.2 Mandrel construction .17 7 Specimen preparation.19 7.1 Specimen bonding.19 7.2 Specimen mounting.19 8 Measurement procedure.21 9 Uncertainty of the test method23 9.1 Critical current.
25、23 9.2 Temperature23 9.3 Magnetic field23 9.4 Specimen and mandrel support structure.25 9.5 Specimen protection25 10 Calculation of results25 10.1 Critical current criteria .25 10.2 n-value (optional calculation, refer to A.7.2) 27 11 Test report29 11.1 Identification of test specimen .29 11.2 Repor
26、t of Icvalues 29 11.3 Report of test conditions29 Annex A (informative) Additional information relating to the standard.31 Annex B (informative) Self-field effect47 Annex C (normative) Test method for Cu/Cu-Ni/Nb-Ti composite superconductors 51 Annex D (informative) Guidance for estimating winding t
27、ensile force53 Bibliography57 Figure 1 Intrinsic U-I characteristic 27 Figure 2 U-I characteristic with a current transfer component.27 Figure A.1 Instrumentation of specimen with a null voltage tap pair .45 Table D.1 Typical values of E at room temperature for various materials .55 4 61788-1 CEI:20
28、06 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ SUPRACONDUCTIVIT Partie 1: Mesure du courant critique Courant critique continu de supraconducteurs en composite Nb-Ti AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble
29、 des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationale
30、s, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les or
31、ganisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions o
32、u accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la f
33、orme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisa
34、tion ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et r
35、gionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour l
36、es quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts par
37、ticuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses
38、dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une appl
39、ication correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels
40、droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61788-1 a t tablie par le comit dtudes 90 de la CEI: Supraconductivit. Cette deuxime dition annule et remplace la premire dition publie en 1998. Cette dition constitue une rvision technique. Les modifications tec
41、hniques majeures apportes cette seconde dition comprennent: laddition dune Annexe C normative et dune Annexe D informative; les termes exactitude et prcision ont t remplacs par le terme incertitude; luniformit du champ magntique, qui tait spcifie 2 %, a t rduite pour tre infrieure la valeur la plus
42、grande de 0,5 % ou 0,02 T. 61788-1 IEC:2006 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ SUPERCONDUCTIVITY Part 1: Critical current measurement DC critical current of Nb-Ti composite superconductors FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for stan
43、dardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes In
44、ternational Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may particip
45、ate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement betwee
46、n the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications
47、 have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
48、misinterpretation by any end user. 4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter. 5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered
