1、CEI 61580 (Premire dition 1995) Mesure des pertes de rflexion dans un guide dondes et des assemblages de guides donde IEC 61580 (First edition 1995) Measurement of return loss on waveguide and waveguide assemblies CORRIGENDUM 1 Page 4 1 Domaine dapplication Remplacer ) 20 / ( 10 ar r = par: ) 20 / (
2、 10 r a r = Juillet 2006 Page 5 1 Scope Replace ) 20 / ( 10 ar r = by: ) 20 / ( 10 r a r = July 2006 NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1580 Premire dition First edition 1995-1 1 Mesure des pertes de rflexion dans un guide dondes et des assemblages de guides dondes Measurement of re
3、turn loss on waveguide and waveguide assemblies Numro de reference Reference number CEMEC 1580: 1995 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incor
4、porant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la presente publication Le contenu tech
5、nique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflete ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en co
6、urs entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI“ Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Disponible la fois au
7、 site web, de la CEI* et comme priodique imprim Bulletin de la CE1 Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et
8、 les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux ri utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas.
9、 * Voir adresse site web, sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1
10、and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the co
11、ntent reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as t
12、he list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site“ Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols F
13、or general terminology, readers are referred to I EC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IE
14、C 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 1580 Premire dition First edition 1995-1 1 Mesure des pertes de
15、 rflexion dans un guide dondes et des assemblages de guides dondes Measurement of return loss on waveguide and waveguide assemblies 0 CE1 1995 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ?
16、 soit et par aucun prw ckI.4, lectronique ou deanique, y mmpk h photocopie et les microfilms. sans laccord crt de Idiiteur. No part 01 this publication may be repodd or utilled m any form or by any means, electronic or mechanical. including photocwying and microfih, without permission in writing fro
17、mthe publisher. Bureau Centrai de la Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varemb Genve, Suisse Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX international Electrotechnical Commission PRICE CODE F MeWyHapoAHaR Snelcrporexrecna HOMHCCHR 0 Pour prix. voir catalogue en vigueur For
18、 price, see correnf catalogue -2- FDIS 1580 0 CEI:1995 Rapport de vote COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE 46Bl149lFDIS MESURE DES PERTES DE RFLEXION DANS UN GUIDE DONDES ET DES ASSEMBLAGES DE GUIDES DONDES 46Bl150lRVD AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une or
19、ganisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la C
20、EI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, partic
21、ipent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lorganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou accords officiels de la CE1 concernant des questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possib
22、le, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales; ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels
23、par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la
24、 CE1 et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La CE1 na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. Lattention est at
25、tire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CE1 ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La No
26、rme internationale CE1 1580 a t tablie par le sous-comit 46B: Guides dondes et dispositifs accessoires, du comit dtudes 46 de la CEI: Cbles, fils, guides dondes, con- necteurs, et accessoires pour communications et signalisation. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Le rapport de
27、 vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. 1580 0 IEC:1995 FDIS 46B49FDIS -3- Report on voting 46BI50lRVD INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION MEASUREMENT OF RETURN LOSS ON WAVEGUIDE AND WAVEGUIDE ASSEMBLIES FOREWORD The
28、IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international cooperation on all questions concerning standardization in the electrical a
29、nd electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmen
30、tal and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. The formal decisions or a
31、greements of the IEC on technical matters, express as nearly as possible an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. The documents produced have the form of recommendations for international
32、 use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possi
33、ble in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment decl
34、ared to be in conformity with one of its standards. Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. International Standard IEC 1580 has
35、 been prepared by sub-committee 468: Waveguides and their accessories, of IEC technical committee 46: Cables, wires, waveguides, R.F. connectors, and accessories for communication and signalling. The text of this standard is based on the following documents: Full information on the voting for the ap
36、proval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. -4- 1580 0 CEI:1995 MESURE DES PERTES DE RFLEXION DANS UN GUIDE DONDES ET DES ASSEMBLAGES DE GUIDES DONDES 1 Domaine dapplication La prsente Norme internationale est applicable a la mthode de balayage en frque
37、nce utilise pour la mesure des pertes de rflexion dans un guide dondes et des assemblages de guides dondes. Les pertes de rflexion sont dfinies comme a, = 20 log (ui/ur) dB o ui est lamplitude de londe incidente; u, est lamplitude de londe rflchie. Les pertes de rflexion sont relies au facteur de rf
38、lexion, r, par: r = (UUi) Fondamentalement la mthode consiste a mesurer lamplitude de londe rflchie lentre du guide dondes lessai (WUT) au moyen dun rflectomtre. Londe rflchie peut tre compare londe rflchie totale en court circuit, affaiblie par un attnuateur talonn, ou elle peut tre compare londe i
39、ncidente au moyen dun rflectomtre. 2 Equipement Un montage dessai convenable est reprsent a la figure 1. Des montages quivalents de remplacement peuvent tre utiliss aprs accord entre le client et le fournisseur. a) Gnrateur balayage de frquence II convient que la vitesse de balayage soit suffisammen
40、t basse pour permettre lenregistreur de reproduire fidlement les valeurs crtes. b) isolateur Un isolateur ou un attnuateur est insr afin de prvenir un effet de londe rflchie sur le niveau de sortie du gnrateur. c) Filtre passe-bas Le filtre passe-bas ou le filtre passe-bande est insr afin dliminer l
41、es frquences harmoniques parasites. d) eflectomtre (coupleur ou pont) La directivit effective du rflectomtre (avec adapteur standard) devra tre suprieure dau moins 10 dB la valeur a mesurer. 1580 0 IEC:1995 -5- MEASUREMENT OF RETURN LOSS ON WAVEGUIDE AND WAVEGUIDE ASSEMBLIES 1 scope This Internation
42、al Standard is applicable to the sweep frequency method used for the measurement of return loss on waveguide and waveguide assemblies. Return loss is defined as , = 20 log (uIuJ dB where ui is the magnitude of the incident wave; u, is the magnitude of the reflected wave. Return loss is related to th
43、e reflection coefficient, r, by: r = (uui) (ari20) f= 10- Fundamentally the method involves measuring the amplitude of the reflected wave at the waveguide under test (WUT) input by means of a reflectometer device. The reflected wave can be compared with the total reflected wave under short-circuit c
44、onditions, attenuated by a calibrated attenuator, or it can be compared with the incident wave by means of reflectometer. 2 Equipment A suitable test Set-up is shown in figure 1. Alternative equivalent Set-ups can be used by agreement between customer and supplier. a) Sweep generator The sweep rate
45、should be slow enough to allow the strip chart recorder to reproduce the peak values faithfully. b) Isolator An isolator or an attenuator is included to prevent reflected waves affecting the output level of the generator. c) Low-pass filter The low-pass filter or the band-pass filter is included to
46、eliminate spurious harmonic frequencies. d) Reflectometer device (coupler or bridge) The effective directivity of the reflectometer (with standard adaptor) should be at feast 10 dB greater than the value to be measured. -6- balayagede - 4- - - Gnrateur frquence RF 5 1580 0 CEI:1995 WUT - e) Terminai
47、son Une charge avec des pertes de rflexion au moins suprieures de 10 dB la valeur mesurer. f) Attnuafeurs talonns Les attnuateurs doivent tre talonns dans la bande de frquences de travail. g) Analyseur damplitude 3 Montage dessai Selon lapplication, un montage dessai tel que celui de la figure 1 peu
48、t tre utilis. Frquence- mtre passe bande Dtecteurs Attnuateur # Analyseur damplitude et/ou enregistreur L I CU 943m Figure 1 - Montage dessai NOTE - Lexactitude de limpdance du systme, la directivit et ladaptation de la source aux analyseurs de rseaux automatiques (ANA) dpendent exclusivement des talons externes de rfrence qui lui sont connects durant la phase de calibrage. Une directivit meilleure que 40 dB et une adaptation de la source avec r 10,OI ne sont pas possibles avec les instruments dusage courant. De plus, si des cbles doivent
