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    IEC 60654-1-1993 Industrial-process measurement and control equipment operating conditions part 1 climatic conditions《工业过程测量和控制设备 运行条件 第1部分 气候条件》.pdf

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    IEC 60654-1-1993 Industrial-process measurement and control equipment operating conditions part 1 climatic conditions《工业过程测量和控制设备 运行条件 第1部分 气候条件》.pdf

    1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 654-1 Deuxime dition Second edition 1993-02 Matriels de mesure et de commande dans les processus industriels - Conditions de fonctionnement - Partie 1 : Conditions climatiques Industrial-process measurement and control equipment - Operating conditi

    2、ons - Part 1 : Climatic conditions Numro de rfrence Reference number CEIAEC 654-1 : 1993 Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est cons- tamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirma

    3、tion de la publication sont disponibles auprs du Bureau Central de la CEI. Les renseignements relatifs ces rvisions, ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CE1 et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CE1 Annuaire de la CE1

    4、Publi annuellement Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement Terminologie En ce qui conceme la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 50: Vocabulaire flectrotechnique Inter- national (VEI), qui se prsente sous forme de chapitres spars traitant chacu

    5、n dun sujet dfini. Des dtails complets sur le VE1 peuvent tre obtenus sur demande. Voir galement le dictionnaire multilingue de la CEI. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente publi- cation ont t soit tirs du VEI, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Symboles graphiqu

    6、es et littraux Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera: - la CE1 27: Symboles littraux a utiliser en lectro- technique; - la CE1 417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feui

    7、lles individuelles; - la CE1 61 7: Symboles graphiques pour schmas; et pour les appareils lectromdicaux, - lectriques en pratique mdicale. la CE1 878: Symboles graphiques pour quipements Les symboles et signes contenus dans la prsente publi- cation ont t soit tirs de la CE1 27, de la CE1 417, de la

    8、CE1 617 eou de la CE1 878, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Publications de la CE1 tablies par le mme comit dtudes Lattention du lecteur est attire sur les listes figurant la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CE1 prpares par le comit dtudes qui a

    9、tabli la prsente publication. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available from the I

    10、EC Central Office. Information on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: 0 IEC Bulletin IEC Yearbook Catalogue of IEC publications Published yearly Published yearly with regular updates Term in

    11、o I og y For general terminology, readers are referred to IEC 50: International Electrotechnical Vocabulary (IEV), which is issued in the form of separate chapters each dealing with a specific field. Full details of the IEV will be supplied on request. See also the IEC Multilingual Dictionary. The t

    12、erms and definitions contained in the present publi- cation have either been taken from the IEV or have been specifically approved for the purpose of this publication. Graphical and letter symbols For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are re

    13、ferred to publications: - IEC 27: Letter symbols to be used in electrical technology; - IEC 417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets; - IEC 61 7: Graphical symbols for diagrams; and for medical electrical equipment, - IEC 878: Graphical symbols

    14、for electromedical equipment in medical practice. The symbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC 27, IEC 417, IEC 617 and/or IEC 878, or have been specifically approved for the purpose of this publication. IEC publications prepared by the same technical co

    15、mmittee The attention of readers is drawn to the end pages of this publication which list the IEC publications issued by the technical committee which has prepared the present publication. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 654-1 Deuxime dition Second edition 1993-02 Matriels de mes

    16、ure et de commande dans les processus industriels - Conditions de fonctionnement - Partie 1 : Conditions climatiques Industrial-process measurement and control equipment - Operating conditions - Part 1: CI i mat ic conditions CE1 1993 Droits de reproduction rservs - Copyright - all ights reserved Au

    17、cune partie de calte publication ne peut Ure reproduite ni utilise sous queique fomw que soit et par aucun pro- cd, lectronique ou mcanique. y compris h photocopie et les microfilms. sans Iaocord crit de Idieur. No patt of this publicalion may be reproduced or utrQed in any form or by any means, ele

    18、ctronic or medianical. including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. Bureau Central de ia Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varernb Genve, Suisse R Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX international Electrotechnical Commiss

    19、ion PRICE CODE MewvHaponHan 3nempoiexecnan KOMMCCMF Pourprk, voir catalogue en vigueur For price. see current catalogue -2- SOMMAI RE 654-1 O CEI:1993 Pages AVANT-PROPOS Articles 1 Domaine dapplication . 2 Rfrences normatives . 3 Gnralits . 4 Classification des emplacements en fonction des condition

    20、s climatiques . 4.1 Emplacements a air conditionn (Classe A) 4.2 Emplacements ferms chauffs et/ou rfrigrs (Classe B) 4.3 Emplacements abrits (Classe C) . 4.4 Emplacements extrieurs (Classe D) 4.5 Agents des conditions climatiques Annexe A . Climatogrammes pour les classes demplacements Figures A.l A

    21、.2 A.3 A.4 A.5 A.6 A.7 A.8 A.9 A.l O A.11 A.12 A.13 A.14 A.15 A.16 A.17 A.18 Classe demplacements Al Classe demplacements Al Classe demplacements B1 Classe demplacements B1 Classe demplacements 82 Classe demplacements 82 Classe demplacements 83 Classe demplacements 83 Classe demplacements C1 Classe

    22、demplacements C1 Classe demplacements C2 Classe demplacements C2 Classe demplacements C3 Classe demplacements C3 Classe demplacements D1 Classe demplacements D1 Classe demplacements D2 Classe demplacements D2 Prsentation 1 . Prsentation 2 . Prsentation 1 . Prsentation 2 . Prsentation 1 . ; . Prsenta

    23、tion 2 . Prsentation 1 . Prsentation 2 . Prsentation 1 . Prsentation 2 . Prsentation 1 . Prsentation 2 . Prsentation 1 . Prsentation 2 . Prsentation 1 . Prsentation 2 . Prsentation 1 . Prsentation 2 . 4 8 10 10 12 14 14 14 16 18 20 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 654-1 O IECY 9

    24、93 -3- CONTENTS Page FOREWORD 5 Clause 1 Scope 9 2 Normative references 11 3 General . 11 4 Location classes with respect to climatic conditions . 13 4.1 Air-conditioned locations (Class A) . 15 4.3 Sheltered locations (Class C) . 15 4.4 Outdoor locations (Class D) . 17 4.5 Climatic condition parame

    25、ters 19 4.2 Heated and/or cooled enclosed locations (Class B) 15 Annex A . Climatograms for location classes 20 Figures A . 1 A.2 A.3 A.4 A.5 A.6 A.7 A.8 A.9 A.l O A.11 A.12 A.13 A.14 A.15 A.16 A.17 A.18 Location Class Al Location Class AI Location Class B1 Location Class B1 Location Class 82 Locati

    26、on Class 82 Location Class B3 Location Class B3 Location Class C1 Location Class CI Location Class C2 Location Class C2 Location Class C3 Location Class C3 Location Class D1 Location Class D1 Location Class D2 Location Class D2 Presentation 1 . Presentation 2 . Presentation 1 . Presentation 2 . Pres

    27、entation 1 . Presentation 2 . Presentation 1 . Presentation 2 . Presentation 1 . Presentation 2 . Presentation 1 . Presentation 2 . Presentation 1 . Presentation 2 . Presentation 1 . Presentation 2 . Presentation 1 . Presentation 2 . 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 -4- 654-1 O

    28、CE111 993 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE MATRIELS DE MESURE ET DE COMMANDE DANS LES PROCESSUS INDUSTRIELS - CONDITIONS DE FONCTIONNEMENT - Partie 1 : Conditions climatiques AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation comp

    29、ose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la GEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI. entre autres activits, publie des Nor

    30、mes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par Je sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collab

    31、ore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par les comits dtudes O sont reprsents tous les Comits nationau

    32、x sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examines. Ces dcisions constituent des recommandations internationales publies sous forme de normes, de rapports techniques ou de guides et agres comme telles par les Comits nationaux. D

    33、ans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CE1 et la norme nationale

    34、ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. Norme internationale CE1 654-1 a t tablie par le sous-comit 65A: Aspects systmes, du comit dtudes 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels. Cette deuxime dition annule et remplace la premire ditio

    35、n, parue en 1979, qui tait en gnral en accord avec la CE1 721. Toutefois les valeurs des svrits de certains paramtres taient diffrentes: ces divergences craient des problmes aux utilisateurs et aux constructeurs. Durant cette revision, il fut jug souhaitable de conserver les Classes A, B, C, dcrites

    36、 dans la premire dition de la CE1 654-1, en alignant les valeurs limites des paramtres denvironnement avec celles des Classes (3K1, 3K2, 3K3, 3K4, 3K5, 3K6, 3K7, 4K2, 4K3) de la CE1 721 (except pour la valeur basse de la pression atmosphrique, O la valeur de 86 kPa, tire du Guide 106 de la CE1 fut r

    37、etenue). 654-1 O IEC:l993 -5- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION INDUSTRIAL-PROCESS MEASUREMENT AND CONTROL EQUIPMENT - OPERATING CONDITIONS - Part 1 : Climatic conditions FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a world-wide organization for standardization comprisi

    38、ng all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International S

    39、tandards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The I

    40、EC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by technical committees on which all the National

    41、 Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. They have the form of recommendations for international use published in the form of standards, technical reports or guides and they are ac

    42、cepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and

    43、 the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 3) This International Standard IEC 654-1 has been prepared by sub-committee 65A: System aspects, of IEC technical committee 65: Industrial-process measurement and control. This second edition cancels and repla

    44、ces the first edition published in 1979, which was in general in agreement with IEC 721. However some parameter values differed: these divergences created problems for users as well as manufacturere. During the process of revision it was deemed advisable to keep the Classes A, 6, C, described in the

    45、 first edition of IEC 654-1, but to align the (limit) values of the environ- mental parameters with those of Classes (3K1, 3K2, 3K3, 3K4, 3K5, 3K6, 3K7, 4K2, 4K3) in IEC 721 (except for the low air pressure, where the more realistic value of 86 kPa, taken from IEC Guide 106, was used). -6- 654-1 O C

    46、EI:1993 DIS 65A( BC)31 Par ailleurs, pour les Classes A, B, et C (correspondant des emplacements intrieurs) de la premire dition de ia CE1 654-1, la temprature tait dfinie comme la temprature de lair ambiant, alors que pour la Classe D (correspondant des emplacements extrieurs) la temprature haute t

    47、ait dfinie comme la temprature de la surface du mat- riel. Ceci ntait pas tres cohrent, dautant plus que pour la Classe D lon ne pouvait plus se rfrer la CE1 721-3. La prsente dition dfinit donc les tempratures hautes comme les tempratures de lair ambiant et non comme les tempratures de surface du m

    48、atriel. Rapport de vote 65A(BC)36 Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette publication. , Lannexe A est donne uniquement titre dinformation. 654-1 O IEC:1993 -7- DIS 65A(C0)3 1 In addition in the first edition of IEC 654-1, for Classes A, B and C (corresponding to indoor locations) temperature was defined as the ambient air temperature, where as for Class D (corresponding to outdoor locations) the high temperature was defined as the surface temperatu


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