1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60580Deuxime ditionSecond edition2000-01Appareils lectromdicaux Radiamtres de produit exposition-surfaceMedical electrical equipment Dose area product metersNumro de rfrenceReference numberCEI/IEC 60580:2003Copyright International Electrotechnical Commis
2、sion Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editions consolidesLes
3、 versions consolides de certaines publications de laCEI incorporant les amendements sont disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquentrespectivement la publication de base, la publication debase incorporant lamendement 1, et la publication debase incorporant les amendements 1
4、 et 2.Informations supplmentairessur les publications de la CEILe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publ
5、ications de la CEI(voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions,amendements et corrigenda. Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues, sontgalement disponibles par lintermdiai
6、re de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEILe catalogue en ligne sur le site web de la CEI(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permetde faire des recherches en utilisant de nombreuxcritres, comprenant des recherches textuelles, parcomit dtudes ou date de publ
7、ication. Desinformations en ligne sont galement disponibles surles nouvelles publications, les publications rempla-ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)est aussi disponible par courr
8、ier lectronique.Veuillez prendre contact avec le Service client(voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clientsSi vous avez des questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires, prenez contact avec le Serviceclients:Email: custserviec.chTl: +41 22 919 0
9、2 11Fax: +41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 January 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 series. Forexample, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications. For example, edi
10、tion numbers 1.0, 1.1and 1.2 refer, respectively, to the base publication,the base publication incorporating amendment 1 andthe base publication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC, t
11、hus ensuring thatthe content reflects current technology. Informationrelating to this publication, including its validity, isavailable in the IEC Catalogue of publications(see below) in addition to new editions, amendmentsand corrigenda. Information on the subjects underconsideration and work in pro
12、gress undertaken by thetechnical committee which has prepared thispublication, as well as the list of publications issued,is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) ena
13、blesyou to search by a variety of criteria including textsearches, technical committees and date ofpublication. On-line information is also availableon recently issued publications, withdrawn andreplaced publications, as well as corrigenda. IEC Just PublishedThis summary of recently issued publicati
14、ons(http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)is also available by email. Please contact theCustomer Service Centre (see below) for furtherinformation. Customer Service CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance, pleasecontact the Customer Service Ce
15、ntre:Email: custserviec.chTel: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00.Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60580Deuxime d
16、itionSecond edition2000-01Appareils lectromdicaux Radiamtres de produit exposition-surfaceMedical electrical equipment Dose area product metersPour prix, voir catalogue en vigueurFor price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de c
17、ette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et lesmicrofilms, sans laccord crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized in anyform or by any means, electronic or mech
18、anical, includingphotocopying and microfilm, without permission in writing fromthe publisher.International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.chCODE PRIXPRICE
19、 CODE VCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,- 2 60580 CEI:2003SOMMAIREAVANT-PROPOS
20、. 6INTRODUCTION .101 Domaine dapplication et objet 122 Rfrences normatives .123 Terminologie et dfinitions144 Prescriptions gnrales 264.1 Prescriptions de performance 264.2 DOMAINES UTILES minimaux de PRODUIT EXPOSITION-SURFACE et de DBITDE PRODUIT EXPOSITION-SURFACE 264.3 Plan de mesurage264.4 VALE
21、URS DE RFRENCE et CONDITIONS DESSAI NORMALISES264.5 Conditions gnrales dessai .264.5.1 CONDITIONS DESSAI NORMALISES264.5.2 Essai des composants .284.5.3 TEMPS DE STABILISATION 284.5.4 Rglages en cours dessai .284.5.5 Uniformit du champ de rayonnement284.6 Fluctuations statistiques 304.7 Incertitude
22、de la mesure 304.8 Rgles de construction lies aux performances .304.8.1 Affichage .304.8.2 Indication dun dfaut de tension de polarisation324.8.3 Dpassement de ltendue de mesure .324.8.4 Indication de rinitialisation ou autre tat dinactivit .324.8.5 CHAMBRE DIONISATION 324.9 CONTROLEUR DE CONSTANCE3
23、44.10 Rglage.344.11 Scurit lectrique.345 Limites des CARACTRISTIQUES DE PERFORMANCE sous CONDITIONS DESSAINORMALISES.345.1 ERREUR INTRINSQUE RELATIVE 345.2 Fonction dalarme 365.3 Rptabilit .365.4 POUVOIR DE RSOLUTION de lecture 385.5 TEMPS DE STABILISATION385.6 Rinitialisation des plages de PRODUIT
24、EXPOSITION-SURFACE.385.7 Drive des VALEUR INDIQUES.385.8 Stabilit long terme.405.9 TEMPS DE RPONSE .405.10 Uniformit spatiale de la RPONSE426 LIMITES DE VARIATION pour les effets des GRANDEURS DINFLUENCE426.1 Dpendance de lnergie de la RPONSE 426.2 Dpendance des mesures de PRODUIT EXPOSITION-SURFACE
25、 du DBIT DEPRODUIT EXPOSITION-SURFACE .426.2.1 ENSEMBLE DE MESURAGE426.2.2 CHAMBRE DIONISATION pertes de recombinaison 42Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-60580 IE
26、C:2003 3 CONTENTSFOREWORD 7INTRODUCTION .111 Scope and object 132 Normative references133 Terminology and definitions 154 General requirements .274.1 Performance requirements.274.2 Minimum EFFECTIVE RANGES of DOSE AREA PRODUCT and DOSE AREA PRODUCTRATE 274.3 Plane of measurement.274.4 REFERENCE VALU
27、ES and STANDARD TEST CONDITIONS274.5 General test conditions 274.5.1 STANDARD TEST CONDITIONS.274.5.2 Test of components .294.5.3 STABILIZATION TIME294.5.4 Adjustments during test .294.5.5 Uniformity of radiation field 294.6 Statistical fluctuations314.7 Uncertainty of measurement 314.8 Construction
28、al requirements as related to performance .314.8.1 Display 314.8.2 Indication of polarizing voltage failure 334.8.3 Over-ranging334.8.4 Indication of reset or other inactive condition .334.8.5 IONIZATION CHAMBER .334.9 STABILITY CHECK DEVICE 354.10 Adjustment 354.11 Electrical safety .355 Limits of
29、PERFORMANCE CHARACTERISTICS under STANDARD TEST CONDITIONS 355.1 RELATIVE INTRINSIC ERROR.355.2 Warning function375.3 Repeatability375.4 RESOLUTION of reading .395.5 STABILIZATION TIME395.6 Reset on DOSE AREA PRODUCT ranges.395.7 Drift of INDICATED VALUES .395.8 Long term stability .415.9 RESPONSE T
30、IME.415.10 Spatial uniformity of RESPONSE.436 LIMITS of VARIATION for effects of INFLUENCE QUANTITIES .436.1 Energy dependence of RESPONSE.436.2 DOSE AREA PRODUCT RATE dependence of DOSE AREA PRODUCT measurements436.2.1 MEASURING ASSEMBLY .436.2.2 IONIZATION CHAMBER Recombination losses .43Copyright
31、 International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,- 4 60580 CEI:20036.3 DURE DIRRADIATION 446.4 Taille du champ .446.5 Tension de fonctionnement446.6 Pression dair 466.7 Temprature et humid
32、it466.8 Fluctuation de la densit de lair dans la CHAMBRE DIONISATION .466.9 Compatibilit lectromagntique486.9.1 Gnralits 486.9.2 Dcharges lectrostatiques486.9.3 Champs lectromagntiques rayonns.486.9.4 Perturbations conduites induites par les salves et les hautesfrquences.506.9.5 Ondes de choc.506.9.
33、6 Creux de tension, coupures brves et VARIATIONS de tension .506.10 INCERTITUDE NORMALE COMBINE .507 Marquage .507.1 ENSEMBLE DE MESURAGE .507.2 CHAMBRE DIONISATION 528 DOCUMENTS DACCOMPAGNEMENT52Bibliographie.62Index des termes dfinis .64Tableau 1 PLAGES EFFECTIVES minimales . 54Tableau 2 VALEURS D
34、E RFRENCE et CONDITIONS DESSAI NORMALISES. 56Tableau 3 Nombre de lectures requises pour dtecter des diffrences vraies (niveau de confiance de 95 %) entre deux groupes de lectures de linstrument 56Tableau 4 ERREUR INTRINSQUE RELATIVE, I. 58Tableau 5 Valeurs maximales pour le COEFFICIENT DE VARIATION,
35、 Vmax. 58Tableau 6 LIMITES DE VARIATION pour les effets des GRANDEURS DINFLUENCE 58Tableau 7 Exemple pour lestimation de LINCERTITUDE NORMALE COMBINE 60Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted with
36、out license from IHS-,-60580 IEC:2003 5 6.3 IRRADIATION TIME 456.4 Field size.456.5 Operating voltage 456.6 Air pressure.476.7 Temperature and humidity .476.8 Air density fluctuation in the IONIZATION CHAMBER .476.9 Electromagnetic compatibility 496.9.1 General496.9.2 Electrostatic discharge.496.9.3
37、 Radiated electromagnetic fields .496.9.4 Conducted disturbances induced by bursts and high frequencies.516.9.5 Surges .516.9.6 Voltage dips, short interruptions and voltage VARIATIONS516.10 COMBINED STANDARD UNCERTAINTY 517 Marking 517.1 MEASURING ASSEMBLY .517.2 IONIZATION CHAMBER .538ACCOMPANYING
38、 DOCUMENTS .53Bibliography63Index of defined terms.65Table 1 Minimum EFFECTIVE RANGES .55Table 2 REFERENCE VALUES and STANDARD TEST CONDITIONS57Table 3 Number of readings required to detect true differences (95 % confidencelevel) between two sets of instrument readings57Table 4 RELATIVE INSTRINSIC E
39、RROR, I.59Table 5 Maximum values for the COEFFICIENT OF VARIATION, Vmax.59Table 6 LIMITS OF VARIATION for the effects of INFLUENCE QUANTITIES59Table 7 Example for assessment of the COMBINED STANDARD UNCERTAINTY61Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with I
40、ECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,- 6 60580 CEI:2003COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALEAPPAREILS LECTROMDICAUX RADIAMTRES DE PRODUIT EXPOSITION-SURFACEAVANT-PROPOS1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondial
41、e de normalisationcompose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI apour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans lesdomaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activ
42、its publie des Normesinternationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques et des Guides (ci-aprs dnomms“Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels toutComit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations in
43、ternationales,gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEIcollabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes paraccord entre les deux organisations.2) Les dcisions ou accords officiel
44、s de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesuredu possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEIintresss sont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandatio
45、ns internationales et sont agrescomme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEIsassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsablede lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qu
46、i en est faite par un quelconque utilisateur final.4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute lamesure possible, appliquer de faon transparente, les Publications de la CEI dans leurs publicationsnationales et rgionales. Toutes divergenc
47、es entre toutes Publications de la CEI et toutes publicationsnationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires.5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas saresponsabilit pour les quipements dclars conforme
48、s une de ses Publications.6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication.7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires oumandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comitsnati
