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    IEC 60191-2 AMD 19-2012 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2 Dimensions Amendment 19《半导体器件的机械标准化.第2部分 尺寸规格.修改件19》.pdf

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    IEC 60191-2 AMD 19-2012 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2 Dimensions Amendment 19《半导体器件的机械标准化.第2部分 尺寸规格.修改件19》.pdf

    1、 IEC 60191-2 Edition 1.0 2012-10 INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALE Mechanical standardization of semiconductor devices Part 2: Dimensions Normalisation mcanique des dispositifs semiconducteurs Partie 2: Dimensions IEC 60191-2:1966/A19:2012 AMENDMENT 19 AMENDEMENT 19 The sheets contained in

    2、 this amendment are to be inserted in IEC 60191-2 Les feuilles de cet amendement sont insrer dans la CEI 60191-2 THIS PUBLICATION IS COPYRIGHT PROTECTED Copyright 2012 IEC, Geneva, Switzerland All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized

    3、in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or IECs member National Committee in the country of the requester. If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional ri

    4、ghts to this publication, please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information. Droits de reproduction rservs. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun p

    5、rocd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de la CEI ou du Comit national de la CEI du pays du demandeur. Si vous avez des questions sur le copyright de la CEI ou si vous dsirez obtenir des droits supplmentaires sur cette publication, utilisez les coo

    6、rdonnes ci-aprs ou contactez le Comit national de la CEI de votre pays de rsidence. IEC Central Office Tel.: +41 22 919 02 11 3, rue de Varemb Fax: +41 22 919 03 00 CH-1211 Geneva 20 infoiec.ch Switzerland www.iec.ch About the IEC The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading gl

    7、obal organization that prepares and publishes International Standards for all electrical, electronic and related technologies. About IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the latest edition, a corrigenda or

    8、 an amendment might have been published. Useful links: IEC publications search - www.iec.ch/searchpub The advanced search enables you to find IEC publications by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,). It also gives information on projects, replaced and withdrawn public

    9、ations. IEC Just Published - webstore.iec.ch/justpublished Stay up to date on all new IEC publications. Just Published details all new publications released. Available on-line and also once a month by email. Electropedia - www.electropedia.org The worlds leading online dictionary of electronic and e

    10、lectrical terms containing more than 30 000 terms and definitions in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical Vocabulary (IEV) on-line. Customer Service Centre - webstore.iec.ch/csc If you wish to give us your feedback on thi

    11、s publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: csciec.ch. A propos de la CEI La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est la premire organisation mondiale qui labore et publie des Normes internationales pour tout ce qui a trait llectricit, llectroniq

    12、ue et aux technologies apparentes. A propos des publications CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possdez ldition la plus rcente, un corrigendum ou amendement peut avoir t publi. Liens utiles: Recherche de publications CEI - www.iec

    13、.ch/searchpub La recherche avance vous permet de trouver des publications CEI en utilisant diffrents critres (numro de rfrence, texte, comit dtudes,). Elle donne aussi des informations sur les projets et les publications remplaces ou retires. Just Published CEI - webstore.iec.ch/justpublished Restez

    14、 inform sur les nouvelles publications de la CEI. Just Published dtaille les nouvelles publications parues. Disponible en ligne et aussi une fois par mois par email. Electropedia - www.electropedia.org Le premier dictionnaire en ligne au monde de termes lectroniques et lectriques. Il contient plus d

    15、e 30 000 termes et dfinitions en anglais et en franais, ainsi que les termes quivalents dans les langues additionnelles. Egalement appel Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) en ligne. Service Clients - webstore.iec.ch/csc Si vous dsirez nous donner des commentaires sur cette publication

    16、ou si vous avez des questions contactez-nous: csciec.ch. IEC 60191-2 Edition 1.0 2012-10 INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALE Mechanical standardization of semiconductor devices Part 2: Dimensions Normalisation mcanique des dispositifs semiconducteurs Partie 2: Dimensions INTERNATIONAL ELECTR

    17、OTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE R ICS 31.080.01 PRICE CODE CODE PRIX ISBN 978-2-83220-384-2 Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Marque dpose de la Commission Electrotechnique Internationale Warning! Make sure that you obtained this p

    18、ublication from an authorized distributor. Attention! Veuillez vous assurer que vous avez obtenu cette publication via un distributeur agr. AMENDMENT 19 AMENDEMENT 19 The sheets contained in this amendment are to be inserted in IEC 60191-2 Les feuilles de cet amendement sont insrer dans la CEI 60191

    19、-2 60191-2 Amend. 19 CEI/IEC:2012 INSTRUCTIONS POUR LINSERTION DES NOUVELLES PAGES DANS LA CEI 60191-2 Remplacer la page de titre existante par la nouvelle page de titre. Retirer la page 60191 IEC I existante contenant la prface et la remplacer par la nouvelle page 60191 IEC I contenant la prface la

    20、mendement 19 (2012). Chapitre I: Ajouter les nouvelles feuilles suivantes: 60191 IEC I-184B-a/b/c/d/e/f 60191 IEC I-185B-a/b/c 60191 IEC I-186F-a/b/c 60191 IEC I-187E-a/b/c INSTRUCTIONS FOR THE INSERTION OF NEW PAGES IN IEC 60191-2 Replace the existing title page with the new title page. Remove the

    21、existing page 60191 IEC I containing the preface and insert in its place the new page 60191 IEC I containing the preface to Amendment 19 (2012). Chapter I: Add the following new sheets: 60191 IEC I-184B-a/b/c/d/e/f 60191 IEC I-185B-a/b/c 60191 IEC I-186F-a/b/c 60191 IEC I-187E-a/b/c IEC 60191-2 Edit

    22、ion 1.0 1966 INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALE Mechanical standardization of semiconductor devices Part 2: Dimensions Normalisation mcanique des dispositifs semiconducteurs Partie 2: Dimensions Includes Supplements and Amendments / Inclut les Complments et Amendements: A (1967), B (1969),

    23、C (1970), D (1971), E (1974), F (1976), G (1978), H (1978), J (1980), K (1981), L (1982), M (1983), N (1987), P (1988), Q (1990), R (1995), S (1995), T(1995), U(1997), V(1998), W(1999), X(1999), Y(2000), Z(2000), 1 (2001), 2(2001), 3(2001), 4(2001), 5(2002), 6(2002), 7(2002), 8(2003), 9(2003), 10(20

    24、04), 11(2004), 12(2006), 13(2006), 14(2006), 15(2006), 16(2007), 17(2008), 18(2011), 19(2012) IEC 60191-2:1966 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION PUBLICATION 191-2 PUBLICATION 191-2 NORMALISATION MCANIQUE DES DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS DEUXIME PARTIE

    25、: DIMENSIONS MECHANICAL STANDARDIZATION OF SEMICONDUCTOR DEVICES PART 2: DIMENSIONS SOMMAIRE PRAMBULE PRFACE CONCEPTION DE LA NORMALISATION MCANIQUE Chapitre 00 VALEURS RECOMMANDES POUR CER- TAINES DIMENSIONS DE DESSINS DE DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Chapitre 0 DESSINS DENCOMBREMENTS Chapitre I TYPE

    26、S DE DISPOSITIFS SEMICONDUC- TEURS GNRALEMENT MONTS DANS LES BOTIERS DU CHAPITRE I DESSINS DEMBASES Chapitre II DESSINS DE BOTIERS Chapitre III DESSINS DE CALIBRES . Chapitre IV TABLEAUX MONTRANT LES ASSOCIA- TIONS ENTRE LES BOTIERS ET LES EMBASES . Chapitre V DESSINS OBSOLTES COMPLMENTS AUX LISTES

    27、DE CODES NATIONAUX FIGURANT SUR LES FEUILLES DES NORMES DE LA PUBLICATION 191-2 DE LA CEI SUPPRESSIONS DANS LES LISTES DE CODES NATIONAUX FIGURANT SUR LES FEUILLES DE NORMES DE LA PUBLICATION 191-2 DE LA CEI CONTENTS FOREWORD PREFACE PHILOSOPHY OF MECHANICAL STAN- DARDIZATION . Chapter 00 RECOMMENDE

    28、D VALUES FOR CERTAIN DIMENSIONS OF DRAWINGS OF SEMI- CONDUCTOR DEVICES Chapter 0 DEVICE OUTLINE DRAWINGS . Chapter I TYPES OF SEMICONDUCTOR DEVICES GENERALLY MOUNTED IN THE PACKAGES OF CHAPTER I BASE DRAWINGS . Chapter II CASE OUTLINE DRAWINGS Chapter III GAUGE DRAWINGS . Chapter IV TABLES SHOWING A

    29、SSOCIATIONS BE- TWEEN CASE OUTLINES AND BASES Chapter V OBSOLETE DRAWINGS ADDITIONS TO THE LISTS OF NATIONAL CODES APPEARING ON THE STANDARD SHEETS OF IEC PUBLICATION 191-2 DELETIONS TO THE LISTS OF NATIONAL CODES APPEARING ON THE STANDARD SHEETS OF IEC PUBLICATION 191-2 Publication CEI 191-2 Date:

    30、1987 IEC Publication 191-2 Date: 1987 60191-2 Amend. 19 CEI/IEC:2012 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ Amendement 19 (2012) la CEI 60191-2 (1966) NORMALISATION MCANIQUE DES DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Partie 2: Dimensions AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI)

    31、est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet e

    32、ffet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tou

    33、t Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditio

    34、ns fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque

    35、 comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la C

    36、EI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente

    37、 les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI elle-mme ne fournit aucune attestation

    38、 de conformit. Des organismes de certification indpendants fournissent des services dvaluation de conformit et, dans certains secteurs, accdent aux marques de conformit de la CEI. La CEI nest responsable daucun des services effectus par les organismes de certification indpendants. 6) Tous les utilis

    39、ateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de l

    40、a CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la C

    41、EI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur l

    42、e fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de brevet. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de brevets et de ne pas avoir signal leur existence. PRFACE LAMENDEMENT 19 (2012) Le prsent amendement a t

    43、 tabli par le sous-comit 47D: Encapsulation des semiconducteurs, du comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: CDV Report on voting 47D/816A/CDV 47D/821/RVC Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute informati

    44、on sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. 60191-2 IEC I Date: 2012 Publication IEC 60191-2 60191-2 Amend. 19 CEI/IEC:2012 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ Amendment 19 (2012) to IEC 60191-2 (1966) MECHANICAL STANDARDIZATION OF SEMICONDUCTOR DEVICES Part 2: Dimensions FOREWO

    45、RD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co- operation on all questions concerning standardization in the elec

    46、trical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to tec

    47、hnical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Orga

    48、nization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical conten


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