GB T 5170.10-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 高低温低气压试验设备.pdf
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GB T 5170.10-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 高低温低气压试验设备.pdf
GB/T 5170的本部分规定了高低温低气压（含低气压、低温低气压和高温低气压）试验设备的检验项目、检验用主要仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、数据处理结果与检验结果、检验周期等内容。本部分适用于对GB/T 2423.21电工电子产品基本环境试验规程 试验M：低气压试验方法 、GB/T 2423.25电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM:低温/低气压综合试验方法和GB/T 2423.26电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM:高温/低气压综合试验方法所用试验设备的首次检验/验收检验和周期检验。本部分也适用于类似试验设备的检验。
