1、NORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60191-2 AMENDEMENT 4 AMENDMENT 4 2001-11 CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue P Amendement 4 Normalisation mcanique des dispositifs semiconducteurs Partie 2: Dimensions Amendment 4 Mechanical st
2、andardization of semiconductor devices Part 2: Dimensions Les feuilles de cet amendement sont insrer dans la Publication 60191-2 The sheets contained in this amendment are to be inserted in Publication 60191-260191-2 Amend. 4 CEI/IEC:2001 INSTRUCTIONS POUR LINSERTION DES NOUVELLES PAGES DANS LA CEI
3、60191-2 Remplacer la page de titre existante par la nouvelle page de titre. Retirer la page 60191 IEC I existante contenant la prface et la remplacer par la nouvelle page 60191 IEC I contenant la prface lamendment 4 (2001). Chapitre I: Ajouter les nouvelles feuilles suivantes:60191 IEC I-161E - a/b/
4、c/d/e/f/g/h/i/j/k/l/m/n60191 IEC I-164E - a/b/c/d/e/f/g/h INSTRUCTIONS FOR THE INSERTION OF NEW PAGES IN IEC 60191-2 Replace the existing title page with the new title page. Remove the existing page 60191 IEC I containing the preface and insert in its place the new page 60191 IEC I containing the pr
5、eface to Amendment 4 (2001). Chapter I: Add the following new sheets:60191 IEC I-161E - a/b/c/d/e/f/g/h/i/j/k/l/m/n60191 IEC I-164E - a/b/c/d/e/f/g/hNORME INTERNATIONALE CEI IEC INTERNATIONAL STANDARD 60191-2 Premire dition First edition 1966 Modifie selon les Complments: Amended in accordance with
6、Supplement: A (1967), B (1969), C (1970), D (1971), E (1974), F (1976), G (1978), H (1978), J (1980), K (1981), L (1982), M (1983), N (1987), P (1988), Q (1990), R (1995), S (1995), T(1995), U(1997), V(1998), W(1999), X(1999), Y(2000), Z(2000) et/and Amendement/Amendment 1 (2001), 2(2001), 3(2001),
7、4(2001) Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission Normalisation mcanique des dispositifs semiconducteurs Partie 2: Dimensions Mechanical standardization of semiconductor devices Part 2: Dimensions IEC 2001 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights
8、 reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or
9、 by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission 3, rue de Varemb Geneva, Switzerland Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.chCOMMISSION LECTRO
10、TECHNIQUE INTERNATIONALE INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION PUBLICATION 191-2 PUBLICATION 191-2 NORMALISATION MCANIQUE DES DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS DEUXIME PARTIE: DIMENSIONS MECHANICAL STANDARDIZATION OF SEMICONDUCTOR DEVICES PART 2: DIMENSIONS SOMMAIRE PRAMBULE PRFACE CONCEPTION DE LA NO
11、RMALISATION MCANIQUE Chapitre 00 VALEURS RECOMMANDES POUR CER- TAINES DIMENSIONS DE DESSINS DEDISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Chapitre 0 DESSINS DENCOMBREMENTS Chapitre I TYPES DE DISPOSITIFS SEMICONDUC- TEURS GNRALEMENT MONTS DANS LES BOTIERS DU CHAPITRE I DESSINS DEMBASES. Chapitre II DESSINS DE BOTIE
12、RS Chapitre III DESSINS DE CALIBRES. Chapitre IV TABLEAUX MONTRANT LES ASSOCIA- TIONS ENTRE LES BOTIERS ET LES EMBASES . Chapitre V DESSINS OBSOLTES COMPLMENTS AUX LISTES DE CODES NATIONAUX FIGURANT SUR LES FEUILLES DES NORMES DE LA PUBLICATION 191-2 DE LA CEI SUPPRESSIONS DANS LES LISTES DE CODES N
13、ATIONAUX FIGURANT SUR LES FEUILLES DE NORMES DE LA PUBLICATION 191-2 DE LA CEI CONTENTS FOREWORD PREFACE PHILOSOPHY OF MECHANICAL STAN- DARDIZATION Chapter 00 RECOMMENDED VALUES FOR CERTAIN DIMENSIONS OF DRAWINGS OF SEMI- CONDUCTOR DEVICES . Chapter 0 DEVICE OUTLINE DRAWINGS Chapter I TYPES OF SEMIC
14、ONDUCTOR DEVICES GENERALLY MOUNTED IN THE PACKAGES OF CHAPTER I BASE DRAWINGS. Chapter II CASE OUTLINE DRAWINGS. Chapter III GAUGE DRAWINGS . Chapter IV TABLES SHOWING ASSOCIATIONS BE- TWEEN CASE OUTLINES AND BASES Chapter V OBSOLETE DRAWINGS ADDITIONS TO THE LISTS OF NATIONAL CODES APPEARING ON THE
15、 STANDARD SHEETS OF IEC PUBLICATION 191-2 DELETIONS TO THE LISTS OF NATIONAL CODES APPEARING ON THE STANDARD SHEETS OF IEC PUBLICATION 191-2 Publication CEI 191-2 Date: 1987 IEC Publication 191-2 Date: 198760191-2 amend. 4 CEI/IEC:2001 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ Amendement 4 (2001)
16、la CEI 60191-2 (1966) NORMALISATION MCANIQUE DES DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Partie 2: Dimensions AVANT-PROPOS 1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI).
17、 La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desqu
18、els tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des c
19、onditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque co
20、mit dtudes. 3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits n
21、ationaux de la CEI sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dan
22、s cette dernire. 5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. 6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent f
23、aire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. PRFACE LAMENDEMENT 4 (2001) Le prsent amendement a t tabli par le sous-comit 47D: Normalis
24、ation mcanique des dispositifs semiconducteurs du comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 47D/448/FDIS 47D/449/FDIS 47D/467/RVD 47D/468/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute in
25、formation sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. 60191-2 IEC I Date: 2001 Publication IEC 60191-260191-2 Amend. 4 CEI/IEC:2001 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ Amendment 4 to IEC 60191-2 (1966) MECHANICAL STANDARDIZATION OF SEMICONDUCTOR DEVICES Part 2: Dimensions FOREWORD
26、1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the elec
27、trical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, g
28、overnmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal dec
29、isions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested National Committees. 3) The documents produced have the form of recommendations fo
30、r international use and are published in the form of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standar
31、ds transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot
32、 be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. 6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all s
33、uch patent rights. PREFACE TO AMENDMENT 4 (2001) This amendment has been prepared by subcommittee 47D: Mechanical standardization of semiconductor devices of IEC technical committee 47: Semiconductor devices. The text of this standard is based on the following documents: FDIS Report on voting 47D/44
34、8/FDIS 47D/449/FDIS 47D/467/RVD 47D/468/RVD Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. 60191-2 IEC I Date: 2001 Publication IEC 60191-260191-2 CEI:1987 CHAPITRE 00 CONCEPTION DE LA NORMALISATION MCANIQUE 1. Rgle
35、s fondamentales Lors de la runion tenue Montreux (juin 1981), le Comit dEtudes n 47 adopta les rgles fondamentales suivantes qui remplacent celles adoptes Copenhague en octobre 1962: A. Toute proposition nouvelle devra tre soumise ltude prliminaire dun groupe de travail convenablement qualifi (note
36、1) avant circulation dans un document Secrtariat. B. Le groupe de travail qualifi devra tudier les nouvelles propositions avec les objectifs suivants: 1. Aboutir une normalisation active en nacceptant que les botiers qui sont soutenus inter- nationalement. 2. Spcifier de faon prcise les dimensions e
37、n vue dassurer linterchangeabilit et de faciliter les manipulations automatiques. 3. Reconsidrer continuellement les dessins existants et proposer la suppression de ceux qui ne sont plus soutenus. C. Il ne sera procd la discussion dun dessin de botier que sil a le soutien pralable dau moins trois pa
38、ys. D. Un dessin ne sera introduit dans la Publication 191-2 de la CEI que si au moins trois des pays qui le soutiennent ont fourni leur numro de code national (ou exprim un soutien formel sils ne possdent pas de numro de code). Notes 1. Lors de la runion du Comit dEtudes n 47 Orlando (fvrier 1980),
39、 il a t admis dtendre le domaine dactivit du GT7 de faon quil couvre aussi bien la normalisation mcanique des semic onducteurs discrets que celle des circuits intgrs. Il a t galement admis que, compte tenu de llargissement de son domaine dactivit, le GT7 serait le groupe de travail qualifi mentionn
40、dans le paragraphe A. En vue dviter que lintroduction du GT7 dans le processus suivi par le Comit dEtudes n 47 pour prparer des documents secrtariat sur la normalisation mcanique provoque des dlais supplmentaires, le GT7 a t autoris obtenir de la part des trois pays concerns, ou plus, la confirmatio
41、n directe du maintien de leur appui pour ces propositions. 2. Lors de la runion du Comit dEtudes n 47 Montreux (juin 1981), il a t admis que les runions du GT7 sintgreraient dans les runions du Comit dEtudes n 47. Cependant, certaine propositions peuvent ncessiter un temps dtudes dpassant la dure du
42、ne runion du Comit dEtudes n 47 et en consquence requrir une ou plusieurs runions du GT7 entre deux runions conscutives du Comit dEtudes n 47. Lors de la runion tenue Moscou (juin 1977), le Comit dEtudes n 47 adopta la rgle suivante: Lorsquun dessin de la Publication 191-2 de la CEI vient ne plus tr
43、e soutenu que par un seul pays, il sera retir de la publication principale et transfr dans une section spare intitule Dessins obsoltes avec lindication de la date de transfert sur la feuille particulire correspondante. Un avertissement au dbut de la section dvolue aux dessins obsoltes stipulera qu l
44、expira- tion dune priode de deux ans compter de sa date de transfert, le dessin sera supprim, sauf sil est soutenu par un autre pays dans lintervalle. Date: 1987 60191 IEC 00-1 Publication CEI 60191-260191-2 Amend. 4 CEI/IEC:2001 CHAPITRE I DESSINS DENCOMBREMENTS CHAPTER I DEVICE OUTLINE DRAWINGS Li
45、ste des dessins (suite) List of drawings (continued) Numro de code CEI Code du pays dorigine Numro de page et date IEC code number Code of country of origin Page number and date A29MB(3T) A29MB(2T) A30U A30M A31U A31M A32 A34U A34M A35MA A35MB A36 A37MA A37MB A38MA A38MB A39MA A39MB A40 A41 A42 A43
46、A44/45 207A4 KT12P1 TO-59 TO-59/F91M TO-60 TO-60/F89M SO-58 TO-109 SC-31 SC-30 BK2-100 NT-30 SC-32A SC-32B SC-33A SC-33B 201A3 201B3 10B3 KT13 50B3 KT-14 34A3 I-29a/b I-29a/b I-30a/b I-30a/b I-31a/b I-31a/b I-32 I-34a/b I-34a/b I-35a/b I-35a/b I-36 I-37a/b I-37a/b I-38a/b I-38a/b I-39a/b I-39a/b I-4
47、0 I-41 I-42 I-43 I-44/45 1971 1971 1970 1970 1980 1980 1971 1971 1971 1971 1971 1971 1971 1971 1976 1976 1971 1971 1974 1980 1974 1980 1974 A29MB(3T) A29MB(2T) A30U A30M A31U A31M A32 A34U A34M A35MA A35MB A36 A37MA A37MB A38MA A38MB A39MA A39MB A40 A41 A42 A43 A44/45 207A4 KT12P1 TO-59 TO-59/F91M T
48、O-60 TO-60/F89M SO-58 TO-109 SC-31 SC-30 BK2-100 NT-30 SC-32A SC-32B SC-33A SC-33B 201A3 201B3 10B3 KT13 50B3 KT-14 34A3 I-29a/b I-29a/b I-30a/b I-30a/b I-31a/b I-31a/b I-32 I-34a/b I-34a/b I-35a/b I-35a/b I-36 I-37a/b I-37a/b I-38a/b I-38a/b I-39a/b I-39a/b I-40 I-41 I-42 I-43 I-44/45 1971 1971 1970 1970 1980 1980 1971 1971 1971 1971 1971 1971 1971 1971 1976 1976 1971 1971 1974 1980 1974 1980 1974 A46 remplac par 046E01 A46 superseded by 046E01 A47MA A47MB A47MC A48M A48U A49 KT5P1 205A4 205B4 KT-5, KT-7 TO
