GB T 2423.27-2005 试验Z-AMD：低温低气压湿热连续综合 试验.pdf
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GB T 2423.27-2005 试验Z-AMD：低温低气压湿热连续综合 试验.pdf
本部分规定了低温/低气压/湿热综合顺序试验设备在进行周期检定时的检定项目、检定用主要仪器及要求、检定条件、测量点数量及布放位置、检定步骤、数据处理及检定结果等内容。本部分适用于对GB/T 2423.27-2005电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法所用试验设备的周期检定。本部分也适用于类似试验设备的周期检定。
