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    IEC 60512-25-1-2001 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-1 Test 25a Crosstalk ratio《电子设备用连接器 试验和测量 第25-1部分:试验25a 串扰比》.pdf

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    IEC 60512-25-1-2001 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-1 Test 25a Crosstalk ratio《电子设备用连接器 试验和测量 第25-1部分:试验25a 串扰比》.pdf

    1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60512-25-1Premire ditionFirst edition2001-07Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 25-1:Essai 25a Taux de diaphonieConnectors for electronic equipment Tests and measurements Part 25-1:Test 25a Crosstalk ratioNumro de rfrenceRef

    2、erence numberCEI/IEC 60512-25-1:2001Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editions consolidesLes versions consolides de certaines publications de laCEI incorporant les amendements sont

    3、 disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquentrespectivement la publication de base, la publication debase incorporant lamendement 1, et la publication debase incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les publications de la CEILe contenu technique des

    4、publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions,amendements et corrige

    5、nda. Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues, sontgalement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEILe catalogue

    6、en ligne sur le site web de la CEI(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire desrecherches en utilisant de nombreux critres,comprenant des recherches textuelles, par comitdtudes ou date de publication. Des informationsen ligne sont galement disponibles sur lesnouvelles publications, les publicati

    7、ons rempla-ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible parcourrier lectronique. Veuillez prendre contactavec le Service client (voir ci-dessous) pour plusdinformations. Service clientsSi vous avez de

    8、s questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires, prenez contact avec le Serviceclients:Email: custserviec.chTl: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 January 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 seri

    9、es. Forexample, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications. For example, edition numbers 1.0, 1.1and 1.2 refer, respectively, to the base publication,the base publication incorporating amendment 1 andthe base pub

    10、lication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC, thus ensuring thatthe content reflects current technology. Informationrelating to this publication, including its validity, isavailable i

    11、n the IEC Catalogue of publications(see below) in addition to new editions, amendmentsand corrigenda. Information on the subjects underconsideration and work in progress undertaken by thetechnical committee which has prepared thispublication, as well as the list of publications issued,is also availa

    12、ble from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to searchby a variety of criteria including text searches,technical committees and date of publication. On-line information is also available o

    13、n recentlyissued publications, withdrawn and replacedpublications, as well as corrigenda. IEC Just PublishedThis summary of recently issued publications(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.Please contact the Customer Service Centre (seebelow) for further information. Customer Service Centr

    14、eIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance, pleasecontact the Customer Service Centre:Email: custserviec.chTel: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00.NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60512-25-1Premire ditionFirst edition2001-07Connecteurs pour quipem

    15、ents lectroniques Essais et mesures Partie 25-1:Essai 25a Taux de diaphonieConnectors for electronic equipment Tests and measurements Part 25-1:Test 25a Crosstalk ratioCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical CommissionPour prix, voir catalogue en vigueurFor price, se

    16、e current catalogue IEC 2001 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et lesmicrofilms, sans laccord crit de ldit

    17、eur.No part of this publication may be reproduced or utilized inany form or by any means, electronic or mechanical,including photocopying and microfilm, without permission inwriting from the publisher.International Electrotechnical Commission 3, rue de Varemb Geneva, SwitzerlandTelefax: +41 22 919 0

    18、300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.chCODE PRIXPRICE CODE R 2 60512-25-1 CEI.2001SOMMAIREAVANT-PROPOS 41 Gnralits.81.1 Domaine dapplication et objet .81.2 Dfinitions .82 Moyens dessai.102.1 Equipement .102.1.1 Mthode A, mesure temporelle.102.1.2 Mthode B, mesure en frquence.102.2 Mon

    19、tage 102.2.1 Agencement des conducteurs de lchantillon 122.2.2 Adaptation .122.2.3 Diaphonie 122.2.4 Montage pour la technique dinsertion 122.2.5 Technique du montage de rfrence 123 Echantillon dessai143.1 Description 143.1.1 Connecteurs sparables 143.1.2 Cordon 143.1.3 Embase .144 Procdure dessai.1

    20、44.1 Mthode A, mesure temporelle 144.2 Mthode B, mesure en frquence 185 Dtails spcifier .225.1 Pour tous les essais 225.2 Uniquement pour les mesures temporelles.225.3 Uniquement pour les mesures en frquence 225.4 Spcifications complmentaires du montage recommand dans le document derfrence.226 Docum

    21、entation dessai24Annexe A (normative) Diagrammes et schmas pour les montages et lquipement 28Annexe B (informative) Guide pratique .36Figure 1 Forme donde .26Figure A.1 Diagrammes techniques 28Figure A.2 Adaptations asymtriques30Figure A.3 Adaptations diffrentielles (symtriques)32Figure A.4 Tldiapho

    22、nie, mesure temporelle, adaptations symtriques34Tableau 1 Temps de monte recommands du systme de mesure(y compris montage et filtre)1660512-25-1 IEC:2001 3 CONTENTSFOREWORD.51 General 91.1 Scope and object.91.2 Definitions .92 Test resources112.1 Equipment .112.1.1 Method A, time domain 112.1.2 Meth

    23、od B, frequency domain112.2 Fixture.112.2.1 Specimen conductor assignments 132.2.2 Termination .132.2.3 Crosstalk .132.2.4 Insertion technique fixture132.2.5 Reference fixture technique .133 Test specimen 153.1 Description 153.1.1 Separable connectors 153.1.2 Cable assembly .153.1.3 Sockets .154 Tes

    24、t procedure .154.1 Method A, time domain 154.2 Method B, frequency domain195 Details to be specified.235.1 All tests .235.2 Time domain only 235.3 Frequency domain only235.4 Additional recommended fixture specifications by the referencing document.236 Test documentation 25Annex A (normative) Diagram

    25、s and schematics of fixtures and equipment 29Annex B (informative) Practical guidance37Figure 1 Waveform.27Figure A.1 Technique diagrams 29Figure A.2 Single-ended terminations .31Figure A.3 Differential (balanced) terminations .33Figure A.4 Far-end crosstalk, balanced terminations.35Table 1 Recommen

    26、ded measurement system rise time (including fixture and filtering) 17 4 60512-25-1 CEI.2001COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE_CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 25-1: Essai 25a Taux de diaphonieAVANT-PROPOS1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) es

    27、t une organisation mondiale de normalisation composede lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet defavoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines dellectricit et de llectronique. A cet effet,

    28、 la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales.Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par lesujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, enliaison avec la CEI, part

    29、icipent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisationInternationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations.2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesuredu possi

    30、ble, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intressssont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiscomme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou

    31、 guides et agrs comme tels par les Comitsnationaux.4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer defaon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normesnationales et rgionales. Toute diver

    32、gence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionalecorrespondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire.5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilitnest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses

    33、 normes.6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent fairelobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pourresponsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir si

    34、gnal leur existence.La Norme internationale CEI 60512-25-1 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, ducomit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pourquipements lectroniques.Le texte de cette norme est bas sur les documents suivants:FDIS Rapport de vote48B/105

    35、9/FDIS 48B/1087/RVDLe rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayantabouti lapprobation de cette norme.Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.Lannexe A fait partie intgrante de cette norme.Lannexe B est donne uniquement titre di

    36、nformation.60512-25-1 IEC:2001 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION_CONNECTORS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 25-1: Test 25a Crosstalk ratioFOREWORD1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprisingall nation

    37、al electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Thei

    38、r preparation isentrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with mayparticipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaisingwith the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates c

    39、losely with the International Organizationfor Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the twoorganizations.2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, aninternational consensus of opinion on the rel

    40、evant subjects since each technical committee has representationfrom all interested National Committees.3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the formof standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accep

    41、ted by the NationalCommittees in that sense.4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC InternationalStandards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Anydivergence between the IEC Standard and the co

    42、rresponding national or regional standard shall be clearlyindicated in the latter.5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for anyequipment declared to be in conformity with one of its standards.6) Attention is drawn to the possibility that

    43、 some of the elements of this International Standard may be the subjectof patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.International Standard IEC 60512-25-1 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors,of IEC technical committee 48: Electrom

    44、echanical components and mechanical structures forelectronic equipment.The text of this standard is based on the following documents:FDIS Report on voting48B/1059/FDIS 48B/1087/RVDFull information on the voting for the approval of this standard can be found in the report onvoting indicated in the ab

    45、ove table.This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3.Annex A forms an integral part of this standard.Annex B is for information only. 6 60512-25-1 CEI.2001Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2006. A cettedate, la publi

    46、cation sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-25-1 IEC:2001 7 The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until2006. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 8

    47、 60512-25-1 CEI.2001CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 25-1: Essai 25a Taux de diaphonie1 Gnralits1.1 Domaine dapplication et objetLa prsente partie de la CEI 60512 sapplique aux systmes dinterconnexion, tels que lesconnecteurs lectriques, les embases et les cordons.La

    48、 prsente norme dcrit des procdures dessai pour mesurer lamplitude du couplagelectrique et magntique entre une ligne dmission et une ligne induite dun systmedinterconnexion. Deux mthodes sont dcrites: lune en mesure temporelle (mthode A),lautre en mesure de frquence (mthode B) pour des transmissions asymtriques ou diff-rentielles. Des techniques dinsertion et des techniques de montage de rfrence y sont aussidcrites.1.2 DfinitionsPour les besoins de la prsente partie de la CEI 60512, le


    注意事项

    本文(IEC 60512-25-1-2001 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-1 Test 25a Crosstalk ratio《电子设备用连接器 试验和测量 第25-1部分:试验25a 串扰比》.pdf)为本站会员(bonesoil321)主动上传,麦多课文档分享仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知麦多课文档分享(点击联系客服),我们立即给予删除!




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