1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1580-2 Premire dition First edition 1996-06 Mthodes de mesure appliques aux guides dondes - Partie 2: Niveau des produits dintermodulation Methods of measurement for waveguides - Part 2: Level of intermodulation products Numro de rfrence Reference
2、number CEMEC 1580-2: 1996 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.
3、0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la presente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil
4、reflete ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi q
5、ue la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Cite web de la CE* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne) Disponible la fois au , de la CE* et comme priodique imprim Bulletin de la CE1 Terminologie, symbo
6、les graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symb
7、oles littraux 2 utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, rele ve et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse site web sur la page de titre. Num ber ng As from 1 January 1997 all
8、IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- por
9、ating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirma
10、tion of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web
11、site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I EC 60050: International Electrotech
12、nical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the
13、 single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1580-2 Premiere dition First edition 1996-06 Mthodes de mesure appliques aux guides dondes - Partie 2: Niveau des produits dintermodulation Methods
14、of measurement for waveguides - Part 2: Level of intermodulation products O CE1 1996 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No pari of this publication may be reproduced or utilized utilise sous quelque forme que c
15、e soit et par aucun procd. in any form or by any means, electronic or mechanical. lectronique ou mcanique, y compris ia photocopie et les including photocopying and microfilm, without microfilms. sans Saccord crit de Sditeur. permission in writing from the publisher Bureau central de la Commission E
16、lectrotechnique Internationale 3. rue de Varemb Genve Suisse J Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE MewyHapOnHaR 3neporexeca KOMHCCHR Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue AVANT-PROPOS Articles -2- S
17、OMMAIRE 1580-2 O CEI:1996 1 Domaine dapplication . 2 Principe . 3 Montage . 3.1 3.2 3.3 3.4 Montage 1 Equipement dessai Montage 2 Equipement dessai 4 Prparation du spcimen pour essai . 5 Procdure 6 Expression des rsultats 7 Exigences Pages 4 6 6 8 8 10 10 12 12 14 14 14 Figures 1 Montage 1 16 2 Mont
18、age 2 17 1580-2 O IEC: 1996 FOREWORD . Clause . -3- CONTENTS . 1 Scope . 2 Principle . 3 Set-up 3.1 3.2 3.3 3.4 Set-up 1 . Test equipment . Test equipment . Set-up 2 . 4 Preparation of test specimen 5 Procedure . 6 Expression of results . 7 Requirements . Page 5 7 7 9 9 11 11 13 13 15 15 15 Figures
19、1 Set-up 1 . 16 2 Set-up 2 : 17 -4- 1580-2 O CEI:1996 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE METHODES DE MESURE APPLIQUES AUX GUIDES D?ONDES - Partie 2: Niveau des produits d?intermodulation AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalis
20、ation compose de l?ensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de l?lectricit et de l?lectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, p
21、ublie des Normes Internationales. Leur laboration est confie des comits d?tudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux.
22、 La CE1 collabore troitement avec l?Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou accords officiels de la CE1 concernant les questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possible un accord international
23、 sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit d?tudes. Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux.
24、Dans le but d?encourager l?unification internationale, les Comits nationaux de la CE1 s?engagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CE1 et la norme nation
25、ale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La CE1 n?a fix aucune procdure concernant le marquage comme indication d?approbation et sa responsabilit n?est pas engage quand un matriel est dclar conforme l?une de ses normes. L?attention est attire sur le fait q
26、ue certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire l?objet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CE1 ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme international
27、e CE1 1580-2 a t tablie par le sous-comit 46B: Guides d?ondes et dispositifs accessoires, du comit d?tudes 46 de la CEI: Cbles, fils, guides d?ondes, connecteurs et accessoires pour communications et signalisation. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: I FDIS 1 Rapport devote I I
28、46B/207/FDIS I 46B/213/RVD l Le rapport de ayant abouti vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote l?approbation de cette norme. 1580-2 O I EC: 1996 -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION FDIS 46 Bl207lF D I S METHODS OF MEASUREMENT FOR WAVEGUIDES - Part 2: Leve
29、l of intermodulation products Report on voting 46B1213/RVD FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international
30、co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject d
31、ealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions dete
32、rmined by agreement between the two organizations. The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, express as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committe
33、es. The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. In order to promote international unification, IEC National Committees undertake t
34、o apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 2) 3) 4) 5) The IEC provides no marking pro
35、cedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. IEC shall not be held respo
36、nsible for identifying any or all such patent rights. 6) International Standard IEC 1580-2 has been prepared by subcommittee 46B: Waveguides and their accessories, of IEC technical committee 46: Cables, wires, waveguides, r.f. connectors, and accessories for communication and signalling. The text of
37、 this standard is based on the following documents: Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. -6- 1580-2 O CE111 996 MTHODES DE MESURE APPLIQUES AUX GUIDES DONDES - Partie 2: Niveau des produits dintermodulatio
38、n 1 Domaine dapplication La prsente partie de la CE1 1580 est applicable aux produits dintermodulation dans les guides dondes. Lobjet de la procdure dessai donne ci-aprs est de caractriser le niveau des signaux non dsirs, d la prsence de deux ou plusieurs signaux de transmission dans les guides dond
39、es ou leurs assemblages. La thorie fondamentale de la gnration des produits dintermodulation dans les circuits HF fait lobjet dune bonne documentation. Dans le cas de composants passifs de guides dondes, la distorsion dintermodulation est cause par des sources de non-linarit de nature la plupart du
40、temps inconnue, localisation et mcanisme. Voici quelques exemples: contacts entre mtaux, produits corrosifs, poussire, etc. La plupart de ces non-linarits gnrent des produits dintermodulation mesurables seulement pour des niveaux de puissance HF relativement levs (1 W). On trouve frquemment des effe
41、ts de seuil et de coupure. De plus, la plupart de ces effets sont sujets des variations par suite de contraintes mcaniques, de changements de temprature, de variations dans les caractristiques du matriau (courant froid, etc.), de changements climatiques etc. NOTE - La gnration des produits dintermod
42、ulation ne suit pas ncessairement la loi de lquation non linaire usuelle de forme quadratique. Cependant, linterpolation des niveaux de puissance plus leves ou plus bas, causant Iintermodulation, nest pas autorise. Dautre part, les sources dintermodulation ne sont pas en gnral slectives en frquence.
43、 Cela permet dessayer les guides dondes une frquence particulire dans la bande de service. 2 Principe Pour lessai, on combine, avec des niveaux de puissance gale, les frquences Fp, Fq, Fr, Fn, qui sont introduites dans le guide dondes a lessai (WUT). Le ou les signaux dessai devraient contenir moins
44、 de 10 dB dharmoniques ou de signaux dintermodulation par rapport au niveau souhait gnr dans le WUT. Utilisant deux gnrateurs avec des frquences diffrentes Fp et Fq, les produits dintermodulation du troisime ordre sont mesurs avec un rcepteur talonn. Les signaux non dsirs dans la bande de frquences
45、du guide dondes sont: 4s =2 Fp - Fq 1580-2 O IEC: 1996 -7- METHODS OF MEASUREMENT FOR WAVEGUIDES - Part 2: Level of intermodulation products 1 Scope This part of IEC 1580 is applicable to intermodulation products in waveguides. The objective of the test procedure given below is to characterise the l
46、evel of unwanted signals caused by the presence of two or more transmitting signals in waveguides or waveguide assemblies. The basic theory of the generation of intermodulation products in RF circuits is well described in the literature. In the case of passive waveguide components, intermodulation d
47、istortion is caused by sources of non-linearity of mostly unknown nature, location and behaviour. A few examples are: intermetallic contacts, corrosion products, dirt, etc. Most of these non-linearities generate measurable intermodulation products only when exposed to relatively high RF-power levels
48、 (1 W). Threshold and cut-off effects are found frequently. In addition, most of these effects are subject to changes over time due to mechanical stress, temperature changes, variations in material characteristics (cold flow, etc.), climatic changes and so on. NOTE - The generation of intermodulatio
49、n products does not necessarily follow the law of the usual non- linear equation of quadratic form. Therefore, interpolation to higher or lower power levels causing the intermodulation is not allowed. On the other hand, sources of intermodulation tend to be not frequency selective. This allows for testing waveguides at
